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    • 10. 发明授权
    • Multiple exposure method for forming a patterned photoresist layer
    • 用于形成图案化光致抗蚀剂层的多重曝光方法
    • US06905802B2
    • 2005-06-14
    • US10637862
    • 2003-08-09
    • Cheng-Ming Lin
    • Cheng-Ming Lin
    • G03C5/00G03F1/00G03F7/00G03F7/20G03F9/00
    • G03F1/32G03F7/70283G03F7/7045G03F7/70466Y10S430/143Y10S430/146
    • A method for exposing a blanket photoresist layer employs: (1) a first direct write exposure of the blanket photoresist layer to form therein an exposed peripheral sub-region of a desired exposed pattern; and (2) a second masked photoexposure of the blanket photoresist layer to form therein a masked photoexposed bulk sub-region of the desired exposed pattern which overlaps but does not extend beyond the exposed peripheral sub-region. The once masked photoexposed once direct write exposed blanket photoresist layer may be developed to form a patterned photoresist layer employed for forming a patterned opaque layer border within an opaque bordered attenuated phase shift mask.
    • 用于曝光橡皮布光致抗蚀剂层的方法采用:(1)毯式光致抗蚀剂层的第一直接写入曝光,以在其中形成所需曝光图案的暴露外围子区域; 和(2)所述覆盖光致抗蚀剂层的第二掩蔽曝光,以在其中形成与所暴露的外围子区域重叠但不延伸超过所述暴露的外围子区域的所需曝光图案的被掩蔽的光曝光的体区子区域。 可以显影一次被曝光的一次直接写曝光的覆盖光致抗蚀剂层,以形成用于在不透明的边界衰减相移掩模内形成图案化不透明层边界的图案化光致抗蚀剂层。