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1. 发明授权

US06905415B2 Flexible element 失效
标题翻译：弹性元件
公开(公告)号：US06905415B2
公开(公告)日：2005-06-14
申请号：US10000901
申请日：2001-11-15
申请人： Markus Decker , Stefan Pfeiffer , Lars Emmel
发明人： Markus Decker , Stefan Pfeiffer , Lars Emmel
IPC分类号： F16C1/22 , F16C1/26 , F16C1/08 , F16C1/14 , F16C1/16
CPC分类号： F16C1/226 , F16C1/06 , F16C1/262 , Y10T74/20462
摘要： A flexible element, for example a flexible shaft, has a core (12) and a tubular sheathing (16) protecting the latter. Sleeve elements (20) surround the core and hold the tubular sheathing (16) between them. Different co-efficients of thermal expansion of the material for the tubular sheathing in comparison to the material of the core have previously led to undesirable distortions. To avoid these distortions in a structurally simple manner, at least one sleeve element (20) holds the tubular sheathing (16) with limited axial play (26). The play compensation between the sleeve element (20) and tubular sheathing (16) is particularly advantageous when the sleeve elements (20) are used for fixing the flexible elements (10).
摘要翻译：柔性元件，例如柔性轴，具有保护后者的芯（12）和管状护套（16）。套筒元件（20）围绕芯部并将管状护套（16）保持在它们之间。与芯的材料相比，用于管状护套的材料的热膨胀的不同系数先前已经导致不期望的失真。为了以结构简单的方式避免这些变形，至少一个套筒元件（20）以有限的轴向游隙（26）保持管状护套（16）。当套筒元件（20）用于固定柔性元件（10）时，套筒元件（20）和管状护套（16）之间的游隙补偿是特别有利的。

2. 发明授权

US07197726B2 Test structures for estimating dishing and erosion effects in copper damascene technology 失效
标题翻译：铜镶嵌技术中估计凹陷和侵蚀效应的试验结构
公开(公告)号：US07197726B2
公开(公告)日：2007-03-27
申请号：US10490908
申请日：2002-09-27
申请人： Dennis J. Ciplickas , Markus Decker , Christopher Hess , Brian E. Stine , Larg H. Weiland
发明人： Dennis J. Ciplickas , Markus Decker , Christopher Hess , Brian E. Stine , Larg H. Weiland
IPC分类号： G06F17/50 , H01L25/48 , G01R31/26
CPC分类号： H01L22/34 , H01L21/3212 , H01L2924/0002 , H01L2924/3011 , H01L2924/00
摘要： A test structure combines a first structure (1010) for erosion evaluation with a second structure (1000) for extraction of defect size distributions. The first structure (1010) is a loop structure usable determine a resistance value that varies with metal height. The second structure is a NEST structure (1000). Loop lines of the loop structure (1010) are connected on both sides of the NEST structure (1000).
摘要翻译：测试结构将用于侵蚀评估的第一结构（1010）与用于提取缺陷尺寸分布的第二结构（1000）组合。第一结构（1010）是可用于确定随金属高度变化的电阻值的环路结构。第二种结构是NEST结构（1000）。环路结构（1010）的环路线连接在NEST结构（1000）的两侧。

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