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1. 发明授权

US4750895A Reconfigurable toy assembly 失效
标题翻译：可重构玩具总成
公开(公告)号：US4750895A
公开(公告)日：1988-06-14
申请号：US49704
申请日：1987-05-13
申请人： Muneyoshi Shinohara , Yoshio Suzuki , Takashi Kunihiro
发明人： Muneyoshi Shinohara , Yoshio Suzuki , Takashi Kunihiro
IPC分类号： A63H3/46 , A63H3/04 , A63H3/16 , A63H33/00 , A63H17/00
CPC分类号： A63H33/003
摘要： A reconfigurable toy assembly which is capable of transforming into six different forms, such as a robotic humanfold form, a gun form, a jet plane form, an automobile form, an armored car form and a puma form, by changing positions of movable toy components is disclosed. The toy assembly having a base member constituting a trunk portion of the robotic humanoid form, a robotic head member, a pair of arm members, a pair of leg members, a pair of front wing members, a pair of rear wing members, a pair of hand members and at least one head member of another form such as the puma form. When configured into one particular form, the toy assembly is capable of containing the components used for the other forms within the movable components used for the particular form.
摘要翻译：能够通过改变可动玩具组件的位置而能够转换成六种不同形式的可重新配置的玩具组件，例如机器人人形折叠形式，枪形，喷气平面形式，汽车形式，装甲车形式和美洲狮形式被披露。所述玩具组件具有构成所述机器人类人形体的躯干部分的基座构件，机器人头部构件，一对臂构件，一对腿构件，一对前翼构件，一对后翼构件，一对的手部构件和至少一个其他形式的头部构件，例如美洲狮形式。当配置成一种特定形式时，玩具组件能够容纳用于特定形式的可移动部件中用于其它形式的部件。

2. 发明授权

US06992499B2 Test method and test apparatus for semiconductor device 失效
标题翻译：半导体器件的测试方法和测试装置
公开(公告)号：US06992499B2
公开(公告)日：2006-01-31
申请号：US10859189
申请日：2004-06-03
申请人： Takashi Kunihiro
发明人： Takashi Kunihiro
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2894
摘要： A method for testing a semiconductor device, is disclosed, which comprises detecting a defect in a semiconductor wafer having a plurality of chips on each of which a plurality of semiconductor elements are formed, to detect those of the chips which have a defect, and carrying out a fist electrical characteristics test to a first chip without defect, and a second electrical characteristics test which is more detailed than the first electrical characteristics test to a second chip having the defect.
摘要翻译：本发明公开了一种半导体器件的测试方法，其特征在于，检测在形成有多个半导体元件的多个芯片的半导体晶片中的缺陷，检测出具有缺陷的芯片的缺陷，携带对没有缺陷的第一芯片进行第一电特性测试，以及比具有缺陷的第二芯片比第一电特性测试更详细的第二电特性测试。

3. 外观设计

USD311043S Reconfigurable toy vehicle 失效
公开(公告)号：USD311043S
公开(公告)日：1990-10-02
申请号：US211408
申请日：1988-06-24
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

4. 外观设计

USD301505S Reconfigurable toy vehicle 失效
公开(公告)号：USD301505S
公开(公告)日：1989-06-06
申请号：US1090
申请日：1987-01-07
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

5. 外观设计

USD301504S Reconfigurable toy helicopter 失效
公开(公告)号：USD301504S
公开(公告)日：1989-06-06
申请号：US1089
申请日：1987-01-07
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

6. 外观设计

USD305049S Reconfigurable toy dinosaur 失效
公开(公告)号：USD305049S
公开(公告)日：1989-12-12
申请号：US944595
申请日：1986-12-19
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

7. 外观设计

USD301358S Reconfigurable toy plane 失效
公开(公告)号：USD301358S
公开(公告)日：1989-05-30
申请号：US1102
申请日：1987-01-07
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

8. 外观设计

USD301357S Reconfigurable toy tank 失效
公开(公告)号：USD301357S
公开(公告)日：1989-05-30
申请号：US1095
申请日：1987-01-07
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

9. 发明申请

US20050009218A1 Test method and test apparatus for semiconductor device 失效
标题翻译：半导体器件的测试方法和测试装置
公开(公告)号：US20050009218A1
公开(公告)日：2005-01-13
申请号：US10859189
申请日：2004-06-03
申请人： Takashi Kunihiro
发明人： Takashi Kunihiro
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/00
CPC分类号： G01R31/2894
摘要： A method for testing a semiconductor device, is disclosed, which comprises detecting a defect in a semiconductor wafer having a plurality of chips on each of which a plurality of semiconductor elements are formed, to detect those of the chips which have a defect, and carrying out a fist electrical characteristics test to a first chip without defect, and a second electrical characteristics test which is more detailed than the first electrical characteristics test to a second chip having the defect.
摘要翻译：本发明公开了一种半导体器件的测试方法，其特征在于，检测在形成有多个半导体元件的多个芯片的半导体晶片中的缺陷，检测出具有缺陷的芯片的缺陷，携带对没有缺陷的第一芯片进行第一电特性测试，以及比具有缺陷的第二芯片比第一电特性测试更详细的第二电特性测试。

10. 外观设计

USD311040S Reconfigurable toy tank 失效
公开(公告)号：USD311040S
公开(公告)日：1990-10-02
申请号：US165563
申请日：1988-03-08
申请人： Takashi Kunihiro
设计人： Takashi Kunihiro

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