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    • 3. 发明授权
    • Process and device for determining the magnetic characteristics of thin
magnetic layers
    • 用于确定薄磁层的磁特性的工艺和装置
    • US5917321A
    • 1999-06-29
    • US776476
    • 1997-01-17
    • Peter PokrowskyHeinz LehrHans-Joachim HartmannChristoph Schulz
    • Peter PokrowskyHeinz LehrHans-Joachim HartmannChristoph Schulz
    • G01R33/12G01N27/72
    • G01R33/1207
    • A process is presented for the direct determination of characteristic magnetic values of thin magnetizable layers, in which an element creating a magnetic field creates the magnetization of a part surface in such a way that the thin magnetizable layer, the element creating the magnetic field, and a magnetic field sensor are located in a relative position of rest to one another. The magnetic field sensor is then positioned opposite the magnetized part surface by a relative movement of the element creating the magnetic field, the magnetic field sensor, and the thin magnetic layer. During the subsequent measurement of the magnetization of the part surface, the thin magnetic layer, the element creating the magnetic field, and the magnetic field sensor are in a relative position of rest to one another. During the process of magnetization of the part surface, and during the measurement of the magnetization of this part surface, the element creating the magnetic field and the magnetic field sensor are spatially separated from one another.
    • PCT No.PCT / EP95 / 01908 Sec。 371日期1997年1月17日 102(e)日期1997年1月17日PCT提交1995年5月19日PCT公布。 WO96 / 36887 PCT公开号 日期1996年11月21日提出了用于直接确定薄磁化层的特征磁性值的过程,其中产生磁场的元素产生部分表面的磁化,使得薄可磁化层,产生 磁场和磁场传感器位于彼此相对的相对位置。 然后通过产生磁场,磁场传感器和薄磁性层的元件的相对运动将磁场传感器定位在磁化部分表面相对的位置。 在随后的部件表面的磁化测量期间,薄磁层,产生磁场的元件和磁场传感器处于彼此相对的相对位置。 在部件表面的磁化过程中,以及在该部件表面的磁化测量期间,产生磁场的元件和磁场传感器在空间上彼此分离。