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    • 9. 发明申请
    • Semiconductor memory device and memory system using same
    • 半导体存储器件和使用其的存储器系统
    • US20060184755A1
    • 2006-08-17
    • US11352009
    • 2006-02-11
    • Jung-Joon Lee
    • Jung-Joon Lee
    • G06F13/00
    • G11C7/20G11C7/1051G11C7/1066G11C7/1078G11C7/1093G11C7/22G11C7/222G11C29/02G11C29/022G11C29/023G11C29/028G11C29/50012G11C2207/2254
    • There is provided a semiconductor memory device and a memory system using the same. The semiconductor memory device includes an input data delay time adjustor for varying an input delay time, selecting one bit of a n-bit input data, delaying the selected one bit by the input delay time and outputting the delayed bit, in response to a control signal during an input data delay test operation; and an output data delay time adjustor for varying an output delay time, selecting one bit of a m-bit output data, delaying the selected one bit by the output delay time and outputting the delayed bit, in response to the control signal during an output data delay test operation, wherein the input data delay time adjustor is arranged for n-bit input data, and wherein the output data delay time adjustor is arranged for m-bit output data.
    • 提供了一种半导体存储器件和使用该半导体存储器件的存储器系统。 半导体存储器件包括用于改变输入延迟时间的输入数据延迟时间调节器,选择n位输入数据的一位,响应于控制将所选择的一位延迟输入延迟时间并输出延迟位 在输入数据延迟测试操作期间信号; 以及输出数据延迟时间调整器,用于改变输出延迟时间,选择m位输出数据的一位,响应于输出期间的控制信号,将所选择的一位延迟输出延迟时间并输出延迟位 数据延迟测试操作,其中输入数据延迟时间调节器被配置用于n位输入数据,并且其中输出数据延迟时间调整器被布置用于m位输出数据。