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    • 30. 发明授权
    • Switch testing circuit
    • 开关测试电路
    • US08410782B2
    • 2013-04-02
    • US12820081
    • 2010-06-21
    • Yan Shi
    • Yan Shi
    • G01R31/02
    • G01R31/3277G01R31/025
    • A switch testing circuit is configured for testing a switch. The switch testing circuit includes a switch element, a first light emitting diode, and a control chip. The first light emitting diode, the switch element, and the switch are connected in series. The first light emitting diode is configured for indicating connection condition between the switch and the switch testing circuit. The control chip is configured for acquiring a voltage from one terminal of the switch element and comparing the acquired voltage with a comparison voltage to judge whether the switch is qualified or disqualified according to the comparison result.
    • 开关测试电路被配置用于测试开关。 开关测试电路包括开关元件,第一发光二极管和控制芯片。 第一发光二极管,开关元件和开关串联连接。 第一发光二极管被配置用于指示开关和开关测试电路之间的连接状态。 控制芯片被配置为从开关元件的一个端子获取电压,并将所获取的电压与比较电压进行比较,以根据比较结果判断开关是合格的还是不合格的。