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    • 10. 发明专利
    • 電容性感測器裝置及校準電容性感測器裝置的方法
    • 电容性传感器设备及校准电容性传感器设备的方法
    • TW201320599A
    • 2013-05-16
    • TW101123657
    • 2012-06-29
    • 微晶片科技德國第二公司MICROCHIP TECHNOLOGY GERMANY II GMBH & CO. KG
    • 伊瓦諾夫 亞登IVANOV, ARTEM
    • H03K17/955
    • G01R35/005G01D5/24H03K17/955H03K2217/94026H03K2217/960775
    • 本發明提供一種用於接近及/或接觸偵測之電容性感測器裝置,其包括至少一個產生器電極、至少一個量測電極及至少一個校準電極,其中該至少一個校準電極以一預定義距離配置於毗鄰於該至少一個量測電極處,其中該至少一個量測電極及該至少一個校準電極經指派給該產生器電極,其中可給該至少一個產生器電極加負載一產生器電壓且可給該至少一個校準電極加負載一校準電壓,且其中至少可使該至少一個校準電極在一第一操作模式及一第二操作模式中操作,其中-在該等操作模式中之每一者中,該校準電壓處於一接地電壓與該產生器電壓之間,且-在每一操作模式中,該校準電壓係不同的。本發明進一步提供一種用於校準一電容性感測器裝置之方法及一種包括根據本發明之一電容性感測器裝置之手持式裝置。
    • 本发明提供一种用于接近及/或接触侦测之电容性传感器设备,其包括至少一个产生器电极、至少一个量测电极及至少一个校准电极,其中该至少一个校准电极以一预定义距离配置于毗邻于该至少一个量测电极处,其中该至少一个量测电极及该至少一个校准电极经指派给该产生器电极,其中可给该至少一个产生器电极加负载一产生器电压且可给该至少一个校准电极加负载一校准电压,且其中至少可使该至少一个校准电极在一第一操作模式及一第二操作模式中操作,其中-在该等操作模式中之每一者中,该校准电压处于一接地电压与该产生器电压之间,且-在每一操作模式中,该校准电压系不同的。本发明进一步提供一种用于校准一电容性传感器设备之方法及一种包括根据本发明之一电容性传感器设备之手持式设备。