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1. 发明专利

TWI520791B 整料設備及二極體料件篩選方法有权
简体标题：整料设备及二极管料件筛选方法
公开(公告)号：TWI520791B
公开(公告)日：2016-02-11
申请号：TW102145623
申请日：2013-12-11
申请人：金寶電子(中國)有限公司 , KINPO ELECTRONICS (CHINA) CO., LTD. , 金寶電子工業股份有限公司 , KINPO ELECTRONICS, INC.
发明人：黃玉輝 , HUANG, YU HUI , 陳忠賢 , CHEN, CHUAN HSIEN
IPC分类号： B07C5/00

2. 发明专利

TWI509262B 用於測試分選機的拾放裝置有权
简体标题：用于测试分选机的十放设备
公开(公告)号：TWI509262B
公开(公告)日：2015-11-21
申请号：TW102129859
申请日：2013-08-20
申请人：泰克元股份有限公司 , TECHWING., CO. LTD.
发明人：李鎭福 , LEE, JIN-BOK , 劉永旻 , YOU, YOUNG-MIN
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/00

3. 发明专利

TW201543047A 電子元件檢測分選之搬送方法及裝置审中-公开
简体标题：电子组件检测分选之搬送方法及设备
公开(公告)号：TW201543047A
公开(公告)日：2015-11-16
申请号：TW103117064
申请日：2014-05-15
申请人：萬潤科技股份有限公司 , ALL RING TECH CO., LTD.
发明人：郭明宗
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/00
摘要：本發明係一種電子元件檢測分選之搬送方法及裝置，主要使待測元件被輸送槽道以第一搬送路徑從輸送口送出時，維持一第一置設方向；及使待測元件在維持一第一置設方向下，被以垂直第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被移送，而自一開口進入一測盤之容置空間；或在被輸送槽道以第一搬送路徑從輸送口送出時進行轉向；使進行上側發光(Top view)及側面發光(Side view)之發光二極體檢測時，可以共用相同的搬送方法及裝置者。
简体摘要：本发明系一种电子组件检测分选之搬送方法及设备，主要使待测组件被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时，维持一第一置设方向；及使待测组件在维持一第一置设方向下，被以垂直第一搬送路径方向的第二搬送路径被移送，而自一开口进入一测盘之容置空间；或在被输送槽道以第一搬送路径从输送口送出时进行转向；使进行上侧发光(Top view)及侧面发光(Side view)之发光二极管检测时，可以共享相同的搬送方法及设备者。

4. 发明专利

TW201534405A 分選機分流排出管快拆方法及裝置审中-公开
简体标题：分选机分流排出管快拆方法及设备
公开(公告)号：TW201534405A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW103107115
申请日：2014-03-04
申请人：萬潤科技股份有限公司 , ALL RING TECH CO., LTD.
发明人：黃子葳
IPC分类号： B07B7/00 , B07C5/00
摘要：本發明係一種分選機分流排出管快拆方法及裝置，包括：在一轉盤所形成之旋轉流路周側形以固定座形成第一定位端，另與第一定位端相隔間距下以止逆座形成一第二定位端，使第一、二定位端間經由一連接件聯結，並藉由撓性管體經第二定位端而使前端與第一定位端連接，撓性管體可以在第二定位端之止逆座被進行拘束定位或解除定位，使旋轉流路中之物料可自第一定位端進入撓性管體，而在撓性管體中向第二定位端被以氣壓輸送，使排出管可藉以作簡易、迅速的拆換、安裝。
简体摘要：本发明系一种分选机分流排出管快拆方法及设备，包括：在一转盘所形成之旋转流路周侧形以固定座形成第一定位端，另与第一定位端相隔间距下以止逆座形成一第二定位端，使第一、二定位端间经由一连接件联结，并借由挠性管体经第二定位端而使前端与第一定位端连接，挠性管体可以在第二定位端之止逆座被进行拘束定位或解除定位，使旋转流路中之物料可自第一定位端进入挠性管体，而在挠性管体中向第二定位端被以气压输送，使排出管可借以作简易、迅速的拆换、安装。

5. 实用新型

TWM456861U 瓶蓋檢測設備有权
简体标题：瓶盖检测设备
公开(公告)号：TWM456861U
公开(公告)日：2013-07-11
申请号：TW102202284
申请日：2013-02-01
申请人：力丞儀器科技有限公司
发明人：杜錫洲
IPC分类号： B07C5/00 , B65D41/00 , B65D43/00

6. 发明专利

TWI616238B 半導體元件分類方法有权
简体标题：半导体组件分类方法
公开(公告)号：TWI616238B
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：TW104118666
申请日：2015-06-09
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：關叡鉉 , GUAN, RAY-SYUAN , 江晟鎰 , CHIANG, CHENG-YI
IPC分类号： B07C5/00 , H01L21/67

