会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 45. 发明申请
    • COMS image sensors and methods of manufacturing the same
    • COMS图像传感器及其制造方法
    • US20110163363A1
    • 2011-07-07
    • US13064289
    • 2011-03-16
    • Ui-Sik KimYoung-Hoon ParkWon-Je ParkDae-Cheol SeongYeo-Ju YoonBo-Bae Kang
    • Ui-Sik KimYoung-Hoon ParkWon-Je ParkDae-Cheol SeongYeo-Ju YoonBo-Bae Kang
    • H01L27/146
    • H01L27/14689H01L27/14603H01L27/14612H01L27/1463H01L27/14636
    • Complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) image sensors (CIS) and methods of manufacturing the same are provided, the sensors include an epitaxial layer on a substrate in which a first, second, third and fourth region are defined. A photodiode may be formed at an upper portion of the epitaxial layer in the first region. A plurality of gate structures may be formed on the epitaxial layer in the second, third and fourth regions. A first blocking layer may be formed on the gate structures and the epitaxial layer in the first and second regions. A first impurity layer may be formed at an upper portion of the epitaxial layer adjacent to the gate structures in the second region, and a second impurity layer at upper portions of the epitaxial layer adjacent to the gate structures in the third and fourth regions. A color filter layer may be formed over the photodiode. A microlens may be formed on the color filter layer.
    • 提供互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器(CIS)及其制造方法,传感器包括在其中限定了第一,第二,第三和第四区域的基板上的外延层。 可以在第一区域中的外延层的上部形成光电二极管。 可以在第二,第三和第四区域中的外延层上形成多个栅极结构。 可以在栅极结构和第一和第二区域中的外延层上形成第一阻挡层。 可以在与第二区域中的栅极结构相邻的外延层的上部形成第一杂质层,并且在第三和第四区域中与栅极结构相邻的外延层的上部处形成第二杂质层。 可以在光电二极管上方形成滤色器层。 可以在滤色器层上形成微透镜。