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    • Test System
    • 测试系统
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    • Po-Yi ChenYi-Jui ChenMin-Jung WuFeng-Chi ChanKuo-Wei Chen
    • Po-Yi ChenYi-Jui ChenMin-Jung WuFeng-Chi ChanKuo-Wei Chen
    • H04B17/00
    • H04B17/0085
    • A test system for testing an electronic device is disclosed. The test system includes a signal generator for generating an input signal, a signal splitter for splitting the input signal into a first splitting signal and a second splitting signal, a micro control unit for generating a first control signal and a second control signal, a first transmission interface for transmitting the first splitting signal and the first control signal, a second transmission interface for transmitting the second splitting signal and the second control signal, and a first signal adjustment unit for transforming the first splitting signal to a first test signal for test according to the first control signal.
    • 公开了一种用于测试电子设备的测试系统。 测试系统包括用于产生输入信号的信号发生器,用于将输入信号分成第一分离信号和第二分离信号的信号分离器,用于产生第一控制信号和第二控制信号的微控制单元,第一 用于发送第一分离信号和第一控制信号的传输接口,用于发送第二分离信号和第二控制信号的第二传输接口,以及用于将第一分离信号变换为第一测试信号以进行测试的第一信号调整单元, 到第一控制信号。