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1. 发明专利

TWI250287B 開放測試場地品質評量方法失效
简体标题：开放测试场地品质评量方法
公开(公告)号：TWI250287B
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW093136929
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地品質評量方法，係應用於天線之 EMI(Radiated emittion)的測量上，其特徵係在於：測量該天線之NSA數據，並從實測之NSA數據來反推下列運算式： A(db)=-20logfM+48.92+2(20logfM-31.94)-(21.62-20logD)+C...........(23)並推算實測值和理論NSA值之間，在不同的頻率，相差超過+/-4dB的機率。
简体摘要：本案为一种开放测试场地品质评量方法，系应用于天线之 EMI(Radiated emittion)的测量上，其特征系在于：测量该天线之NSA数据，并从实测之NSA数据来反推下列运算式： A(db)=-20logfM+48.92+2(20logfM-31.94)-(21.62-20logD)+C...........(23)并推算实测值和理论NSA值之间，在不同的频率，相差超过+/-4dB的概率。

2. 发明专利

TW515896B 測量寬頻天線的方法失效
简体标题：测量宽带天线的方法
公开(公告)号：TW515896B
公开(公告)日：2003-01-01
申请号：TW090122174
申请日：2001-09-07
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心
发明人：王裕惠 , 林根煌 , 蔡榮鈞 , 李海清
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種測量寬頻天線的方法，係利用電波暗室來量測寬頻天線的天線因子，該電波暗室內產生一標準電場強度，藉以驗證該寬頻天線，以得到一第一天線因子(Antenna Factor)，再對該寬頻天線進行一電腦模擬，求出一第二天線因子，進而比較該第一天線因子及該第二天線因子，以求得一不確定度(Uncertainty)較低的天線因子。
简体摘要：本案为一种测量宽带天线的方法，系利用电波暗室来量测宽带天线的天线因子，该电波暗室内产生一标准电场强度，借以验证该宽带天线，以得到一第一天线因子(Antenna Factor)，再对该宽带天线进行一电脑仿真，求出一第二天线因子，进而比较该第一天线因子及该第二天线因子，以求得一不确定度(Uncertainty)较低的天线因子。

3. 发明专利

TWI456233B 近場電磁探棒有权
简体标题：近场电磁探棒
公开(公告)号：TWI456233B
公开(公告)日：2014-10-11
申请号：TW101140709
申请日：2012-11-02
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 , ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：李海清 , LI, HERMAN , 姚啟元 , YAUO, WILL , 李志宏 , LEE, KEVIN
IPC分类号： G01R33/06

4. 发明专利

TWI329940B 具偶極與倒Ｆ型天線（ＰＩＦＡ）結構之裝置失效
简体标题：具偶极与倒Ｆ型天线（ＰＩＦＡ）结构之设备
公开(公告)号：TWI329940B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：TW096106588
申请日：2007-02-15
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 李志宏 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種具偶極與倒F型天線結構之裝置，包含：一基板；一第一金屬管，具一第一端及一第二端，該第一端係連接於該基板上；一第二金屬管，具一第一端及一第二端，該第一端係連接於該基板上，該第二金屬管係與該第一金屬管並立；一第一金屬柱，具一第一端及一第二端，該第一端係連接至該第一金屬管之該第二端；一第二金屬柱，具一第一端及一第二端，該第一端係連接至該第二金屬管之該第二端；一金屬導線，具一第一端及一第二端，該第一端係連接於該第一金屬管之該第二端，該金屬導線之該第二端之一間段係與該第二金屬管絕緣，並穿入該第二金屬管內部，再與連接至該基板者。
简体摘要：本案为一种具偶极与倒F型天线结构之设备，包含：一基板；一第一金属管，具一第一端及一第二端，该第一端系连接于该基板上；一第二金属管，具一第一端及一第二端，该第一端系连接于该基板上，该第二金属管系与该第一金属管并立；一第一金属柱，具一第一端及一第二端，该第一端系连接至该第一金属管之该第二端；一第二金属柱，具一第一端及一第二端，该第一端系连接至该第二金属管之该第二端；一金属导线，具一第一端及一第二端，该第一端系连接于该第一金属管之该第二端，该金属导线之该第二端之一间段系与该第二金属管绝缘，并穿入该第二金属管内部，再与连接至该基板者。

