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    • 52. 发明申请
    • CLOCK GENERATOR
    • 时钟发生器
    • WO2008095975A1
    • 2008-08-14
    • PCT/EP2008/051494
    • 2008-02-07
    • TEXAS INSTRUMENTS LIMITEDPICKERING, Andrew
    • PICKERING, Andrew
    • H03K5/135H03K5/151H03M1/06
    • H03K5/1515H03K5/135
    • The present invention provides a data capture circuit, such as an analogue-digital converter (ADC), with a first latch having an input for receiving a data input signal; a first sense amplifier having an input coupled to an output of the first latch; a second latch having an input coupled to the output of the first sense amplifier and an output providing a first data output; and a clock generator, the clock generator comprising: a third latch having an input for receiving a first clock signal; a second sense amplifier having an input coupled to an output of said third latch; and a fourth latch having an input coupled to an output of said second sense amplifier and an output providing a first adjusted clock signal, wherein said first and third latches are substantially the same, the first and second sense amplifier are substantially the same and the second and fourth latches are substantially the same.
    • 本发明提供了一种诸如模数转换器(ADC)的数据采集电路,其中第一锁存器具有用于接收数据输入信号的输入端; 第一读出放大器,具有耦合到第一锁存器的输出的输入; 第二锁存器,其具有耦合到所述第一读出放大器的输出的输入端和提供第一数据输出的输出; 以及时钟发生器,所述时钟发生器包括:第三锁存器,具有用于接收第一时钟信号的输入; 第二读出放大器,具有耦合到所述第三锁存器的输出的输入; 以及第四锁存器,其具有耦合到所述第二读出放大器的输出的输入端和提供第一调整时钟信号的输出,其中所述第一和第三锁存器基本相同,所述第一和第二读出放大器基本上相同, 第四锁存器基本相同。
    • 55. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR VERARBEITUNG VON OFFSET-BEHAFTETEN SENSORSIGNALEN SOWIE FÜR DIE DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS AUSGEBILDETE SENSORANORDNUNG
    • 一种用于处理偏移造成的传感器信号以及实施过程中受过训练的传感器装置
    • WO2008006337A1
    • 2008-01-17
    • PCT/DE2007/001157
    • 2007-06-29
    • FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.HACKNER, MichaelHOHE, Hans-Peter
    • HACKNER, MichaelHOHE, Hans-Peter
    • H03M3/00H03M1/06G01R33/07H01L43/04H03F3/45
    • G01R33/07G01R33/075H01L43/04H03F3/3022H03F3/387H03F3/393H03F3/45744H03F3/45968H03F2200/261H03F2203/45212
    • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Sensor-Anordnung zur Verarbeitung von mit einem Offset-behafteten Sensor-Signalen eines Sensors (6), der in mehreren Messzyklen mit aufeinander folgenden Phasen mit unterschiedlicher Ansteuerung betrieben wird. Bei dem vorliegenden Verfahren werden vor der Verstärkung durch eine Modulation (1) die Sensorsignale von n Phasen jedes Messzyklus mit negativem Vorzeichen und die Sensorsignale der verbleibenden n Phasen des Messzyklus mit positivem Vorzeichen gewichtet. Von den Sensor-Signalen von jeweils zwei der Phasen, die mit unterschiedlichem Vorzeichen gewichtet wurden und nach der Modulation (1) einen Offset gleichen Vorzeichens aufweisen, wird vor der Verstärkung ein aus den Sensorsignalen der zwei Phasen gemittelter Offset abgezogen. Durch eine Demodulation (3) nach dem Verstärker (9) und eine Summation über die digitalisierten Signale jedes Messzyklus werden die künstlich erzeugten Offsets wieder eliminiert. Das Verfahren und die zugehörige Sensor-Anordnung haben den Vorteil, dass sich der Aussteuerbereich des Verstärkers (9) sowie des für eine Digitalisierung der Signale eingesetzten Analog/Digital-Wandlers (10) wesentlich besser an die Sensorsignale anpassen lässt, so dass eine höhere Auflösung bei der Messung erreicht wird.
