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1. 发明申请

US20060184904A1 Analyzing substrate noise 有权
标题翻译：分析衬底噪声
公开(公告)号：US20060184904A1
公开(公告)日：2006-08-17
申请号：US11058900
申请日：2005-02-15
申请人： Rajeev Murgai , Subodh Reddy , Takashi Miyoshi , Takeshi Horie , Mehdi Tahoori
发明人： Rajeev Murgai , Subodh Reddy , Takashi Miyoshi , Takeshi Horie , Mehdi Tahoori
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5036
摘要： In one embodiment, a method for analyzing substrate noise includes applying a static timing analysis (STA) algorithm to a description of a digital circuit. Application of the STA algorithm generates timing information on one or more gates in the digital circuit. The method also includes applying a current waveform generation (CWG) algorithm to the description of the digital circuit, the timing information on one or more gates in the digital circuit, and a description of switching activity in the digital circuit. Application of the CWG algorithm generates a current waveform. The method also includes generating a reduced model (RM) of the digital circuit for simulation according to the description of the digital circuit, the current waveform, and a model of a package associated with the digital circuit. Simulation of the RM of the digital circuit generates an indication of noise in a substrate associated with the digital circuit.
摘要翻译：在一个实施例中，用于分析衬底噪声的方法包括将静态时序分析（STA）算法应用于数字电路的描述。 STA算法的应用在数字电路中的一个或多个门上产生定时信息。该方法还包括将电流波形生成（CWG）算法应用于数字电路的描述，数字电路中的一个或多个门上的定时信息以及数字电路中的开关活动的描述。 CWG算法的应用产生电流波形。该方法还包括根据数字电路的描述，电流波形和与数字电路相关联的封装的模型，生成用于模拟的数字电路的简化模型（RM）。数字电路的RM的仿真产生与数字电路相关联的衬底中的噪声的指示。

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