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1. 发明申请

US20130069688A1 DIGITAL TEST SYSTEM AND METHOD FOR VALUE BASED DATA 失效
标题翻译：数字测试系统和价值数据的方法
公开(公告)号：US20130069688A1
公开(公告)日：2013-03-21
申请号：US13233374
申请日：2011-09-15
申请人： Eugene Rogers Atwood , Thomas Joseph Bardsley , Victor Moy , Michael Won
发明人： Eugene Rogers Atwood , Thomas Joseph Bardsley , Victor Moy , Michael Won
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： H03K19/096
摘要： Embodiments of the present invention provide an inequality indication system (IIS). The IIS provides built in test support which enables evaluation, in an on-chip digital logic circuit, of digital values as inequalities, with either a single pass/fail bit expressed on a device I/O or a readable register containing inequality evaluation results. The IIS enables the movement of value evaluation onto the device (chip) using a common simple method, well suited to address/data type structures or scan based structures, instead of off-chip, which then requires tester dependent custom code. The IIS, when enabled, overrides the TDO signal to allow it to function as an inequality indicator instead of a standard test data out signal.
摘要翻译：本发明的实施例提供了一种不等式指示系统（IIS）。 IIS提供了内置的测试支持，可以在片上数字逻辑电路中将数字值作为不等式进行评估，在设备I / O上表示单个通过/失败位或包含不等式评估结果的可读寄存器。 IIS使用通用简单的方法将值评估移动到设备（芯片）上，非常适合地址/数据类型结构或基于扫描的结构，而不是片外，然后需要依赖于测试者的自定义代码。 IIS启用时，会覆盖TDO信号，以使其能够用作不等式指示器，而不是标准测试数据输出信号。

2. 发明授权

US08405419B1 Digital test system and method for value based data 失效
标题翻译：数字测试系统和基于价值的数据的方法
公开(公告)号：US08405419B1
公开(公告)日：2013-03-26
申请号：US13233374
申请日：2011-09-15
申请人： Eugene Rogers Atwood , Thomas Joseph Bardsley , Victor Moy , Michael Won
发明人： Eugene Rogers Atwood , Thomas Joseph Bardsley , Victor Moy , Michael Won
IPC分类号： H03K19/173 , H03K19/00
CPC分类号： H03K19/096
摘要： Embodiments of the present invention provide an inequality indication system (IIS). The IIS provides built in test support which enables evaluation, in an on-chip digital logic circuit, of digital values as inequalities, with either a single pass/fail bit expressed on a device I/O or a readable register containing inequality evaluation results. The IIS enables the movement of value evaluation onto the device (chip) using a common simple method, well suited to address/data type structures or scan based structures, instead of off-chip, which then requires tester dependent custom code. The IIS, when enabled, overrides the TDO signal to allow it to function as an inequality indicator instead of a standard test data out signal.
摘要翻译：本发明的实施例提供了一种不等式指示系统（IIS）。 IIS提供了内置的测试支持，可以在片上数字逻辑电路中将数字值作为不等式进行评估，在设备I / O上表示单个通过/失败位或包含不等式评估结果的可读寄存器。 IIS使用通用简单的方法将值评估移动到设备（芯片）上，非常适合地址/数据类型结构或基于扫描的结构，而不是片外，然后需要依赖于测试者的自定义代码。 IIS启用时，会覆盖TDO信号，以使其能够用作不等式指示器，而不是标准测试数据输出信号。

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