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    • 2. 发明专利
    • 具有多重操作模式之積體電路(一) INTEGRATED CIRCUIT HAVING MULTIPLE MODES OF OPERATION
    • 具有多重操作模式之集成电路(一) INTEGRATED CIRCUIT HAVING MULTIPLE MODES OF OPERATION
    • TWI255994B
    • 2006-06-01
    • TW092131705
    • 2003-11-12
    • 英特爾公司 INTEL CORPORATION
    • 亞特萊 德夫 ATALLAH, DEIF貝克特 理查 BECKETT, RICHARD
    • G06F
    • A61B1/04A61B1/041A61B5/0031A61B5/036A61B5/042A61B5/14539A61N1/36007G06F11/108
    • 一種依據一實施例之方法,其可包含以一被選擇的操作模式而操作一積體電路。該積體電路可以包含第一電路和第二電路。該第一電路可能進行至少一組操作,該至少一組操作包含,至少部分地至少部分地依據其他資料而產生的檢查資料,至少部分地依據該檢查資料而重新產生其他資料,及/或決定儲存器中該檢查資料與其他資料的至少一組之一組或多組位置。該第二電路可能控制,至少部分地,在該積體電路處所發射及接收之至少一組檢查資料和其他資料之至少一種之至少一組界面。至少部分地依據該積體電路之被選擇操作模式,該第一電路可以被引動以進行或不引動而不進行該至少一組操作。
    • 一种依据一实施例之方法,其可包含以一被选择的操作模式而操作一集成电路。该集成电路可以包含第一电路和第二电路。该第一电路可能进行至少一组操作,该至少一组操作包含,至少部分地至少部分地依据其他数据而产生的检查数据,至少部分地依据该检查数据而重新产生其他数据,及/或决定存储器中该检查数据与其他数据的至少一组之一组或多组位置。该第二电路可能控制,至少部分地,在该集成电路处所发射及接收之至少一组检查数据和其他数据之至少一种之至少一组界面。至少部分地依据该集成电路之被选择操作模式,该第一电路可以被引动以进行或不引动而不进行该至少一组操作。
    • 4. 发明专利
    • 具有多重操作模式之積體電路(一) INTEGRATED CIRCUIT HAVING MULTIPLE MODES OF OPERATION
    • 具有多重操作模式之集成电路(一) INTEGRATED CIRCUIT HAVING MULTIPLE MODES OF OPERATION
    • TW200415470A
    • 2004-08-16
    • TW092131705
    • 2003-11-12
    • 英特爾公司 INTEL CORPORATION
    • 亞特萊 德夫 ATALLAH, DEIF貝克特 理查 BECKETT, RICHARD
    • G06F
    • A61B1/04A61B1/041A61B5/0031A61B5/036A61B5/042A61B5/14539A61N1/36007G06F11/108
    • 一種依據一實施例之方法,其可包含以一被選擇的操作模式而操作一積體電路。該積體電路可以包含第一電路和第二電路。該第一電路可能進行至少一組操作,該至少一組操作包含,至少部分地,至少部分地依據其他資料而產生的檢查資料,至少部分地依據該檢查資料而重新產生其他資料,及/或決定儲存器中該檢查資料與其他資料的至少一組之一組或多組位置。該第二電路可能控制,至少部分地,在該積體電路處所發射及接收之至少一組檢查資料和其他資料之至少一種之至少一組界面。至少部分地依據該積體電路之被選擇操作模式,該第一電路可以被引動以進行或不引動而不進行該至少一組操作。
    • 一种依据一实施例之方法,其可包含以一被选择的操作模式而操作一集成电路。该集成电路可以包含第一电路和第二电路。该第一电路可能进行至少一组操作,该至少一组操作包含,至少部分地,至少部分地依据其他数据而产生的检查数据,至少部分地依据该检查数据而重新产生其他数据,及/或决定存储器中该检查数据与其他数据的至少一组之一组或多组位置。该第二电路可能控制,至少部分地,在该集成电路处所发射及接收之至少一组检查数据和其他数据之至少一种之至少一组界面。至少部分地依据该集成电路之被选择操作模式,该第一电路可以被引动以进行或不引动而不进行该至少一组操作。