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1. 发明专利

TW201731140A 有機發光顯示面板及其檢測以及補償方法审中-公开
简体标题：有机发光显示皮肤及其检测以及补偿方法
公开(公告)号：TW201731140A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：TW105105203
申请日：2016-02-23
申请人：友達光電股份有限公司 , AU OPTRONICS CORPORATION
发明人：陳建銓 , CHEN, CHIEN-CHUAN
IPC分类号： H01L51/56 , G01J1/10 , G05D5/02 , H01L27/32
摘要：本發明提供一種有機發光顯示面板及其檢測以及補償方法。首先，提供有機發光顯示面板，且將有機發光顯示面板進行檢測步驟，以檢測出異常亮區。標記有機發光顯示面板之異常亮區的位置。計算異常亮區的亮度值，並將異常亮區的亮度值換算成補償厚度值。接著，進行有機發光顯示面板的補償程序，以對有機發光顯示面板對應異常亮區進行厚度補償步驟。
简体摘要：本发明提供一种有机发光显示皮肤及其检测以及补偿方法。首先，提供有机发光显示皮肤，且将有机发光显示皮肤进行检测步骤，以检测出异常亮区。标记有机发光显示皮肤之异常亮区的位置。计算异常亮区的亮度值，并将异常亮区的亮度值换算成补偿厚度值。接着，进行有机发光显示皮肤的补偿进程，以对有机发光显示皮肤对应异常亮区进行厚度补偿步骤。

2. 发明专利

TWI569493B 有機發光顯示面板及其檢測以及補償方法有权
简体标题：有机发光显示皮肤及其检测以及补偿方法
公开(公告)号：TWI569493B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：TW105105203
申请日：2016-02-23
申请人：友達光電股份有限公司 , AU OPTRONICS CORPORATION
发明人：陳建銓 , CHEN, CHIEN-CHUAN
IPC分类号： H01L51/56 , G01J1/10 , G05D5/02 , H01L27/32

3. 发明专利

TWI432929B 控制雙軸向聚合膜之橫向網路卡尺圖形之方法有权
简体标题：控制双轴向聚合膜之横向网络卡尺图形之方法
公开(公告)号：TWI432929B
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW095119288
申请日：2006-05-30
申请人： 3M新設資產公司 , 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY
发明人：東諾凡查理斯康雷德卡爾格二世 , KARG, DONOVAN CHARLES CONRAD JR. , 黃超平 , WONG, CHIU PING
IPC分类号： G05D5/02 , G01B21/08
CPC分类号： B29C55/065 , B29C35/02 , B29C47/0021 , B29C47/92 , B29C55/143 , B29C2037/90 , B29C2947/92076 , B29C2947/92133 , B29C2947/92152 , B29C2947/92428 , B29C2947/92571 , B29C2947/92628 , B29C2947/92647 , B29C2947/92704 , B29C2947/92904 , B29C2947/92923

4. 发明专利

TWI460569B 用於監測和控制增強性能的材料至起皺圓筒的運用之方法有权
简体标题：用于监测和控制增强性能的材料至起皱圆筒的运用之方法
公开(公告)号：TWI460569B
公开(公告)日：2014-11-11
申请号：TW098133515
申请日：2009-10-02
申请人：奈寇公司 , NALCO COMPANY
发明人：崔斯克威廉A 帆 , DRASEK, WILLIAM A. VON , 班克魯尼H , BANKS, RODNEY H. , 費曼蓋瑞S , FURMAN, GARY S.
IPC分类号： G05D5/02 , B05C11/00
CPC分类号： D21F11/14 , B31F1/14 , D21G9/0036 , D21G9/0045

5. 发明专利

TW201303539A 帶材平坦度控制方法及帶材平坦度控制系統审中-公开
简体标题：带材平坦度控制方法及带材平坦度控制系统
公开(公告)号：TW201303539A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：TW101108862
申请日：2012-03-15
申请人：艾寶研究有限公司 , ABB RESEARCH LTD.
发明人：赫姆馬可斯 , HOLM, MARKUS , 莫登派艾瑞克 , MODEN, PER-ERIK
IPC分类号： G05D5/02
CPC分类号： B21B37/28 , B21B13/147 , B21B37/30 , B21B38/02
摘要：本發明係關於一種用來在一包含多個可用致動器控制的軋輥的軋機中滾軋帶材時提供平坦度控制的方法。該方法包含的步驟為：接收有關於該帶材的平坦度的平坦度測量數據(S1)；決定一平坦度誤差作為該帶材的參考平坦度與該平坦度測量數據之間的差異(S2)；根據該平坦度誤差及用於致動器位置組合的權重(weights)(其可提供一低於門檻值的平坦度影響)來決定一經過調整的平坦度誤差(S3)；及讓控制單元利用該經過調整的平坦度誤差來控制該等致動器，藉以控制該帶材的平坦度(S4)。一種實施上述方法的電腦程式產品及控制系統亦在本案中被提出。
简体摘要：本发明系关于一种用来在一包含多个可用致动器控制的轧辊的轧机中滚轧带材时提供平坦度控制的方法。该方法包含的步骤为：接收有关于该带材的平坦度的平坦度测量数据(S1)；决定一平坦度误差作为该带材的参考平坦度与该平坦度测量数据之间的差异(S2)；根据该平坦度误差及用于致动器位置组合的权重(weights)(其可提供一低于门槛值的平坦度影响)来决定一经过调整的平坦度误差(S3)；及让控制单元利用该经过调整的平坦度误差来控制该等致动器，借以控制该带材的平坦度(S4)。一种实施上述方法的电脑进程产品及控制系统亦在本案中被提出。

6. 发明专利

TWI561947B 帶材平坦度控制方法及帶材平坦度控制系統有权
简体标题：带材平坦度控制方法及带材平坦度控制系统
公开(公告)号：TWI561947B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW101108862
申请日：2012-03-15
申请人：艾寶研究有限公司 , ABB RESEARCH LTD.
发明人：赫姆馬可斯 , HOLM, MARKUS , 莫登派艾瑞克 , MODEN, PER-ERIK
IPC分类号： G05D5/02
CPC分类号： B21B37/28 , B21B13/147 , B21B37/30 , B21B38/02

7. 发明专利

TWI407286B 補正板形變監測系統失效
简体标题：补正板形变监测系统
公开(公告)号：TWI407286B
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW097120089
申请日：2008-05-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：簡士哲 , CHIEN, SHIH CHE
IPC分类号： G05D5/02 , G05B19/4065

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