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    • 1. 发明专利
    • 近接式沉積 PROXIMITY DEPOSITION
    • 近接式沉积 PROXIMITY DEPOSITION
    • TWI373791B
    • 2012-10-01
    • TW093111336
    • 2004-04-23
    • FEI公司
    • 克瑞格 馬修 亨利洪量強森 哈里森 亞加法亨利 里賽克約翰 安東尼 諾特 四世
    • H01L
    • C23C16/486C23C16/047C23C16/487H01J37/3178H01J2237/3142H01J2237/31732H01J2237/3174H01J2237/31744
    • 本發明揭示一種用以使用帶電粒子(例如,離子、電子)或光束用來產生二次電子以引起一氣體沉積材料中之沉積從而獲得實質上無損害材料沉積之方法。除可作其他使用之外,該等方法之一些方法可用於以令人滿意之輸出在一半導體特徵上沉積一保護層而不明顯改變該特徵,從而保留該特徵以作精確測量。在一項具體實施例中,將該光束導向鄰接目標表面但非在該目標表面內之一電子源表面上。在該電子源表面上掃描該光束而使得從該電子源表面發射二次電子,而且該等二次電子進入該目標表面上之區域以與沉積氣體相互作用以用於將一所需數量之材料沉積至該目標表面上。以此方式,可以一合適的高速率將材料沉積至該目標表面上而不必將該目標表面本身曝露於用來實行該材料沉積之光束。在另一項具體實施例中,將該光束導向最近接該目標表面之一分離電子產生表面(較佳係具有一相對較高之二次電子發射係數之一表面)上以用於產生該等電子以將該沉積材料沉積至該目標表面上。
    • 本发明揭示一种用以使用带电粒子(例如,离子、电子)或光束用来产生二次电子以引起一气体沉积材料中之沉积从而获得实质上无损害材料沉积之方法。除可作其他使用之外,该等方法之一些方法可用于以令人满意之输出在一半导体特征上沉积一保护层而不明显改变该特征,从而保留该特征以作精确测量。在一项具体实施例中,将该光束导向邻接目标表面但非在该目标表面内之一电子源表面上。在该电子源表面上扫描该光束而使得从该电子源表面发射二次电子,而且该等二次电子进入该目标表面上之区域以与沉积气体相互作用以用于将一所需数量之材料沉积至该目标表面上。以此方式,可以一合适的高速率将材料沉积至该目标表面上而不必将该目标表面本身曝露于用来实行该材料沉积之光束。在另一项具体实施例中,将该光束导向最近接该目标表面之一分离电子产生表面(较佳系具有一相对较高之二次电子发射系数之一表面)上以用于产生该等电子以将该沉积材料沉积至该目标表面上。
    • 9. 发明专利
    • 近接式沉積 PROXIMITY DEPOSITION
    • 近接式沉积 PROXIMITY DEPOSITION
    • TW200509219A
    • 2005-03-01
    • TW093111336
    • 2004-04-23
    • FEI公司 FEI COMPANY
    • 克瑞格 馬修 亨利 HENRY, CRAIG MATTHEW洪量 HONG, LIANG强森 哈里森 亞加法 ARJAVAC, JASON HARRISON亨利 里賽克 LEZEC, HENRI約翰 安東尼 諾特 四世 NOTTE, JOHN ANTHOY, IV
    • H01L
    • C23C16/486C23C16/047C23C16/487H01J37/3178H01J2237/3142H01J2237/31732H01J2237/3174H01J2237/31744
    • 本發明揭示一種用以使用帶電粒子(例如,離子、電子)或光束用來產生二次電子以引起一氣體沉積材料中之沉積從而獲得實質上無損害材料沉積之方法。除可作其他使用之外,該等方法之一些方法可用於以令人滿意之輸出在一半導體特徵上沉積一保護層而不明顯改變該特徵,從而保留該特徵以作精確測量。在一項具體實施例中,將該光束導向鄰接目標表面但非在該目標表面內之一電子源表面上。在該電子源表面上掃描該光束而使得從該電子源表面發射二次電子,而且該等二次電子進入該目標表面上之區域以與沉積氣體相互作用以用於將一所需數量之材料沉積至該目標表面上。以此方式,可以一合適的高速率將材料沉積至該目標表面上而不必將該目標表面本身曝露於用來實行該材料沉積之光束。在另一項具體實施例中,將該光束導向最近接該目標表面之一分離電子產生表面(較佳係具有一相對較高之二次電子發射係數之一表面)上以用於產生該等電子以將該沉積材料沉積至該目標表面上。
    • 本发明揭示一种用以使用带电粒子(例如,离子、电子)或光束用来产生二次电子以引起一气体沉积材料中之沉积从而获得实质上无损害材料沉积之方法。除可作其他使用之外,该等方法之一些方法可用于以令人满意之输出在一半导体特征上沉积一保护层而不明显改变该特征,从而保留该特征以作精确测量。在一项具体实施例中,将该光束导向邻接目标表面但非在该目标表面内之一电子源表面上。在该电子源表面上扫描该光束而使得从该电子源表面发射二次电子,而且该等二次电子进入该目标表面上之区域以与沉积气体相互作用以用于将一所需数量之材料沉积至该目标表面上。以此方式,可以一合适的高速率将材料沉积至该目标表面上而不必将该目标表面本身曝露于用来实行该材料沉积之光束。在另一项具体实施例中,将该光束导向最近接该目标表面之一分离电子产生表面(较佳系具有一相对较高之二次电子发射系数之一表面)上以用于产生该等电子以将该沉积材料沉积至该目标表面上。