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1. 发明专利

TW200809139A 發光裝置 LIGHT EMITTING DEVICE 审中-公开
简体标题：发光设备 LIGHT EMITTING DEVICE
公开(公告)号：TW200809139A
公开(公告)日：2008-02-16
申请号：TW096122719
申请日：2007-06-23
申请人：歐斯朗奧托半導體股份有限公司 OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
发明人：韋克哈勒 HAERLE, VOLKER , 阿佛列雷爾 LEEL, ALFRED , 休伯特歐特 OTT, HUBERT , 諾伯特史塔斯 STATH, NORBERT , 威史楚斯 STRAUSS, UWE
IPC分类号： F21V
CPC分类号： G02B6/0003 , F21S41/13 , F21S41/135 , F21S41/14 , F21S41/141 , F21S41/16 , F21S41/24 , F21S45/46 , G01M11/062 , G01M11/088 , G01M11/31 , G01M11/33 , G02B6/4469 , G02B6/447
摘要：本發明之一實施形式是一種發光裝置(1),包括:-一輻射源(5),其發出第一波長的輻射,-一光導(10),由該輻射源所發出的輻射入射至此光導中,以及-一轉換材料(15),其將該光導(10)所傳送的輻射轉換成較長的第二波長的光(20)。此種發光裝置可具有一種較佳的光轉換效率。
简体摘要：本发明之一实施形式是一种发光设备(1),包括:-一辐射源(5),其发出第一波长的辐射,-一光导(10),由该辐射源所发出的辐射入射至此光导中,以及-一转换材料(15),其将该光导(10)所发送的辐射转换成较长的第二波长的光(20)。此种发光设备可具有一种较佳的光转换效率。

2. 发明专利

TW200614703A 光訊號特性選擇裝置 OPTICAL SIGNAL SELECTOR 失效
简体标题：光信号特性选择设备 OPTICAL SIGNAL SELECTOR
公开(公告)号：TW200614703A
公开(公告)日：2006-05-01
申请号：TW094126591
申请日：2005-08-04
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：佐藤毅志 SATO, TAKESHI , 上野修宏 UENO, NOBUHIRO
IPC分类号： H04B , G02F
CPC分类号： G01M11/33 , H04B10/00
摘要：本發明是關於一種光訊號特性選擇裝置，在光學測定、光通訊之領域中，為了進行N個光訊號特性轉換條件之切換選擇，在從輸入至輸出的訊號搬送光路中，使用光開關提供N個之選擇光路，以達成所要之光訊號特性轉換。係為將1個光訊號輸入藉由光開關而分岔到N個之選擇光路，N個之選擇光路藉由光開關而作為1個光訊號輸出之光開關電路，在N個之選擇光路上，進行光訊號特性轉換的機器插入至少一個部位以上，藉由光開關的控制，使N個之光訊號特性轉換條件之選擇成為可能之裝置。
简体摘要：本发明是关于一种光信号特性选择设备，在光学测定、光通信之领域中，为了进行N个光信号特性转换条件之切换选择，在从输入至输出的信号搬送光路中，使用光开关提供N个之选择光路，以达成所要之光信号特性转换。系为将1个光信号输入借由光开关而分岔到N个之选择光路，N个之选择光路借由光开关而作为1个光信号输出之光开关电路，在N个之选择光路上，进行光信号特性转换的机器插入至少一个部位以上，借由光开关的控制，使N个之光信号特性转换条件之选择成为可能之设备。

3. 发明专利

TW200942795A 光纖檢測裝置及其方法 OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：光纤检测设备及其方法 OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW200942795A
公开(公告)日：2009-10-16
申请号：TW097113496
申请日：2008-04-14
申请人：瑞軒科技股份有限公司
发明人：尤文平 , 邱東柏
IPC分类号： G01M , G02B
CPC分类号： G01M11/33
摘要：本發明係提供一種光纖檢測裝置。光纖檢測裝置係用以檢測光纖。光纖具有第一端以及第二端。光纖檢測裝置包含光發射器以及銜接部。光纖之第一端係可插拔地連接至銜接部，使得光纖與光發射器所發出的光線耦合。
简体摘要：本发明系提供一种光纤检测设备。光纤检测设备系用以检测光纤。光纤具有第一端以及第二端。光纤检测设备包含光发射器以及衔接部。光纤之第一端系可插拔地连接至衔接部，使得光纤与光发射器所发出的光线耦合。

4. 发明专利

TW546498B 具有陣列式光學接收器之光學測量系統及方法有权
简体标题：具有数组式光学接收器之光学测量系统及方法
公开(公告)号：TW546498B
公开(公告)日：2003-08-11
申请号：TW091113003
申请日：2002-06-14
申请人：韓澤股份有限公司 , 情報通信研究振興院
发明人：朱寬鐘 , 崔在植 , 楊鎮世 , 池光淳 , 金億淵 , 鄭起宇 , 金度勳 , 金恩河 , 宋京洙 , 李知妍
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/4257 , G01M11/088 , G01M11/33
摘要：揭露一種光學測量系統及方法，以準確地測量波導發射光束之物理特性，包括光束大小，圖案，強度，聚焦，準直程度，以及發散角度，其係利用一平面光學偵測器，其中利用半導體製程形成複數個圖素係以一陣列排列而不需要特別的測量裝置。光線以相同在時間間隔入射至陣列式波導之一端，並由波導之另一端發射出來，以抵達該光學偵測器，而由其中取得物理特性，並將其運算定義之。
简体摘要：揭露一种光学测量系统及方法，以准确地测量波导发射光束之物理特性，包括光束大小，图案，强度，聚焦，准直程度，以及发散角度，其系利用一平面光学侦测器，其中利用半导体制程形成复数个图素系以一数组排列而不需要特别的测量设备。光线以相同在时间间隔入射至数组式波导之一端，并由波导之另一端发射出来，以抵达该光学侦测器，而由其中取得物理特性，并将其运算定义之。

