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    • 1. 发明专利
    • 薄片材用完檢測機構、滾筒體及滾筒體的製造方法
    • 薄片材用完检测机构、滚筒体及滚筒体的制造方法
    • TW201702165A
    • 2017-01-16
    • TW105110921
    • 2016-04-07
    • 高園科技股份有限公司TAKAZONO TECHNOLOGY INCORPORATED
    • 山本祥広YAMAMOTO, YOSHIHIRO
    • B65H26/06B65B41/00
    • B65H26/066B65B41/00B65B41/10B65H18/08B65H26/06B65H75/10B65H2301/5111B65H2553/40
    • 一種薄片材用完檢測機構,具備:顯示有關於被捲附在形成有光通過部(111)的芯構件(11)的薄片材(12)的資訊的薄片材資訊部(14)、及將薄片材資訊部(14)此光學的方式讀取的讀取部、及將薄片材(12)已用完的檢測的檢測部,形成部(13)是被附著在芯構件(11)的外面及薄片材(12)的內面中,薄片材資訊部(14),是形成於對應形成部(13)中的光通過部(111)的部分,薄片材(12)及形成部(13)之間的附著力,是比芯構件(11)及形成部(13)之間的附著力更大,檢測部,是在將薄片材(12)拉出的動作中,若收訊到讀取部讀取到薄片材資訊部(14)的讀取訊號的話就檢測為還有薄片材(12),若無法收訊到讀取訊號的話就檢測為薄片材(12)已用完。
    • 一种薄片材用完检测机构,具备:显示有关于被卷附在形成有光通过部(111)的芯构件(11)的薄片材(12)的信息的薄片材信息部(14)、及将薄片材信息部(14)此光学的方式读取的读取部、及将薄片材(12)已用完的检测的检测部,形成部(13)是被附着在芯构件(11)的外面及薄片材(12)的内面中,薄片材信息部(14),是形成于对应形成部(13)中的光通过部(111)的部分,薄片材(12)及形成部(13)之间的附着力,是比芯构件(11)及形成部(13)之间的附着力更大,检测部,是在将薄片材(12)拉出的动作中,若收讯到读取部读取到薄片材信息部(14)的读取信号的话就检测为还有薄片材(12),若无法收讯到读取信号的话就检测为薄片材(12)已用完。