    • 本发明涉及一种具有传感器(6),其在多个具有不同驱动连续阶段测量周期的操作的偏移影响的传感器的信号进行处理的方法和传感器装置。 在本过程中的每个测量周期的n个相位的传感器信号被加权带负号和由调制(1)扩增之前正号测量周期的其余的n相的传感器信号。 从各相的每两个其中进行了加权不同符号的,并且调制后(1)具有相同符号的偏移的传感器信号,被扩增之前去除,一个从两个相的传感器信号的平均偏移量。 由解调(3)所述放大器(9)和每个测量周期的数字化的信号的总和的,偏移生成人工再次消除。 该方法和相关联的传感器装置是放大器(9)和所述动态范围的用于信号A / D转换器(10)的数字化可以适于好得多的传感器信号的优点,使得更高分辨率的 在测量得以实现。
    • 58. 发明申请
    • USING A PARAMETRIC MEASUREMENT UNIT FOR CONVERTER TESTING
    • 使用参数测量单元进行转换器测试
    • WO2006071635A3
    • 2006-11-02
    • PCT/US2005046132
    • 2005-12-16
    • TERADYNE INCWALKER ERNEST PSARTSCHEV RONALD A
    • WALKER ERNEST PSARTSCHEV RONALD A
    • H03M1/10H03M1/06
    • H03M1/1071
    • In one aspect, the invention is an integrated circuit (IC) for use in testing an analog-to-digital (ADC) converter includes a first channel of a parametric measurement unit (PMU) configured to send a force signal to the ADC. The IC also includes a first digital-to-analog converter (DAC) connected to the first channel of the PMU. The DAC has a DC level of accuracy of less than 1 millivolt.In another aspect, the invention is an integrated circuit (IC) for use in testing a digital-to-analog-converter-device-under-test (DACDUT). The IC includes a first channel of a parametric measurement unit (PMU) configured to send a force signal to the DACDUT and including an output port for taking measurements, a first digital-to-analog converter (DAC) connected to the first channel of the PMU and a PMU measurement path connected to the output port having a DC level of accuracy of less than 1 mV.
    • 一方面,本发明是用于测试模数(ADC)转换器的集成电路(IC),包括被配置为向ADC发送强制信号的参数测量单元(PMU)的第一通道。 该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一个数模转换器(DAC)。 DAC具有小于1毫伏的精度的DC电平。另一方面,本发明是用于测试数模转换器器件(DACDUT)的集成电路(IC)。 IC包括被配置为向DACDUT发送强制信号并包括用于进行测量的输出端口的参数测量单元(PMU)的第一通道,连接到第一通道的第一数模转换器(DAC) PMU和连接到具有小于1mV的精度的DC电平的输出端口的PMU测量路径。
    • 60. 发明申请
    • HIGH-SPEED AND HIGH-ACCURACY DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
    • 高速和高精度数字到模拟转换器
    • WO2006036900A1
    • 2006-04-06
    • PCT/US2005/034441
    • 2005-09-22
    • QUALCOMM INCORPORATEDSEO, Dongwon
    • SEO, Dongwon
    • H03M1/06H03F1/32
    • H03K17/04106H03M1/745
    • A high-speed, high-accuracy DAC has multiple current switches. Each current switch includes a current source that provides a reference current, first and second circuit elements that couple to the current source, and first and second transistors that couple to the first and second circuit elements, respectively. The first transistor provides the reference current to a first output when enabled, and the second transistor provides the reference current to a second output when enabled. The first and second circuit elements provide source degeneration for the first and second transistors, extend the linear operating region for these transistors, and may be implemented with either transistors that are always turned on or resistors. The first and second transistors and the first and second circuit elements may be P-channel field effect transistors (P-FETs), N-channel field effect transistors (N-FETs), or transistors of some other type.
    • 高速,高精度DAC具有多个电流开关。 每个电流开关包括提供耦合到电流源的参考电流,第一和第二电路元件以及耦合到第一和第二电路元件的第一和第二晶体管的电流源。 当使能时,第一晶体管将参考电流提供给第一输出,并且当使能时,第二晶体管将参考电流提供给第二输出。 第一和第二电路元件为第一和第二晶体管提供源极退化,扩展这些晶体管的线性工作区域,并且可以通过总是导通的晶体管或电阻来实现。 第一和第二晶体管以及第一和第二电路元件可以是P沟道场效应晶体管(P-FET),N沟道场效应晶体管(N-FET)或其他类型的晶体管。