5. 发明专利

TW528865B 光纖測試方法與裝置有权
简体标题：光纤测试方法与设备
公开(公告)号：TW528865B
公开(公告)日：2003-04-21
申请号：TW090131378
申请日：2001-12-18
申请人：富魯克網路股份有限公司
发明人：索多里N 斯溫 , 傑佛瑞S 波特曼
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01M11/31 , G01M11/3109 , G01M11/33 , G01M11/332 , H04B10/071
摘要：一種決定一單一光纖之耗損和長度特性的方法和裝置。一欲被測試的光纖在其近端被連接至具有一光源、一檢測器和一定向耦合器之儀器的測試埠。該光纖的遠端終止於一鏡子。從該光源來的光往該光纖傳導至該鏡子，且從此處反射回該檢測器。結果由測量電路處理並顯示。
简体摘要：一种决定一单一光纤之耗损和长度特性的方法和设备。一欲被测试的光纤在其近端被连接至具有一光源、一检测器和一定向耦合器之仪器的测试端口。该光纤的远程终止于一镜子。从该光源来的光往该光纤传导至该镜子，且从此处反射回该检测器。结果由测量电路处理并显示。

6. 发明专利

TWI270256B 光訊號特性選擇裝置 OPTICAL SIGNAL SELECTOR 失效
简体标题：光信号特性选择设备 OPTICAL SIGNAL SELECTOR
公开(公告)号：TWI270256B
公开(公告)日：2007-01-01
申请号：TW094126591
申请日：2005-08-04
申请人：日立金屬股份有限公司 HITACHI METALS, LTD.
发明人：佐藤毅志 SATO, TAKESHI , 上野修宏 UENO, NOBUHIRO
IPC分类号： H04B , G02F
CPC分类号： G01M11/33 , H04B10/00
摘要：本發明是關於一種光訊號特性選擇裝置，在光學測定、光通訊之領域中，為了進行N個光訊號特性轉換條件之切換選擇，在從輸入至輸出的訊號搬送光路中，使用光開關提供N個之選擇光路，以達成所要之光訊號特性轉換。係為將1個光訊號輸入藉由光開關而分岔到N個之選擇光路，N個之選擇光路藉由光開關而作為1個光訊號輸出之光開關電路，在N個之選擇光路上，進行光訊號特性轉換的機器插入至少一個部位以上，藉由光開關的控制，使N個之光訊號特性轉換條件之選擇成為可能之裝置。
简体摘要：本发明是关于一种光信号特性选择设备，在光学测定、光通信之领域中，为了进行N个光信号特性转换条件之切换选择，在从输入至输出的信号搬送光路中，使用光开关提供N个之选择光路，以达成所要之光信号特性转换。系为将1个光信号输入借由光开关而分岔到N个之选择光路，N个之选择光路借由光开关而作为1个光信号输出之光开关电路，在N个之选择光路上，进行光信号特性转换的机器插入至少一个部位以上，借由光开关的控制，使N个之光信号特性转换条件之选择成为可能之设备。

7. 发明专利

TW200508678A 光傳送路構成方法、光傳送路及光纖审中-公开
简体标题：光发送路构成方法、光发送路及光纤
公开(公告)号：TW200508678A
公开(公告)日：2005-03-01
申请号：TW093123440
申请日：2004-08-04
申请人：住友電氣工業股份有限公司 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD.
发明人：世岡英資 SASAOKA, EISUKE , 山本義典 YAMAMOTO, YOSHINORI , 藤本一成 FUJIMOTO, KAZUNARI
IPC分类号： G02B
CPC分类号： C03C13/04 , G01M11/33 , G02B6/02 , G02B6/02242 , G02B6/02266 , G02B6/29377
摘要：本發明係關於構成可廉價地測定更正確之連接損失之光傳送路之方法等。應連接作為該光傳送路之構成元件之第1及第2光纖之至少一方係以在該第1及第2光纖間滿足於波長範圍1260 nm～1625 nm所含之任一波長λ中之該第1及第2光纖之各端利(Rayleigh)散射係數、波長λ中之該第1及第2光纖之各模場徑及波長λ中之該第1及第2光纖之各傳送損失所規定之特定關係之方式加以選擇。
简体摘要：本发明系关于构成可廉价地测定更正确之连接损失之光发送路之方法等。应连接作为该光发送路之构成组件之第1及第2光纤之至少一方系以在该第1及第2光纤间满足于波长范围1260 nm～1625 nm所含之任一波长λ中之该第1及第2光纤之各端利(Rayleigh)散射系数、波长λ中之该第1及第2光纤之各模场径及波长λ中之该第1及第2光纤之各发送损失所规定之特定关系之方式加以选择。

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