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    • 8. 发明授权
    • Sensing scheme in a memory device
    • 存储设备中的感应方案
    • US08593876B2
    • 2013-11-26
    • US13085611
    • 2011-04-13
    • Violante MoschianoGiovanni SantinTommaso Vali
    • Violante MoschianoGiovanni SantinTommaso Vali
    • G11C11/34G11C7/00
    • G11C16/0483G11C16/26
    • Methods of operating memory devices, generating reference currents in memory devices, and sensing data states of memory cells in a memory device are disclosed. One such method includes generating reference currents utilized in sense amplifier circuitry to manage leakage currents while performing a sense operation within a memory device. Another such method activates one of two serially coupled transistors along with activating and deactivating the second transistor serially coupled with the first transistor thereby regulating a current through both serially coupled transistors and establishing a particular reference current.
    • 公开了在存储器件中操作存储器件,产生存储器件中的参考电流以及感测存储器单元的数据状态的方法。 一种这样的方法包括产生在读出放大器电路中使用的参考电流,以在存储器件内进行感测操作的同时管理泄漏电流。 另一种这样的方法激活两个串联耦合晶体管中的一个,同时激活和去激活与第一晶体管串联耦合的第二晶体管,从而调节通过两个串联耦合的晶体管的电流并建立特定的参考电流。