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1. 发明申请

US20060069951A1 System for testing digital components 有权
标题翻译：数字元件测试系统
公开(公告)号：US20060069951A1
公开(公告)日：2006-03-30
申请号：US10514537
申请日：2003-05-14
申请人： Ralf Arnold , Matthias Heinitz , Siegmar Koppe , Volker Schober
发明人： Ralf Arnold , Matthias Heinitz , Siegmar Koppe , Volker Schober
IPC分类号： G06F11/00
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/31813 , G01R31/318547
摘要： In order to test digital modules with functional elements, these are divided into test units (3) which respectively have inputs and outputs. Alternating test patterns are applied to the inputs of the test unit (3), and the test responses resulting from this are evaluated at the outputs of the test unit (3). The effect is then encountered that changes at each of the inputs of a test unit (3) do not all affect a particular output of this test unit (3). For every output of the test unit (3), it is possible to define a cone (5) whose apex is formed by the particular output of the test unit (3) and whose base comprises the inputs of the test unit (3) where, and only where, changes affect the particular output. According to the invention, the test pattern to be applied to the inputs of the test unit (3) is constructed of sub-patterns, whose length is in particular
摘要翻译：为了测试具有功能元件的数字模块，它们分为测试单元（3），分别具有输入和输出。将交替测试图案应用于测试单元（3）的输入，并且在测试单元（3）的输出处评估由此产生的测试响应。然后会遇到测试单元（3）的每个输入端的变化都不会影响该测试单元（3）的特定输出的效果。对于测试单元（3）的每个输出，可以定义锥形（5），其顶点由测试单元（3）的特定输出形成，并且其底部包括测试单元（3）的输入，其中，只有在这些变化影响特定的输出。根据本发明，应用于测试单元（3）的输入的测试模式由子模式构成，子模式的长度特别是包含在测试单元（3）中的测试单元（3）的输入数量圆锥（5）的基部。由于其长度较短，所有可能的组合都可用于选择子图案，从而可以快速实现测试单元（3）的综合功能测试，并且具有很少的支出。在数字模块中，该测试功能可以特别地由可以将数字模块的其余部分切换到测试模式的自检单元（1）来实现，并且基于子模式生成测试模式它们进入用于应用于测试单元（3）的测试图案输出寄存器（2），并且可以通过评估单元（16）评估随后在测试单元（3）的输出处发现的测试响应，或读取它用于评估。

2. 发明授权

US07386776B2 System for testing digital components 有权
标题翻译：数字元件测试系统
公开(公告)号：US07386776B2
公开(公告)日：2008-06-10
申请号：US10514537
申请日：2003-05-14
申请人： Ralf Arnold , Matthias Heinitz , Siegmar Köppe , Volker Schöber
发明人： Ralf Arnold , Matthias Heinitz , Siegmar Köppe , Volker Schöber
IPC分类号： G06F11/00
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/31813 , G01R31/318547
摘要： In order to test digital modules with functional elements, these are divided into test units (3) which respectively have inputs and outputs. Alternating test patterns are applied to the inputs of the test unit (3), and the test responses resulting from this are evaluated at the outputs of the test unit (3). The effect is then encountered that changes at each of the inputs of a test unit (3) do not all affect a particular output of this test unit (3). For every output of the test unit (3), it is possible to define a cone (5) whose apex is formed by the particular output of the test unit (3) and whose base comprises the inputs of the test unit (3) where, and only where, changes affect the particular output. According to the invention, the test pattern to be applied to the inputs of the test unit (3) is constructed of sub-patterns, whose length is in particular ≦ the number of inputs of the test unit (3) that are contained in the base of a cone (5). Owing to their shorter length, all possible combinations can be used for selecting the sub-patterns, so that a comprehensive function test of the test unit (3) can be carried out rapidly and with little outlay. In a digital module, this test function may in particular be implemented by a self-test unit (1) which can switch over the rest of the digital module into a test mode, generates the test patterns on the basis of sub-patterns, loads them into a test-pattern output register (2) for application to a test unit (3) and can evaluate the test response subsequently found at the outputs of the test unit (3) by means of an evaluation unit (16), or read it in for evaluation.
摘要翻译：为了测试具有功能元件的数字模块，它们分为测试单元（3），分别具有输入和输出。将交替测试图案应用于测试单元（3）的输入，并且在测试单元（3）的输出处评估由此产生的测试响应。然后会遇到测试单元（3）的每个输入端的变化都不会影响该测试单元（3）的特定输出的效果。对于测试单元（3）的每个输出，可以定义锥形（5），其顶点由测试单元（3）的特定输出形成，并且其底部包括测试单元（3）的输入，其中，只有在这些变化影响特定的输出。根据本发明，应用于测试单元（3）的输入的测试模式由子模式构成，子模式的长度特别地<=测试单元（3）的输入数量锥体的底部（5）。由于其长度较短，所有可能的组合都可用于选择子图案，从而可以快速实现测试单元（3）的综合功能测试，并且具有很少的支出。在数字模块中，该测试功能可以特别地由可以将数字模块的其余部分切换到测试模式的自检单元（1）来实现，并且基于子模式生成测试模式它们进入用于应用于测试单元（3）的测试图案输出寄存器（2），并且可以通过评估单元（16）评估随后在测试单元（3）的输出处发现的测试响应，或读取它用于评估。

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