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1. 发明专利

TWI694248B 分子檢測的方法有权
简体标题：分子检测的方法
公开(公告)号：TWI694248B
公开(公告)日：2020-05-21
申请号：TW106133864
申请日：2017-09-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：王營城 , WANG, YING-CHENG , 金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65

2. 发明专利

TWI687677B 光學基板及其製備方法有权
简体标题：光学基板及其制备方法
公开(公告)号：TWI687677B
公开(公告)日：2020-03-11
申请号：TW108102542
申请日：2019-01-23
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：曾繁根 , TSENG, FAN-GANG , 潘孟汝 , PAN, MENG-JU
IPC分类号： G01N21/65

3. 发明专利

TWI670484B 分子檢測裝置有权
简体标题：分子检测设备
公开(公告)号：TWI670484B
公开(公告)日：2019-09-01
申请号：TW106133867
申请日：2017-09-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：王營城 , WANG, YING-CHENG , 金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/01 , G06F17/00 , G01J3/44 , G01N23/2251 , C08K3/08 , C08J5/00

4. 发明专利

TWI668434B 用於分子檢測的分子載體有权
简体标题：用于分子检测的分子载体
公开(公告)号：TWI668434B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW106133871
申请日：2017-09-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：王營城 , WANG, YING-CHENG , 金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65 , G01N1/28 , G01J3/44 , G01N23/2251 , C08K3/08 , C08J5/00 , C01B32/158

5. 发明专利

TWI668432B 用於分子檢測的分子載體的製備方法有权
简体标题：用于分子检测的分子载体的制备方法
公开(公告)号：TWI668432B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW106133869
申请日：2017-09-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：王營城 , WANG, YING-CHENG , 金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65 , G01N1/28 , C01B32/158 , G01J3/44 , C08J5/00 , C08K3/08 , G01N23/2251

6. 发明专利

TWI651530B 可致動式表面增強拉曼光譜感測器級台有权
简体标题：可致动式表面增强拉曼光谱传感器级台
公开(公告)号：TWI651530B
公开(公告)日：2019-02-21
申请号：TW106119252
申请日：2017-06-09
申请人：美商惠普發展公司有限責任合夥企業 , HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
发明人：葛寧 , GE, NING , 后德爾海倫 A. , HOLDER, HELEN A. , 席姆斯基史提芬 J. , SIMSKE, STEVEN J. , 羅賈斯艾尼塔 , ROGACS, ANITA , 斯寇林寇夫維克特 , SHKOLNIKOV, VIKTOR
IPC分类号： G01N21/65

7. 发明专利

TWI642620B 具氧化石墨烯複合材料薄膜的表面增強拉曼散射感測基片及其製備方法有权
简体标题：具氧化石墨烯复合材料薄膜的表面增强拉曼散射传感基片及其制备方法
公开(公告)号：TWI642620B
公开(公告)日：2018-12-01
申请号：TW106129716
申请日：2017-08-31
申请人：國立高雄大學 , NATIONAL UNIVERSITY OF KAOHSIUNG
发明人：王瑞琪 , WANG, RUEY CHI , 陳昱亘 , CHEN, YU HSUAN
IPC分类号： C01B32/198 , G01N21/65 , G01J3/44

8. 发明专利

TWI615607B 分析物檢測設備及其製造方法有权
简体标题：分析物检测设备及其制造方法
公开(公告)号：TWI615607B
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：TW105123198
申请日：2016-07-22
申请人：惠普發展公司有限責任合夥企業 , HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
发明人：巴西羅史蒂芬 , BARCELO, STEVEN , 葛寧 , GE, NING , 李次揚 , LI, ZHIYONG
IPC分类号： G01N21/65
CPC分类号： G01N21/645 , G01N21/648 , G01N21/658 , G01N2021/6482 , G01N2021/651

