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    • 8. 发明授权
      US07414483B2 Test circuit, delay circuit, clock generating circuit, and image sensor 失效
    • Test circuit, delay circuit, clock generating circuit, and image sensor
    • 测试电路，延迟电路，时钟发生电路和图像传感器
    • US07414483B2
    • 2008-08-19
    • US11480537
    • 2006-07-05
    • Yukihiro Shimamoto
    • Yukihiro Shimamoto
    • H03L7/08 , H03H11/26
    • H03L7/06 , G01R31/3016 , G01R31/31725 , G01R31/31727
    • A test circuit comprises a delay circuit 11 with controllable delay, a phase comparator circuit 12 for comparing the phases between the clock signal S0 and a delay clock signal S1 delayed from the clock signal S0 by the delay circuit 11, a meas counter 13 for counting the number of outputs of the prescribed comparison result from the phase comparator circuit 12, a signal switching circuit 14 for switching an input signal to the delay circuit 11 from the clock signal S0 to a delay signal satisfying an oscillation condition where the delay signal is received from the delay circuit 11 and developing a ring oscillator, and a frequency measuring circuit 15 for measuring an oscillation frequency when the ring oscillator is developed, the delay circuit 11 includes a variable delay circuit 17 with variable delay units connected to control the delay in each variable delay units independently.
    • 测试电路包括具有可控延迟的延迟电路11，相位比较器电路12，用于比较延迟电路11从时钟信号S 0延迟的时钟信号S 0和延迟时钟信号S 1之间的相位， 13，用于对来自相位比较器电路12的规定比较结果的输出数进行计数;信号切换电路14，用于将来自时钟信号S 0的延迟电路11的输入信号切换到满足振荡条件的延迟信号， 延迟信号从延迟电路11接收并显影环形振荡器，以及频率测量电路15，用于在环形振荡器产生时测量振荡频率，延迟电路11包括一个可变延迟电路17，可变延迟单元连接到控制 每个可变延迟单元的延迟独立。
    • 基本信息 添加关注 加入工作空间 PDF全文 PDF下载 全文下载 相似专利 双屏查看 权利要求书 说明书全文 Espacenet 法律信息 同族专利 专利引用
    • 9. 发明申请
      US20070008044A1 Test circuit, delay circuit, clock generating circuit, and image sensor 失效
    • Test circuit, delay circuit, clock generating circuit, and image sensor
    • 测试电路，延迟电路，时钟发生电路和图像传感器
    • US20070008044A1
    • 2007-01-11
    • US11480537
    • 2006-07-05
    • Yukihiro Shimamoto
    • Yukihiro Shimamoto
    • H03K3/03
    • H03L7/06 , G01R31/3016 , G01R31/31725 , G01R31/31727
    • A test circuit comprises a delay circuit 11 with controllable delay, a phase comparator circuit 12 for comparing the phases between the clock signal S0 and a delay clock signal S1 delayed from the clock signal S0 by the delay circuit 11, a meas counter 13 for counting the number of outputs of the prescribed comparison result from the phase comparator circuit 12, a signal switching circuit 14 for switching an input signal to the delay circuit 11 from the clock signal S0 to a delay signal satisfying an oscillation condition where the delay signal is received from the delay circuit 11 and developing a ring oscillator, and a frequency measuring circuit 15 for measuring an oscillation frequency when the ring oscillator is developed, the delay circuit 11 includes a variable delay circuit 17 with variable delay units connected to control the delay in each variable delay units independently.
    • 测试电路包括具有可控延迟的延迟电路11，相位比较器电路12，用于比较延迟电路11从时钟信号S 0延迟的时钟信号S 0和延迟时钟信号S 1之间的相位， 13，用于对来自相位比较器电路12的规定比较结果的输出数进行计数;信号切换电路14，用于将来自时钟信号S 0的延迟电路11的输入信号切换到满足振荡条件的延迟信号， 延迟信号从延迟电路11接收并显影环形振荡器，以及频率测量电路15，用于在环形振荡器产生时测量振荡频率，延迟电路11包括一个可变延迟电路17，可变延迟单元连接到控制 每个可变延迟单元的延迟独立。
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