7. 发明专利

TW201642961A 半導體元件分類方法审中-公开
简体标题：半导体组件分类方法
公开(公告)号：TW201642961A
公开(公告)日：2016-12-16
申请号：TW104118666
申请日：2015-06-09
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：關叡鉉 , GUAN, RAY-SYUAN , 江晟鎰 , CHIANG, CHENG-YI
IPC分类号： B07C5/00 , H01L21/67
摘要：一種半導體元件分類方法，包含：定義一承載裝置上之複數個半導體元件為複數個分類區域；提供一選定作業，選定該複數個分類區域其中之一分類區域為一第一分揀區域；提供一分揀作業，取出附著於該承載裝置上之該第一分揀區域之一個或複數個半導體元件；以及提供一翻轉作業，取出附著於該承載裝置上該複數個分類區域之另一分類區域之一個或複數個半導體元件。
简体摘要：一种半导体组件分类方法，包含：定义一承载设备上之复数个半导体组件为复数个分类区域；提供一选定作业，选定该复数个分类区域其中之一分类区域为一第一分拣区域；提供一分拣作业，取出附着于该承载设备上之该第一分拣区域之一个或复数个半导体组件；以及提供一翻转作业，取出附着于该承载设备上该复数个分类区域之另一分类区域之一个或复数个半导体组件。

8. 实用新型

TWM532313U 快速排料結構有权
简体标题：快速排料结构
公开(公告)号：TWM532313U
公开(公告)日：2016-11-21
申请号：TW105200707
申请日：2016-01-18
申请人：天正國際精密機械股份有限公司
发明人：凃穗瑜
IPC分类号： B07C5/00

9. 发明专利

TW201543046A 電子元件之搬送、分類方法及裝置审中-公开
简体标题：电子组件之搬送、分类方法及设备
公开(公告)号：TW201543046A
公开(公告)日：2015-11-16
申请号：TW103117063
申请日：2014-05-15
申请人：萬潤科技股份有限公司 , ALL RING TECH CO., LTD.
发明人：郭明宗
IPC分类号： G01R31/26 , B07C5/00
摘要：本發明係一種電子元件之搬送、分類方法及裝置，包括：以一第一間歇旋轉流路對待測元件進行搬送及物理特性檢測；以一第二間歇旋轉流路接收第一間歇旋轉流路所移送的元件進行搬送，該第二間歇旋轉流路上，設有複數個分配座，分配座上設有複數個搬送空間，各搬送空間可在間歇旋轉時與排出管對應；元件被選擇性置於分配座上一特定的搬送空間中被搬送，直到被設定由其排出之排出管與該特定的搬送空間相對應時，經由氣壓吹送將受搬送之元件吹經該排出管而排出受收集。
简体摘要：本发明系一种电子组件之搬送、分类方法及设备，包括：以一第一间歇旋转流路对待测组件进行搬送及物理特性检测；以一第二间歇旋转流路接收第一间歇旋转流路所移送的组件进行搬送，该第二间歇旋转流路上，设有复数个分配座，分配座上设有复数个搬送空间，各搬送空间可在间歇旋转时与排出管对应；组件被选择性置于分配座上一特定的搬送空间中被搬送，直到被设置由其排出之排出管与该特定的搬送空间相对应时，经由气压吹送将受搬送之组件吹经该排出管而排出受收集。

10. 发明专利

TW201521887A 整料設備及二極體料件篩選方法审中-公开
简体标题：整料设备及二极管料件筛选方法
公开(公告)号：TW201521887A
公开(公告)日：2015-06-16
申请号：TW102145623
申请日：2013-12-11
申请人：金寶電子(中國)有限公司 , KINPO ELECTRONICS (CHINA) CO., LTD. , 金寶電子工業股份有限公司 , KINPO ELECTRONICS, INC.
发明人：黃玉輝 , HUANG, YU HUI , 陳忠賢 , CHEN, CHUAN HSIEN
IPC分类号： B07C5/00
摘要：一種用以篩選並傳送二極體料件的整料設備及使用此整料設備的二極體料件篩選方法。整料設備包括震動盤、第一篩選結構以及第二篩選結構。震動盤具有料件承載區及料件傳送路徑，其中所述料件傳送路徑的一末端與所述料件承載區相連，且所述料件傳送路徑環繞所述料件承載區。第一篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第一次篩選。第二篩選結構設置於所述料件傳送路徑上，以對所述二極體料件做第二次篩選。
简体摘要：一种用以筛选并发送二极管料件的整料设备及使用此整料设备的二极管料件筛选方法。整料设备包括震动盘、第一筛选结构以及第二筛选结构。震动盘具有料件承载区及料件发送路径，其中所述料件发送路径的一末端与所述料件承载区相连，且所述料件发送路径环绕所述料件承载区。第一筛选结构设置于所述料件发送路径上，以对所述二极管料件做第一次筛选。第二筛选结构设置于所述料件发送路径上，以对所述二极管料件做第二次筛选。

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