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1. 发明授权

US06704388B2 X-ray examination apparatus 失效
标题翻译： X光检查仪
公开(公告)号：US06704388B2
公开(公告)日：2004-03-09
申请号：US10022125
申请日：2001-10-30
申请人： Johannes Catharina Antonius Op De Beek , Matheus Wilhelmus Kerkhof
发明人： Johannes Catharina Antonius Op De Beek , Matheus Wilhelmus Kerkhof
IPC分类号： G21K112
CPC分类号： A61B6/583 , A61B6/4441
摘要： An X-ray examination apparatus includes an X-ray source (1) for emitting an X-ray beam (8) having a central X-ray extending along a central beam line (4). There is also provided an X-ray detector (2) for picking up X-ray images. The X-ray source (1) and the X-ray detector (2) are rotatable together around an axis of rotation (3). The X-ray examination apparatus is provided with a calibration system (6, 7). Calibration images of the calibration phantom (6) are formed from different, preferably opposed directions of the X-ray beam (8). The zero orientation of the X-ray source (1) with the X-ray detector (2) is derived from differences in positions of the same aspect of the calibration phantom in the respective calibration images. The central beam line (4) extends perpendicularly to the axis of rotation (3) in the zero orientation.
摘要翻译： X射线检查装置包括用于发射具有沿着中心束线（4）延伸的中心X射线的X射线束（8）的X射线源（1）。还提供了用于拾取X射线图像的X射线检测器（2）。 X射线源（1）和X射线检测器（2）可围绕旋转轴线（3）一起旋转。 X射线检查装置设有校准系统（6,7）。校准体模（6）的校准图像由X射线束（8）的不同的，优选相对的方向形成。 X射线源（1）与X射线检测器（2）的零取向来源于各校准图像中校准体模的相同方面的位置差异。中心束线（4）以零取向垂直于旋转轴线（3）延伸。

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