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1. 发明专利

TW201529044A 放射線攝影裝置审中-公开
简体标题：放射线摄影设备
公开(公告)号：TW201529044A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW103135306
申请日：2014-10-13
申请人：島津製作所股份有限公司 , SHIMADZU CORPORATION
发明人：佐佐木 , SASAKI, TAKASHI
IPC分类号： A61B6/03
CPC分类号： H04N5/361 , A61B6/4233 , A61B6/585 , H04N5/32 , H04N5/3651 , H04N5/3655
摘要：根據本發明的放射線攝影裝置，修正資料獲取部33基於偏移值獲取部29獲取的偏移值、及線形近似曲線算出部31算出的線形近似曲線，而算出較實測溫度低的溫度的偏移值。較實測溫度低的溫度的偏移值是指較實測的偏移值低的值，因此對檢測元件A的輸出資料不會過度地進行偏移修正。而且，對進行偏移修正後的圖像進行用以修補圖像劣化的再修正，而對偏移修正後的圖像進行對比度增強等圖像處理。其結果，可確實避免因過度的偏移修正所引起的圖像資訊的不足，並且可形成高品質的放射線透射圖像。
简体摘要：根据本发明的放射线摄影设备，修正数据获取部33基于偏移值获取部29获取的偏移值、及线形近似曲线算出部31算出的线形近似曲线，而算出较实测温度低的温度的偏移值。较实测温度低的温度的偏移值是指较实测的偏移值低的值，因此对检测组件A的输出数据不会过度地进行偏移修正。而且，对进行偏移修正后的图像进行用以修补图像劣化的再修正，而对偏移修正后的图像进行对比度增强等图像处理。其结果，可确实避免因过度的偏移修正所引起的图像信息的不足，并且可形成高品质的放射线透射图像。

2. 发明专利

TW200804964A 溫度假影更正 TEMPERATURE ARTIFACT CORRECTION 审中-公开
简体标题：温度假影更正 TEMPERATURE ARTIFACT CORRECTION
公开(公告)号：TW200804964A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：TW096110366
申请日：2007-03-26
申请人：皇家飛利浦電子股份有限公司 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人：喬漢尼斯艾伯特盧真迪克 LUIJENDIJK, JOHANNES ALBERT , 海卓朗史丹豪瑟 STEINHAUSER, HEIDRUN , 柏德麥瑟 MENSER, BERND
IPC分类号： G03B , G06T
CPC分类号： A61B6/00 , A61B6/585 , G01T1/2018 , G01T7/005 , G03B42/02 , H04N5/32 , H04N5/367
摘要：本發明揭示一種產生供在影像更正中使用之至少一個假影之模板之系統及方法。一包含該假影之影像係使用至少兩次均勻曝光所產生,而每次曝光係在一不同之偵測器運作溫度下所產生。計算該影像中每一像素位置處之灰階値之局部變異。然後分類該影像中之每一像素。根據該分類產生一二進制影像。然後,根據該二進制影像及包含該假影之影像資料兩者形成該模板。
简体摘要：本发明揭示一种产生供在影像更正中使用之至少一个假影之模板之系统及方法。一包含该假影之影像系使用至少两次均匀曝光所产生,而每次曝光系在一不同之侦测器运作温度下所产生。计算该影像中每一像素位置处之灰阶値之局部变异。然后分类该影像中之每一像素。根据该分类产生一二进制影像。然后,根据该二进制影像及包含该假影之影像数据两者形成该模板。

3. 发明专利

TW201743079A 用於確定Ｘ射線檢測器錯位的方法审中-公开
简体标题：用于确定Ｘ射线检测器错位的方法
公开(公告)号：TW201743079A
公开(公告)日：2017-12-16
申请号：TW106117699
申请日：2017-05-26
申请人：深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/29 , G01T1/36
CPC分类号： A61B6/585 , A61B6/4233 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/584
摘要：本文公開這樣的方法，其包括：在第一X射線檢測器和第二X射線檢測器錯位時從第一X射線檢測器獲得第三圖像；在第一和第二檢測器錯位時，基於第一圖像與第三圖像之間的移位元確定第一X射線檢測器與第二X射線檢測器之間的錯位；其中第一圖像是如果第一和所述第二檢測器對準則第一X射線檢測器應捕捉的圖像。
简体摘要：本文公开这样的方法，其包括：在第一X射线检测器和第二X射线检测器错位时从第一X射线检测器获得第三图像；在第一和第二检测器错位时，基于第一图像与第三图像之间的移比特确定第一X射线检测器与第二X射线检测器之间的错位；其中第一图像是如果第一和所述第二检测器对准则第一X射线检测器应捕捉的图像。

4. 发明专利

TWI527567B 放射線攝影裝置有权
简体标题：放射线摄影设备
公开(公告)号：TWI527567B
公开(公告)日：2016-04-01
申请号：TW103135306
申请日：2014-10-13
申请人：島津製作所股份有限公司 , SHIMADZU CORPORATION
发明人：佐佐木 , SASAKI, TAKASHI
IPC分类号： A61B6/03
CPC分类号： H04N5/361 , A61B6/4233 , A61B6/585 , H04N5/32 , H04N5/3651 , H04N5/3655

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