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1. 发明专利

TW202011039A 用於在積體電路中接合導線測試之方法及設備审中-公开
简体标题：用于在集成电路中接合导线测试之方法及设备
公开(公告)号：TW202011039A
公开(公告)日：2020-03-16
申请号：TW108124225
申请日：2019-07-10
申请人：美商泰瑞達公司 , TERADYNE, INC.
发明人：須藤安東尼 J , SUTO, ANTHONY J. , 雅典娜約翰約瑟 , ARENA, JOHN JOSEPH , 威霖約瑟法蘭絲 , WRINN, JOSEPH FRANCIS
IPC分类号： G01R31/312 , G01R27/26
摘要：本文中所揭示者係基於接合導線之間的電容耦合以識別IC裝置中的潛在缺陷之測試設備及方法。接合導線可具有潛在缺陷，該等潛在缺陷在測試時不會作為硬短路或硬開路出現，但可能造成隨著時間發展成硬短路或硬開路的高風險。當兩個相鄰接合導線受干擾而變得彼此接近時，潛在缺陷可能形成。根據一些實施例，一接腳對之間的電容耦合可用以提供連接至該接腳對的接合導線之間的近似短路潛在缺陷之一指示。
简体摘要：本文中所揭示者系基于接合导线之间的电容耦合以识别IC设备中的潜在缺陷之测试设备及方法。接合导线可具有潜在缺陷，该等潜在缺陷在测试时不会作为硬短路或硬开路出现，但可能造成随着时间发展成硬短路或硬开路的高风险。当两个相邻接合导线受干扰而变得彼此接近时，潜在缺陷可能形成。根据一些实施例，一接脚对之间的电容耦合可用以提供连接至该接脚对的接合导线之间的近似短路潜在缺陷之一指示。

2. 发明专利

TW201910788A 三相變流裝置及電容估算方法审中-公开
简体标题：三相变流设备及电容估算方法
公开(公告)号：TW201910788A
公开(公告)日：2019-03-16
申请号：TW106132868
申请日：2017-09-26
申请人：台達電子工業股份有限公司 , DELTA ELECTRONICS, INC.
发明人：董明軒 , DONG, MING-XUAN , 馬彥 , MA, YAN , 王長永 , WANG, CHANG-YONG , 邱愛斌 , QIU, AI-BIN
IPC分类号： G01R27/26
摘要：一種電容估算方法，應用於三相變流裝置中。三相變流裝置包含三相變流器與處理器，並由處理器執行以下步驟：(a)輸出非基頻信號至三相變流器中，俾使三相變流器之母線電壓產生非基頻波動；(b)取得三相變流器之母線電壓；(c)根據母線電壓、母線電容估計值、輸入功率及三相變流器之輸出功率得到母線電壓估計值；(d)母線電壓及母線電壓估計值經過濾波環節，分別輸出與非基頻波動對應的第一交流分量和第二交流分量；以及(e)依據第一交流分量、第二交流分量及母線電容初始值，估算母線電容值。
简体摘要：一种电容估算方法，应用于三相变流设备中。三相变流设备包含三相变流器与处理器，并由处理器运行以下步骤：(a)输出非基频信号至三相变流器中，俾使三相变流器之母线电压产生非基频波动；(b)取得三相变流器之母线电压；(c)根据母线电压、母线电容估计值、输入功率及三相变流器之输出功率得到母线电压估计值；(d)母线电压及母线电压估计值经过滤波环节，分别输出与非基频波动对应的第一交流分量和第二交流分量；以及(e)依据第一交流分量、第二交流分量及母线电容初始值，估算母线电容值。

3. 发明专利

TWI645201B 靜電電容式感測器裝置、及靜電電容式感測器裝置之控制方法有权
简体标题：静电电容式传感器设备、及静电电容式传感器设备之控制方法
公开(公告)号：TWI645201B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：TW107106324
申请日：2018-02-26
申请人：日商阿爾普士電氣股份有限公司 , ALPS ELECTRIC CO., LTD.
发明人：田端正史 , TABATA, MASASHI
IPC分类号： G01R29/12 , G01R27/26

4. 发明专利

TWI642945B 電感量測裝置與電感量測方法有权
简体标题：电感量测设备与电感量测方法
公开(公告)号：TWI642945B
公开(公告)日：2018-12-01
申请号：TW106146357
申请日：2017-12-29
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：鄒明穎 , TSOU, MING-YING , 鄭倚僑 , CHENG, CHI-CHIAO , 陳文鍾 , CHEN, WEN-CHUNG , 蔡志明 , TSAI, CHIH-MING , 洪子騫 , HONG, ZI-CHIAN
IPC分类号： G01R27/26

5. 发明专利

TWI640785B 用於三維電場感測器之矩陣電極設計有权
简体标题：用于三维电场传感器之矩阵电极设计
公开(公告)号：TWI640785B
公开(公告)日：2018-11-11
申请号：TW103109321
申请日：2014-03-14
申请人：美商微晶片科技公司 , MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
发明人：奧鮑爾羅藍 , AUBAUER, ROLAND , 卡特納克勞斯 , KALTNER, CLAUS , 羅斯那路希安 , ROSCA, LUCIAN
IPC分类号： G01R27/26 , G06F3/044

