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    • 131. 发明申请
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • WO2012144062A1
    • 2012-10-26
    • PCT/JP2011/059905
    • 2011-04-22
    • ルネサスエレクトロニクス株式会社瀬戸川 潤
    • 瀬戸川 潤
    • G11C16/06G11C16/02
    • G11C16/30
    •  半導体装置に電源を供給するための第1の電源電圧が供給される第1の電源ノードと、昇圧して第2の電源電圧に昇圧する昇圧回路(116)と、第1の電源電圧と第2の電源電圧とのうちいずれか高い方の電源電圧である第1の高電源電圧を選択する電源選択回路(150)と、基準電圧を発生する基準電圧発生回路(118)と、基準電圧を受け、前記第2の電源電圧が与えられるノードの放電処理に関係する放電動作関係回路(122)とを備える。制御不能な事態において、高電圧を動作電源電圧として利用することにより内部の放電回路および放電シーケンスの正常に動作させ、デバイス内の高電圧の電荷が放電され、記憶データおよびデバイスを保護する装置を提供することができる。
    • 该半导体装置设置有:第一电源节点,其被提供有用于向半导体器件供电的第一电源电压; 升压电路(116),其对第二电源电压进行升压; 电源选择电路(150),其选择作为所述第一电源电压的高电源电压的第一高电源电压和所述第二电源电压; 参考电压产生电路(118),其产生参考电压; 以及接收参考电压的放电操作相关电路(122),并且涉及施加第二电源电压的节点的放电处理。 提供了一种半导体器件,其中,在不可控状态下,可以使用高电压作为操作电源电压正常地操作内部放电电路和放电序列,放电该器件中的高电压电荷,并且存储数据和 设备受到保护。
    • 138. 发明申请
    • STEUERSYSTEM
    • 控制系统
    • WO2009153262A1
    • 2009-12-23
    • PCT/EP2009/057475
    • 2009-06-16
    • AFL STRIBEL PRODUCTION GMBHFLOCK, Horst
    • FLOCK, Horst
    • G11C16/22G06F13/42G11C16/12G11C16/30
    • G06F13/4291G11C16/30
    • Um ein Steuersystem umfassend einen Microcontroller und ein EEPROM zur Speicherung von Daten für den Microcontroller, derart zu verbessern, dass der Zugriff des Microcontrollers auf das EEPROM störungssicher erfolgen kann, wird vorgeschlagen, dass zwischen einer Spannungsversorgung und einem Versorgungsanschluss des EEPROM ein Schalter vorgesehen ist, welcher durch einen Steueranschluss des Microcontrollers steuerbar ist und das in dem Microcontroller eine Systemresetroutine vorgesehen ist, welche bei einem Durchlauf an dem Steueranschluss ein Unterbrechungssignal ausgibt, welches für eine Unterbrechungszeitdauer den Schalter öffnet und das EEPROM zurücksetzt.
    • 包括微控制器和用于存储数据的微控制器,以改善,使得微控制器的访问可以对EEPROM进行故障安全的EEPROM的控制系统中,提出以使开关电压源和EEPROM的供给端子之间, 这是由微控制器的控制端子和一个系统复位例程可控在微控制器中,其输出在一个通到该断开开关的时间中断周期和复位EEPROM的中断信号的控制端子被提供。
    • 140. 发明申请
    • MEMORY STRUCTURE AND METHOD OF PROGRAMMING
    • 记忆结构与编程方法
    • WO2006118636A3
    • 2009-04-16
    • PCT/US2006006420
    • 2006-02-23
    • FREESCALE SEMICONDUCTOR INCLI CHI NAN BRIAN
    • LI CHI NAN BRIAN
    • G11C16/04
    • G11C16/3454G11C16/10G11C16/30
    • A memory and a method for programming a memory device are discussed. The method comprises selecting (32) a cell to program, wherein the cell is coupled to a bit line, applying (34) a first programming pulse, wherein the first programming pulse comprises applying a first voltage to the bit line, verifying (36) if the cell is programmed after applying the first programming pulse, and applying (38) a second programming pulse to the bit line after applying the first programming pulse if the cell is not programmed after applying the first programming pulse, wherein second programming pulse comprises applying a second voltage to the bit line, wherein the second voltage is different than the first voltage.
    • 讨论了存储器和用于编程存储器件的方法。 该方法包括选择(32)要编程的单元,其中所述单元耦合到位线,施加(34)第一编程脉冲,其中所述第一编程脉冲包括向所述位线施加第一电压,验证(36) 如果在施加第一编程脉冲之后对单元进行编程,并且在施加第一编程脉冲之后,如果单元未被编程,则将第二编程脉冲施加到位线(38),其中第二编程脉冲包括应用 第二电压到位线,其中第二电压不同于第一电压。