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    • 6. 发明专利
    • 用於散裝材料除塵的設備和方法
    • 用于散装材料除尘的设备和方法
    • TW202014249A
    • 2020-04-16
    • TW108135014
    • 2019-09-27
    • 威廉 克勞斯WILHELM, KLAUS
    • 威廉 克勞斯WILHELM, KLAUS
    • B03B5/28B07B7/01B07B7/02B07B11/00B08B5/00
    • 在分批操作中,將顆粒料灌入除塵槽,該除塵槽在下部顆粒出口處沒有封閉元件,並且在下部錐體中配置用於引入壓縮空氣的迴旋噴嘴—特別取決於下方的中間槽中填充高度—並將其充入到除塵槽。可以是向下掉落而沒有逆流,透過運走引入的空氣進行除塵;或者已經在填充過程中引入逆流,部分地讓填充的顆粒料不從顆粒出口中掉落,而是將它們保持準漂浮的在除塵槽的下部三分之一或下部四分之一部位處。透過控制逆流,可以控制高度顆粒料湍流的的反轉區域高度,還有顆粒料在除塵槽中的停留時間,以致該裝置也可以持續運作。
    • 在分批操作中,将颗粒料灌入除尘槽,该除尘槽在下部颗粒出口处没有封闭组件,并且在下部锥体中配置用于引入压缩空气的回旋喷嘴—特别取决于下方的中间槽中填充高度—并将其充入到除尘槽。可以是向下掉落而没有逆流,透过运走引入的空气进行除尘;或者已经在填充过程中引入逆流,部分地让填充的颗粒料不从颗粒出口中掉落,而是将它们保持准漂浮的在除尘槽的下部三分之一或下部四分之一部位处。透过控制逆流,可以控制高度颗粒料湍流的的反转区域高度,还有颗粒料在除尘槽中的停留时间,以致该设备也可以持续运作。
    • 9. 发明专利
    • 電子元件檢測設備
    • 电子组件检测设备
    • TW202004201A
    • 2020-01-16
    • TW107119337
    • 2018-06-05
    • 華邦電子股份有限公司WINBOND ELECTRONICS CORP.
    • 傅廷明FU, TING MING
    • G01R31/26B07C3/10
    • 一種電子元件檢測設備,適於對一電子元件進行檢測,包括一第一輸送軌道、一第一轉盤、一第一影像擷取裝置、一第二影像擷取裝置、一第三影像擷取裝置、一第二轉盤以及一第四影像擷取裝置。第一轉盤繞一第一軸旋轉。當該第一轉盤輸送該電子元件時,該第一影像擷取裝置、該第二影像擷取裝置以及該第三影像擷取裝置擷取該電子元件之的影像。第二轉盤繞一第二軸旋轉,該第二軸垂直於該第一軸。當該第二轉盤輸送該電子元件時,該第四影像擷取裝置擷取該電子元件之影像。
    • 一种电子组件检测设备,适于对一电子组件进行检测,包括一第一输送轨道、一第一转盘、一第一影像截取设备、一第二影像截取设备、一第三影像截取设备、一第二转盘以及一第四影像截取设备。第一转盘绕一第一轴旋转。当该第一转盘输送该电子组件时,该第一影像截取设备、该第二影像截取设备以及该第三影像截取设备截取该电子组件之的影像。第二转盘绕一第二轴旋转,该第二轴垂直于该第一轴。当该第二转盘输送该电子组件时,该第四影像截取设备截取该电子组件之影像。