5. 发明专利

TWI286607B 開放測試場地不確定度計算方法有权
简体标题：开放测试场地不确定度计算方法
公开(公告)号：TWI286607B
公开(公告)日：2007-09-11
申请号：TW093136927
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地不確定度計算方法，係應用於天線之電磁波干擾射頻發射(EMI Radiated emitting)的測量上，其特徵係在於：利用迴歸分析中的均方誤差(MSE)為計算不確定度的基礎，而以均方誤差(MSE)做為推算從一第一頻率到一第二頻率的變異數的不偏推定量，然後再應用全部迴歸直線的信賴區間，以一特定百分比的信賴度，來估算一個(電磁波干擾EMI)輻射干擾測試場的不確定度。
简体摘要：本案为一种开放测试场地不确定度计算方法，系应用于天线之电磁波干扰射频发射(EMI Radiated emitting)的测量上，其特征系在于：利用回归分析中的均方误差(MSE)为计算不确定度的基础，而以均方误差(MSE)做为推算从一第一频率到一第二频率的变异数的不偏推定量，然后再应用全部回归直线的信赖区间，以一特定百分比的信赖度，来估算一个(电磁波干扰EMI)辐射干扰测试场的不确定度。

6. 发明专利

TW200731135A 寬頻天線之天線因子電腦模擬技術审中-公开
简体标题：宽带天线之天线因子电脑仿真技术
公开(公告)号：TW200731135A
公开(公告)日：2007-08-16
申请号：TW095103766
申请日：2006-02-03
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 莊宜璋
IPC分类号： G06F
摘要：本案為一種寬頻天線之天線因子電腦模擬技術,係應用於一寬頻天線之天線因子的測量上,其係利用一電腦計算下列運算式:
095103766-p01.bmp
藉以獲得該天線因子;其中,AFT為天線因子、E為電場强度、d為電場所發射之距離、��為自由空間相位常數、ZA為天線阻抗、Z0為信號產生器之輸出阻抗、VS為信號產生器之輸出電壓、fm為射頻電流之頻率。
简体摘要：本案为一种宽带天线之天线因子电脑仿真技术,系应用于一宽带天线之天线因子的测量上,其系利用一电脑计算下列运算式: 095103766-p01.bmp 借以获得该天线因子;其中,AFT为天线因子、E为电场强度、d为电场所发射之距离、��为自由空间相位常数、ZA为天线阻抗、Z0为信号产生器之输出阻抗、VS为信号产生器之输出电压、fm为射频电流之频率。

7. 发明专利

TWI487192B Ｂｉｌｏｇ寬頻天線結構有权
简体标题：Ｂｉｌｏｇ宽带天线结构
公开(公告)号：TWI487192B
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW100119756
申请日：2011-06-07
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 , ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：李海清 , 李志宏 , 丁于倫
IPC分类号： H01Q21/12 , H01Q21/30

8. 发明专利

TWI430511B Ｂｉｌｏｇ天線結構有权
简体标题：Ｂｉｌｏｇ天线结构
公开(公告)号：TWI430511B
公开(公告)日：2014-03-11
申请号：TW098134592
申请日：2009-10-12
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 , ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：李郡漢 , 蔡榮鈞 , 丁于倫 , 李志宏
IPC分类号： H01Q21/12 , H01Q5/01

