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1. 发明专利

TWI677231B 顯示器檢測方法與系統有权
简体标题：显示器检测方法与系统
公开(公告)号：TWI677231B
公开(公告)日：2019-11-11
申请号：TW107109006
申请日：2018-03-16
申请人：和碩聯合科技股份有限公司 , PEGATRON CORPORATION
发明人：陳志成 , CHEN, CHIH-CHENG
IPC分类号： H04N17/02 , G01J3/00

2. 发明专利

TW201601514A 顯示器檢測方法及其系統审中-公开
简体标题：显示器检测方法及其系统
公开(公告)号：TW201601514A
公开(公告)日：2016-01-01
申请号：TW103120883
申请日：2014-06-17
申请人：高雄晶傑達光電科技股份有限公司 , KAOHSIUNG OPTO-ELECTRONICS INC.
发明人：許育彰 , HSU, YU CHANG
IPC分类号： H04N17/04 , G01J3/00
摘要：一種顯示器檢測方法，其步驟包括：提供複數台顯示器；以一第一檢測單元測量每一該複數台顯示器，每台顯示器具有一第一測量值；從該複數台顯示器中取出一預設數量的顯示器；以一第二檢測單元測量每一該預設數量的顯示器，每台該預設數量的顯示器具有一第二測量值；以該預設數量的顯示器的第一測量值及第二測量值作為X軸及Y軸座標，獲得一第一趨勢線；以及定義一篩選標準值。以及，一種顯示器檢測系統，包含一第一檢測單元；一第二檢測單元；一儲存單元用以儲存第一及第二測量值；以及一分析單元，用以取得一第一趨勢線以及一篩選標準值。
简体摘要：一种显示器检测方法，其步骤包括：提供复数台显示器；以一第一检测单元测量每一该复数台显示器，每台显示器具有一第一测量值；从该复数台显示器中取出一默认数量的显示器；以一第二检测单元测量每一该默认数量的显示器，每台该默认数量的显示器具有一第二测量值；以该默认数量的显示器的第一测量值及第二测量值作为X轴及Y轴座标，获得一第一趋势线；以及定义一筛选标准值。以及，一种显示器检测系统，包含一第一检测单元；一第二检测单元；一存储单元用以存储第一及第二测量值；以及一分析单元，用以取得一第一趋势线以及一筛选标准值。

3. 发明专利

TWI481833B 一種光質累積計算裝置及方法有权
简体标题：一种光质累积计算设备及方法
公开(公告)号：TWI481833B
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW102125754
申请日：2013-07-18
申请人：吳炎東 , WU, YEN DONG
发明人：吳炎東 , WU, YEN DONG
IPC分类号： G01J3/00

4. 发明专利

TWI476383B 以黑體輻射光譜相似性分析光源品質之方法有权
简体标题：以黑体辐射光谱相似性分析光源品质之方法
公开(公告)号：TWI476383B
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：TW102113559
申请日：2013-04-17
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：周卓煇 , JOU, JWO HUEI , 曾俊儒 , TSENG, CHUN JU , 楊富欽 , YANG, FU CHIN
IPC分类号： G01J3/00
CPC分类号： G01J1/42 , G01J3/505 , G01J5/52 , G01J5/60 , G01J2001/4247 , G01J2005/608

5. 实用新型

TWM495506U 可攜式光學量測裝置有权
简体标题：可携式光学量测设备
公开(公告)号：TWM495506U
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：TW103214195
申请日：2014-08-08
申请人：台灣超微光學股份有限公司 , OTO PHOTONICS, INC.
发明人：康啟原 , KANG, CHI YUAN , 李婉瑜 , LEE, WAN YU , 張癸五 , CHANG, KUEI WU , 吳忠衛 , WU, CHUNG WEI , 周昌誠 , CHOU, CHANG CHENG , 鄭旭峯 , CHENG, HSU FENG
IPC分类号： G01J3/00