9. 发明专利

TW201802458A 一種檢測單分子的方法审中-公开
简体标题：一种检测单分子的方法
公开(公告)号：TW201802458A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：TW105122540
申请日：2016-07-18
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/03
CPC分类号： G01N21/65 , G01N21/658
摘要：本發明涉及一種單分子檢測的方法，包括步驟：提供一分子載體，所述分子載體包括：一基板以及設置於所述基板表面的金屬層；所述基板包括一基底以及複數個設置於該基底表面的圖案化的凸起，所述圖案化的凸起包括複數個凸條交叉設置形成網狀結構，從而定義複數個孔洞；所述金屬層設置於所述圖案化的凸起的表面；在所述金屬層遠離基板的表面組裝待測物分子；利用檢測器對組裝在分子載體上的所述待測物分子進行檢測。本發明的單分子檢測的方法具有以下有益效果：金屬層設置在圖案化的凸起的表面，而圖案化的凸起包括複數個凸條交叉設置形成網狀結構，故，交叉設置的凸條起到表面增強拉曼散射的作用，可提高SERS增強因數，增強拉曼散射。
简体摘要：本发明涉及一种单分子检测的方法，包括步骤：提供一分子载体，所述分子载体包括：一基板以及设置于所述基板表面的金属层；所述基板包括一基底以及复数个设置于该基底表面的图案化的凸起，所述图案化的凸起包括复数个凸条交叉设置形成网状结构，从而定义复数个孔洞；所述金属层设置于所述图案化的凸起的表面；在所述金属层远离基板的表面组装待测物分子；利用检测器对组装在分子载体上的所述待测物分子进行检测。本发明的单分子检测的方法具有以下有益效果：金属层设置在图案化的凸起的表面，而图案化的凸起包括复数个凸条交叉设置形成网状结构，故，交叉设置的凸条起到表面增强拉曼散射的作用，可提高SERS增强因子，增强拉曼散射。

10. 发明专利

TW201802457A 一種用於單分子檢測的分子載體的製備方法审中-公开
简体标题：一种用於单分子检测的分子载体的制备方法
公开(公告)号：TW201802457A
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：TW105122530
申请日：2016-07-15
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：金元浩 , JIN, YUAN-HAO , 李群慶 , LI, QUN-QING , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G01N21/65 , G01N1/28 , C01B32/05
CPC分类号： G01N21/658 , C01B32/158 , C01B32/174
摘要：本發明涉及一種用於單分子檢測的分子載體的製備方法，該方法包括以下步驟：提供一基板；提供一具有複數個微孔的奈米碳管複合結構，該奈米碳管複合結構包括一奈米碳管結構以及一包覆於該奈米碳管結構表面的預製層，且該奈米碳管結構包括複數個交叉設置的奈米碳管；將所述奈米碳管複合結構設置於所述基板的表面，從而使的所述基板的表面部分暴露；以該奈米碳管複合結構為掩模幹法刻蝕所述基板，從而的到一具有圖案化的凸起的基板，且該圖案化的凸起包括複數個凸條交叉設置形成網狀結構，從而定義複數個孔洞；以及在所述圖案化的凸起上沈積一金屬層。本發明的分子載體的製備方法簡單、效率高，且易於產業化。
简体摘要：本发明涉及一种用於单分子检测的分子载体的制备方法，该方法包括以下步骤：提供一基板；提供一具有复数个微孔的奈米碳管复合结构，该奈米碳管复合结构包括一奈米碳管结构以及一包覆于该奈米碳管结构表面的预制层，且该奈米碳管结构包括复数个交叉设置的奈米碳管；将所述奈米碳管复合结构设置于所述基板的表面，从而使的所述基板的表面部分暴露；以该奈米碳管复合结构为掩模干法刻蚀所述基板，从而的到一具有图案化的凸起的基板，且该图案化的凸起包括复数个凸条交叉设置形成网状结构，从而定义复数个孔洞；以及在所述图案化的凸起上沉积一金属层。本发明的分子载体的制备方法简单、效率高，且易于产业化。

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