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1. 发明专利

TWI667342B 採便器有权
简体标题：采便器
公开(公告)号：TWI667342B
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：TW105106556
申请日：2016-03-03
申请人：日商協和梅德庫斯股份有限公司 , KYOWA MEDEX CO., LTD.
发明人：嶋田庸正 , SHIMADA, YASUMASA
IPC分类号： C12M1/26 , C12M1/28 , G01N1/04

2. 发明专利

TW201636419A 採便器审中-公开
简体标题：采便器
公开(公告)号：TW201636419A
公开(公告)日：2016-10-16
申请号：TW105106556
申请日：2016-03-03
申请人：協和梅德庫斯股份有限公司 , KYOWA MEDEX CO., LTD.
发明人：嶋田庸正 , SHIMADA, YASUMASA
IPC分类号： C12M1/26 , C12M1/28 , G01N1/04
CPC分类号： B65D51/24 , G01N1/00 , G01N1/04 , G01N33/48
摘要：本發明之課題在於提供一種採便器，其係具備容器本體、嵌合於該容器本體之內部之嵌合體、及一側具有抓持部且另一側具有棒部之採便棒者，並且採便棒之旋轉相對於嵌合體於特定之位置確實地卡止。本發明之採便器係具備容器本體、嵌合於該容器本體之內部之嵌合體、及一側具有抓持部且另一側具有棒部之採便棒者，並且於抓持部之下表面且棒部之基端之兩側之位置設置止動部，該止動部於螺入採便棒時藉由抵接於嵌合體本體之長邊之內壁而相對於嵌合體於特定位置卡止採便棒之旋轉，於螺出採便棒時不抵接於嵌合體本體之長邊之內壁。
简体摘要：本发明之课题在于提供一种采便器，其系具备容器本体、嵌合于该容器本体之内部之嵌合体、及一侧具有抓持部且另一侧具有棒部之采便棒者，并且采便棒之旋转相对于嵌合体于特定之位置确实地卡止。本发明之采便器系具备容器本体、嵌合于该容器本体之内部之嵌合体、及一侧具有抓持部且另一侧具有棒部之采便棒者，并且于抓持部之下表面且棒部之基端之两侧之位置设置止动部，该止动部于螺入采便棒时借由抵接于嵌合体本体之长边之内壁而相对于嵌合体于特定位置卡止采便棒之旋转，于螺出采便棒时不抵接于嵌合体本体之长边之内壁。

3. 发明专利

TW201621293A 海底量測之十字片剪力試驗設備审中-公开
简体标题：海底量测之十字片剪力试验设备
公开(公告)号：TW201621293A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：TW103141723
申请日：2014-12-02
申请人：建國科技大學
发明人：許懷後 , 劉蕎銘
IPC分类号： G01N3/24 , G01N1/04 , G01C13/00
摘要：一種海底量測之十字片剪力試驗設備，係由不同貫入深度之十字片剪力試驗儀、重力土壤取樣器、重錘及反力座所組成。十字片剪力試驗儀以機械記讀方式固設於重錘下方，且於底端固設十字片剪並組裝於反力座上，投入海中，於反力座貫入並固著於海床後，利用重力驅動重錘，使其向下帶動十字片剪貫入海床扭剪轉動，可獲得數組不同深度之土壤不排水剪力強度，另外試驗設備所配置之重力土壤取樣器可以同時取得該位置之土壤樣本，以利後續試驗進行分析比對。
简体摘要：一种海底量测之十字片剪力试验设备，系由不同贯入深度之十字片剪力试验仪、重力土壤采样器、重锤及反力座所组成。十字片剪力试验仪以机械记读方式固设于重锤下方，且于底端固设十字片剪并组装于反力座上，投入海中，于反力座贯入并固着于海床后，利用重力驱动重锤，使其向下带动十字片剪贯入海床扭剪转动，可获得数组不同深度之土壤不排水剪力强度，另外试验设备所配置之重力土壤采样器可以同时取得该位置之土壤样本，以利后续试验进行分析比对。

4. 发明专利

TWI452281B 採便器有权
简体标题：采便器
公开(公告)号：TWI452281B
公开(公告)日：2014-09-11
申请号：TW098142640
申请日：2009-12-11
申请人：協和梅德庫斯股份有限公司 , KYOWA MEDEX CO., LTD.
发明人：島田庸正 , SHIMADA, YASUMASA
IPC分类号： G01N1/04 , G01N33/48
CPC分类号： A61B10/0038 , G01N1/08 , G01N1/38

