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    • 10. 发明授权
    • Techniques for improved feature detection
    • 改进特征检测技术
    • US09317768B2
    • 2016-04-19
    • US13625962
    • 2012-09-25
    • Intel Corporation
    • Qiang LiBin WangLiu Yang
    • G06K9/46
    • G06K9/46
    • Techniques for improved feature detection are described. In one embodiment, for example, a device may include a processor circuit and a feature detection module, and the feature detection module may be operative on the processor circuit to perform a first feature detection iteration for a graphics information element using an integral pixel value array, determine a scaling factor, recalculate the integral pixel value array based on the scaling factor, and perform a second feature detection iteration for the graphics information element using the recalculated integral pixel value array. Other embodiments are described and claimed.
    • 描述了用于改进特征检测的技术。 在一个实施例中,例如,设备可以包括处理器电路和特征检测模块,并且特征检测模块可以在处理器电路上操作,以使用积分像素值阵列来执行图形信息元素的第一特征检测迭代 确定缩放因子,基于缩放因子重新计算积分像素值阵列,并且使用重新计算的积分像素值阵列对图形信息元素执行第二特征检测迭代。 描述和要求保护其他实施例。