6. 发明专利

TW201823738A 電力系統的電容器之電容值監控方法审中-公开
简体标题：电力系统的电容器之电容值监控方法
公开(公告)号：TW201823738A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW106107700
申请日：2017-03-09
申请人：英捷力電機股份有限公司
发明人：林俊廷
IPC分类号： G01R27/26 , G06F17/10
摘要：本發明係一種電力系統的電容器之電容值監控方法，係應用在電力系統的電力監控設備，其包括接收電力系統中作為功率因數改善或吸收諧波之調諧濾波器的電容器所連接的比流器及比壓器所傳來的電流值及電壓值，再根據電流值及電壓值計算電容器的無效功率輸出量，再根據無效功率輸出量計算出電容器的電容值，而被計算出的電容值與電容器的額定值比較，藉以判斷電容器是否衰減或損壞。
简体摘要：本发明系一种电力系统的电容器之电容值监控方法，系应用在电力系统的电力监控设备，其包括接收电力系统中作为功率因子改善或吸收谐波之调谐滤波器的电容器所连接的比流器及比压器所传来的电流值及电压值，再根据电流值及电压值计算电容器的无效功率输出量，再根据无效功率输出量计算出电容器的电容值，而被计算出的电容值与电容器的额定值比较，借以判断电容器是否衰减或损坏。

7. 发明专利

TW201809689A 取得表示靜電電容之數據的方法审中-公开
简体标题：取得表示静电电容之数据的方法
公开(公告)号：TW201809689A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：TW106109865
申请日：2017-03-24
申请人：東京威力科創股份有限公司 , TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人：杉田吉平 , SUGITA, KIPPEI , 南朋秀 , MINAMI, TOMOHIDE
IPC分类号： G01R27/26
摘要：在表示測量器與聚焦環之間的靜電電容的測量數據之取得中，抑制測量器電源的消費電力。測量器之處理器會以預設的時間間隔來取得一個以上的第1數據組。各一個以上的第1數據組係包含表示測量器的一個以上的感應電極中對應的感應電極的靜電電容之複數數位值。處理器係回應於各一個以上的第1數據組所包含之複數數位值的平均值會成為第1閾值以上的情形，而取得複數第2數據組。各複數第2數據組係包含表示測量器的複數感應電極中對應的感應電極的靜電電容之複數數位值。處理器會將基於複數第2數據組的測量數據記憶於測量器之記憶裝置。接著，從腔室來將測量器搬出。
简体摘要：在表示测量器与聚焦环之间的静电电容的测量数据之取得中，抑制测量器电源的消费电力。测量器之处理器会以默认的时间间隔来取得一个以上的第1数据组。各一个以上的第1数据组系包含表示测量器的一个以上的感应电极中对应的感应电极的静电电容之复数数码值。处理器系回应于各一个以上的第1数据组所包含之复数数码值的平均值会成为第1阈值以上的情形，而取得复数第2数据组。各复数第2数据组系包含表示测量器的复数感应电极中对应的感应电极的静电电容之复数数码值。处理器会将基于复数第2数据组的测量数据记忆于测量器之记忆设备。接着，从腔室来将测量器搬出。

8. 发明专利

TW201800765A 電容感測裝置及其感測方法审中-公开
简体标题：电容传感设备及其传感方法
公开(公告)号：TW201800765A
公开(公告)日：2018-01-01
申请号：TW105139403
申请日：2016-11-30
申请人：奇景光電股份有限公司 , HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
发明人：林昌輝 , LIN, CHANG-HUI , 張耀光 , CHANG, YAW-GUANG
IPC分类号： G01R27/26 , G06F3/044
CPC分类号： G01R27/2605 , G01D5/24
摘要：一種電容感測裝置及其感測方法。分別提供不同參考頻率的振盪信號給驅動電路以及混波器，混波器將具有較低參考頻率的振盪信號與帶通濾波信號進行混波，並在進行混波之前，透過帶通濾波電路先對感測信號進行帶通濾波。
简体摘要：一种电容传感设备及其传感方法。分别提供不同参考频率的振荡信号给驱动电路以及混波器，混波器将具有较低参考频率的振荡信号与带通滤波信号进行混波，并在进行混波之前，透过带通滤波电路先对传感信号进行带通滤波。

9. 实用新型

TWM545253U 電容漏電流量測系統有权
简体标题：电容漏电流量测系统
公开(公告)号：TWM545253U
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：TW106204871
申请日：2017-04-07
申请人：中華精測科技股份有限公司 , CHUNGHWA PRECISION TEST TECH. CO., LTD.
发明人：溫翰強 , WEN, HAN CHIANG , 張嘉恩 , CHANG, CHIA EN
IPC分类号： G01R27/26

10. 发明专利

TW201716787A 介電常數量測方法及介電常數量測裝置审中-公开
简体标题：介电常数量测方法及介电常数量测设备
公开(公告)号：TW201716787A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW104137214
申请日：2015-11-11
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：洪政源 , HUNG, CHENG YUAN , 翁敏航 , WENG, MIN HANG , 尤崇智 , YU, TSUNG CHIH , 吳春森 , WU, CHUN SEN
IPC分类号： G01R27/26
摘要：一種介電常數量測方法，包含下列步驟。使用同軸訊號線量測第一測試物，以得到第一測試物之第一負載阻抗。環狀微帶線設置於基板的第一表面上。使用同軸訊號線量測第二測試物，以得到第二測試物之第二負載阻抗。使用處理器對第一負載阻抗和第二負載阻抗進行除法運算，以得到第一測試物和第二測試物之傳播常數。藉由傳播常數決定第一測試物和第二測試物之介電常數和導電率。
简体摘要：一种介电常数量测方法，包含下列步骤。使用同轴信号线量测第一测试物，以得到第一测试物之第一负载阻抗。环状微带线设置于基板的第一表面上。使用同轴信号线量测第二测试物，以得到第二测试物之第二负载阻抗。使用处理器对第一负载阻抗和第二负载阻抗进行除法运算，以得到第一测试物和第二测试物之传播常数。借由传播常数决定第一测试物和第二测试物之介电常数和导电率。

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