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    • 1. 发明授权
    • Nonvolatile memory device and related method of operation
    • 非易失存储器件及相关操作方法
    • US07586775B2
    • 2009-09-08
    • US11850130
    • 2007-09-05
    • Sang-beom KangYong-jin YoonQi Wang
    • Sang-beom KangYong-jin YoonQi Wang
    • G11C11/00
    • G11C13/0069G11C13/0004G11C2013/009
    • A nonvolatile memory device comprises a first voltage generation unit, a second voltage generation unit, a first circuit block, and a discharge unit. The first voltage generation unit generates a first voltage with a first magnitude. The second voltage generation unit generates a second voltage with a second magnitude greater than the first magnitude. The first circuit block selectively receives the first voltage or the second voltage through an input node. The discharge unit discharges the input node between a time point where the input node has been charged with the second voltage and a time point where the input node receives the first voltage.
    • 非易失性存储器件包括第一电压产生单元,第二电压产生单元,第一电路块和放电单元。 第一电压产生单元产生具有第一量值的第一电压。 第二电压产生单元产生具有大于第一幅值的第二幅度的第二电压。 第一电路块通过输入节点选择性地接收第一电压或第二电压。 放电单元在输入节点已经被充电的时间点与第二电压之间和输入节点接收到第一电压的时间点之间对输入节点进行放电。