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    • 3. 发明申请
    • SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
    • 半导体器件和测试半导体器件的方法
    • US20080192554A1
    • 2008-08-14
    • US12018993
    • 2008-01-24
    • Kiyokazu HASHIMOTONobutoshi TSUNESADA
    • Kiyokazu HASHIMOTONobutoshi TSUNESADA
    • G11C7/00G11C8/00
    • G11C29/52G11C16/04G11C16/3445G11C29/26G11C29/50004
    • A semiconductor device includes: a first memory; and a second memory. The first memory includes: a first memory cell array configured to be divided into a plurality of sectors, an erasure time setting register configured to hold a sector erasure assurance time to assure an erasure time for erasing data stored in one sector, and a first control circuit configured to execute a sector erasure test in which data stored in at least one selected sector selected from the plurality of sectors are erased within the sector erasure assurance time. The second memory includes: a second memory cell array configured to have a data storage system different from that of the first memory cell array, and a second control circuit configured to execute a data hold test with respect to the second memory cell array while the sector erasure test is executed.
    • 半导体器件包括:第一存储器; 和第二个记忆。 第一存储器包括:第一存储单元阵列,被配置为被划分为多个扇区;擦除时间设置寄存器,被配置为保持扇区擦除保证时间,以确保用于擦除存储在一个扇区中的数据的擦除时间;以及第一控制 电路,被配置为执行扇区擦除测试,其中存储在从所述多个扇区中选择的至少一个所选扇区中的数据在所述扇区擦除保证时间内被擦除。 第二存储器包括:第二存储单元阵列,被配置为具有与第一存储单元阵列的数据存储系统不同的数据存储系统;以及第二控制电路,被配置为执行相对于第二存储单元阵列的数据保持测试, 执行擦除测试。