5. 发明专利

TW202030478A 用於切割基板上的電子裝置的設備及方法审中-公开
简体标题：用于切割基板上的电子设备的设备及方法
公开(公告)号：TW202030478A
公开(公告)日：2020-08-16
申请号：TW108136635
申请日：2019-10-09
申请人：美商應用材料股份有限公司 , APPLIED MATERIALS, INC.
发明人：穆勒博海德 , MUELLER, BERNHARD G.
IPC分类号： G01N23/18 , G01N1/04 , H01J37/26 , H01J37/28
摘要：揭露了一種用於切割一電子裝置的方法及設備。在一實施例中，描述了一種用於在一基板上切割一電子裝置的設備，此設備包括用於支撐此基板的一平臺，此基板上具有此電子裝置；固定在此平臺上方的一位置上的一聚焦離子束柱，此聚焦離子束柱係適於在相對於此基板的一主要表面的一平面的一銳角角度處發射一光束路徑，以及與此聚焦離子束柱相鄰放置的一顯微鏡，其中此平臺在此電子裝置的切割期間僅限於在一X-Y平面中移動。
简体摘要：揭露了一种用于切割一电子设备的方法及设备。在一实施例中，描述了一种用于在一基板上切割一电子设备的设备，此设备包括用于支撑此基板的一平台，此基板上具有此电子设备；固定在此平台上方的一位置上的一聚焦离子束柱，此聚焦离子束柱系适于在相对于此基板的一主要表面的一平面的一锐角角度处发射一光束路径，以及与此聚焦离子束柱相邻放置的一显微镜，其中此平台在此电子设备的切割期间仅限于在一X-Y平面中移动。

6. 发明专利

TWI685648B 角質層採取具及角質層採取檢測用套組有权
简体标题：角质层采取具及角质层采取检测用套组
公开(公告)号：TWI685648B
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：TW104136717
申请日：2015-11-06
申请人：日商資生堂股份有限公司 , SHISEIDO COMPANY, LTD.
发明人：髙田素樹 , TAKATA, MOTOKI , 那須美恵子 , NASU, MIEKO , 鳥居晶仁 , TORII, AKIHITO , 名越雅彥 , NAGOSHI, MASAHIKO
IPC分类号： G01N1/04 , G01N1/31

7. 发明专利

TWI593949B 金屬帶取樣的裝置與方法有权
简体标题：金属带采样的设备与方法
公开(公告)号：TWI593949B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW101110066
申请日：2012-03-23
申请人： SMS邏輯系統股份有限公司 , SMS LOGISTIKSYSTEME GMBH
发明人：霍夫曼卡爾羅伯特 , HOFMANN, KARL ROBERT
IPC分类号： G01N1/04
CPC分类号： B21C47/22 , B21C47/3433 , B21C51/00 , B23D33/02

8. 发明专利

TWI569006B 非金屬元素之分析方法、非金屬元素之分析系統、管理有機半導體材料之品質的方法及有機電子機器之製造方法有权
简体标题：非金属元素之分析方法、非金属元素之分析系统、管理有机半导体材料之品质的方法及有机电子机器之制造方法
公开(公告)号：TWI569006B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：TW101150444
申请日：2012-12-27
申请人：住化分析中心股份有限公司 , SUMIKA CHEMICAL ANALYSIS SERVICE, LTD.
发明人：今西克也 , IMANISHI, KATSUYA , 大橋一俊 , OHASHI, KAZUTOSHI , 越愛樹彦 , TSUKAGOSHI, AKIHIKO
IPC分类号： G01N25/14 , G01N1/04
CPC分类号： G01N33/442 , G01N2033/0095

9. 发明专利

TW201510497A 自密閉封件取樣固體之裝置及其使用方法审中-公开
简体标题：自密闭封件采样固体之设备及其使用方法
公开(公告)号：TW201510497A
公开(公告)日：2015-03-16
申请号：TW103120074
申请日：2014-06-10
申请人：艾克森斯公司 , AXENS
发明人：慕尼爾麥可 , MUNIER, MICHEL , 高薩德珍保羅 , GOUZARD, JEAN PAUL , 吉羅德瑞米
IPC分类号： G01N1/04 , G01N1/20 , B01J8/00
CPC分类号： G01N1/04 , B01J8/02 , B01J2208/00884 , B01J2208/00982 , G01N1/08 , G01N1/20
摘要：本發明揭示一種自一密閉封件(12)取樣一固體之裝置(14)，該裝置包括一主體(18)，主體(18)攜載一取樣頭(16)，取樣頭(16)具有一固體收集凹槽(28)、一經收集固體之傳送凹槽(28’)、用於該等凹槽且由控制構件(48)控制之角向位移閘門構件(30)。根據本發明，該裝置亦包括用於針對該等閘門構件之無負載位移(c)限制該等構件之角向空隙之構件(78、80)。
简体摘要：本发明揭示一种自一密闭封件(12)采样一固体之设备(14)，该设备包括一主体(18)，主体(18)携载一采样头(16)，采样头(16)具有一固体收集凹槽(28)、一经收集固体之发送凹槽(28’)、用于该等凹槽且由控制构件(48)控制之角向位移闸门构件(30)。根据本发明，该设备亦包括用于针对该等闸门构件之无负载位移(c)限制该等构件之角向空隙之构件(78、80)。

10. 发明专利

TWI645950B 半固化樹脂的脫離方法有权
简体标题：半固化树脂的脱离方法
公开(公告)号：TWI645950B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：TW106146631
申请日：2017-12-29
申请人：宏茂科技股份有限公司
发明人：曾智偉 , 彭駿
IPC分类号： B29B17/02 , G01N1/04 , G01N1/28 , H05K3/46

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