6. 发明专利

TWI697659B 光譜量測系統、光譜量測裝置、光學量測方法與光學校正方法有权
简体标题：光谱量测系统、光谱量测设备、光学量测方法与光学校正方法
公开(公告)号：TWI697659B
公开(公告)日：2020-07-01
申请号：TW106101443
申请日：2017-01-16
申请人：台灣超微光學股份有限公司 , OTO PHOTONICS INC.
发明人：洪健翔 , HUNG, CHIEN-HSIANG , 林昇旺 , LIN, SHENG WANG , 鄭旭峯 , CHENG, HSU FENG
IPC分类号： G01J3/28 , G01J3/00 , H04B10/80

7. 发明专利

TW201614090A 沉積銦錫氧化物之控制方法审中-公开
简体标题：沉积铟锡氧化物之控制方法
公开(公告)号：TW201614090A
公开(公告)日：2016-04-16
申请号：TW103134597
申请日：2014-10-03
申请人：行政院原子能委員會核能研究所 , INSTITUTE OF NUCLEAR ENERGY RESEARCH ATOMIC ENERGY COUNCIL, EXECUTIVE YUAN
发明人：張世澤 , CHANG, SHIH TSE , 林維新 , LIN, WEI SIN , 吳錦裕 , WU, JIN YU , 謝政昌 , HSIEH, CHENG CHANG
IPC分类号： C23C14/54 , C23C14/08 , C23C14/34 , G05D7/00 , G05F1/66 , G01J3/00 , C01G15/00 , C01G19/02
摘要：一種沉積銦錫氧化物之控制方法，其步驟包括：提供一鍍膜系統且具有一銦錫氧化物鈀材；提供一氬氣且產生一氬離子電漿轟擊銦錫氧化物鈀材並產生複數個錫原子與銦原子；以回授控制方式調變一電源功率而即時補償控制該些錫原子之譜線強度ISn；以回授控制方式調變一氧氣流量而即時補償控制該些銦原子之譜線強度IIn；調整該些錫原子與該些銦原子之譜線強度如關係式：IIn/ISn=C，其中C為一常數；將該些錫原子、該些銦原子與該氧氣所形成之一銦錫氧化物濺鍍於一待鍍區域內。
简体摘要：一种沉积铟锡氧化物之控制方法，其步骤包括：提供一镀膜系统且具有一铟锡氧化物钯材；提供一氩气且产生一氩离子等离子轰击铟锡氧化物钯材并产生复数个锡原子与铟原子；以回授控制方式调制一电源功率而实时补偿控制该些锡原子之谱线强度ISn；以回授控制方式调制一氧气流量而实时补偿控制该些铟原子之谱线强度IIn；调整该些锡原子与该些铟原子之谱线强度如关系式：IIn/ISn=C，其中C为一常数；将该些锡原子、该些铟原子与该氧气所形成之一铟锡氧化物溅镀于一待镀区域内。

8. 实用新型

TWM513999U 紅外線發光二極體檢測箱及裝置失效
简体标题：红外线发光二极管检测箱及设备
公开(公告)号：TWM513999U
公开(公告)日：2015-12-11
申请号：TW104215435
申请日：2015-09-24
申请人：台郡科技股份有限公司
发明人：鍾昊弘 , 黃宏華
IPC分类号： G01J3/00

9. 发明专利

TWI507810B 基於光的光譜監控之相機測試及校準有权
简体标题：基于光的光谱监控之相机测试及校准
公开(公告)号：TWI507810B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：TW101120775
申请日：2012-06-08
申请人：蘋果公司 , APPLE INC.
发明人：休貝爾保羅M , HUBEL, PAUL M. , 貝爾里查德L , BAER, RICHARD L.
IPC分类号： G03B43/00 , G02B27/62 , G01J3/00
CPC分类号： H04N17/002

10. 实用新型

TWM461046U 簡易型光譜儀器失效
简体标题：简易型光谱仪器
公开(公告)号：TWM461046U
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW102208781
申请日：2013-05-10
申请人：明新科技大學
发明人：聶華明 , 楊明豐 , 周玉崑 , 莊瑞續 , 賴慕回 , 陳建治
IPC分类号： G01J3/00

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