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    • 1. 发明授权
    • Method and apparatus for inspecting surface defects
    • 检查表面缺陷的方法和装置
    • US4914378A
    • 1990-04-03
    • US235683
    • 1988-06-20
    • Makoto HayashiMasahiro OotakaAkisuke NaruseKazuo Takaku
    • Makoto HayashiMasahiro OotakaAkisuke NaruseKazuo Takaku
    • G01N27/20
    • G01N27/20
    • A method and an apparatus for detecting defects in the surface of a metal material relying upon the potential drop method. Namely, a method of precisely determining the shape of crack from a distribution of potential differences in the vicinity of crack by arranging power supplying electrodes and measuring electrodes on the surface of the metal material in the form of a matrix, and switching the electrodes that supply electric current and the electrodes that measure potential differences to measure distributions of potential differences in many directions, and an apparatus for detecting surface defects relying upon the potential drop method. In the apparatus for detecting surface defects, the arrangement of power supplying electrodes and supply currents are optimized to precisely detect the shape of crack in the surface.
    • PCT No.PCT / JP87 / 00789 Sec。 371日期:1988年6月20日 102(e)1988年6月20日PCT PCT 1987年10月16日PCT公布。 出版物WO88 / 02857 日期:1988年4月21日。一种用于根据潜在滴落法检测金属材料表面缺陷的方法和装置。 即,通过在基体的形式的金属材料的表面上配置供电电极和测量电极,从裂纹附近的电位差的分布中精确地确定裂纹的形状的方法,以及切换供给的电极 电流和测量电位差的电极,以测量多个方向上的电位差的分布,以及依靠潜在滴落法检测表面缺陷的装置。 在用于检测表面缺陷的装置中,优化供电电极和电源电流的布置以精确地检测表面中的裂纹的形状。