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    • 2. 发明授权
    • Optimal location of a digital sync pattern
    • 数字同步模式的最佳位置
    • US06826245B1
    • 2004-11-30
    • US09570372
    • 2000-05-12
    • Christopher T. BrownPhares Grey
    • Christopher T. BrownPhares Grey
    • H04L700
    • H04L7/08G11B2020/1287
    • Method and system for optimally estimating the location of each of a sequence of two or more synchronization patterns in a digital signal bit stream. A first reference location for a sync pattern is determined. A Boolean product or other product of the sync pattern (of length S) with S consecutive bit values of the digital stream is formed, for each of a selected consecutive sequence of candidates for a second reference location of the sync pattern within a window of selected length. A candidate reference location that yields the largest (or smallest) product value within the window is estimated to be a second or “next” reference location of the sync pattern, if the product value is at least equal to (or, alternatively, is no greater than) a selected threshold value. The sync pattern used for testing the digital stream can be varied from one location to another. The number of bit matches or the number of bit non-matches can be used to determine an optimal reference location for the sync pattern.
    • 用于最佳地估计数字信号比特流中的两个或多个同步模式的序列中的每一个的位置的方法和系统。 确定同步模式的第一参考位置。 针对所选择的窗口内的同步图案的第二参考位置的所选择的连续候选序列中的每一个,形成具有数字流的S个连续比特值的同步模式(长度为S)的布尔乘积或其他乘积 长度。 如果产品值至少等于(或者替代地,不是),则产生窗口内的最大(或最小)乘积值的候选参考位置被估计为同步模式的第二或“下一个”参考位置 大于)选定的阈值。 用于测试数字流的同步模式可以从一个位置变化到另一个位置。 可以使用位匹配的数量或位不匹配的数量来确定同步模式的最佳参考位置。