9. 发明专利

TW201114105A Ｂｉｌｏｇ天線結構創新設計审中-公开
简体标题：Ｂｉｌｏｇ天线结构创新设计
公开(公告)号：TW201114105A
公开(公告)日：2011-04-16
申请号：TW098134592
申请日：2009-10-12
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心
发明人：李郡漢 , 蔡榮鈞 , 丁于倫 , 李志宏
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種Bilog(雙對數)天線結構創新設計,包含:一第一金屬管,具一第一側與一第二側;一第二金屬管,具一第一側與一第二側;複數個金屬條,係分佈於該第一金屬管與該第二金屬管上;一絕緣體,一端係連接該第一金屬管之該第一側之端部;一金屬體,一端係連接該絕緣體之另一端,以透過該絕緣體連接該第一金屬管之該第一側;另一端係連接該第二金屬管之該第一側之端部;一第一傳輸線,係具一外導體及一內導體,該第一傳輸線之該外導體係連接該第一金屬管之該第二側之端部,該第一傳輸線之該內導管係經由該第一金屬管之該第二側之端部穿入該第一金屬管之管內,向前延伸至該第一金屬管之該第一側,並由該第一金屬管之該第一側之端部穿出後,再通過該絕緣體連接至該金屬體;一第二傳輸線,係具一外導體及一內導體,該第二傳輸線之該外導體係連接該第二金屬管之該第二側之端部;其中,該複數個金屬條係於該第一金屬管與該第二金屬管之該第一側上排列形成一高頻天線單元,以及於該第一金屬管與該第二金屬管之該第二側上排列形成一低頻天線單元,共同構成一寬頻天線。
简体摘要：本案为一种Bilog(双对数)天线结构创新设计,包含:一第一金属管,具一第一侧与一第二侧;一第二金属管,具一第一侧与一第二侧;复数个金属条,系分布于该第一金属管与该第二金属管上;一绝缘体,一端系连接该第一金属管之该第一侧之端部;一金属体,一端系连接该绝缘体之另一端,以透过该绝缘体连接该第一金属管之该第一侧;另一端系连接该第二金属管之该第一侧之端部;一第一传输线,系具一外导体及一内导体,该第一传输线之该外导体系连接该第一金属管之该第二侧之端部,该第一传输线之该内导管系经由该第一金属管之该第二侧之端部穿入该第一金属管之管内,向前延伸至该第一金属管之该第一侧,并由该第一金属管之该第一侧之端部穿出后,再通过该绝缘体连接至该金属体;一第二传输线,系具一外导体及一内导体,该第二传输线之该外导体系连接该第二金属管之该第二侧之端部;其中,该复数个金属条系于该第一金属管与该第二金属管之该第一侧上排列形成一高频天线单元,以及于该第一金属管与该第二金属管之该第二侧上排列形成一低频天线单元,共同构成一宽带天线。

10. 发明专利

TW200835051A 偶極與倒F型天線(PIFA)結構設計失效
简体标题：偶极与倒F型天线(PIFA)结构设计
公开(公告)号：TW200835051A
公开(公告)日：2008-08-16
申请号：TW096106588
申请日：2007-02-15
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種偶極與倒F型天線結構設計,包含:一基板;一第一金屬管,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該基板上;一第二金屬管,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該基板上,該第二金屬管係與該第一金屬管並立;一第一金屬柱,具一第一端及一第二端,該第一端係連接至該第一金屬管之該第二端;一第二金屬柱,具一第一端及一第二端,該第一端係連接至該第二金屬管之該第二端;一金屬導線,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該第一金屬管之該第二端,該金屬導線之該第二端之一間段係與該第二金屬管絕緣,並穿入該第二金屬管內部,再與連接至該基板者。
简体摘要：本案为一种偶极与倒F型天线结构设计,包含:一基板;一第一金属管,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该基板上;一第二金属管,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该基板上,该第二金属管系与该第一金属管并立;一第一金属柱,具一第一端及一第二端,该第一端系连接至该第一金属管之该第二端;一第二金属柱,具一第一端及一第二端,该第一端系连接至该第二金属管之该第二端;一金属导线,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该第一金属管之该第二端,该金属导线之该第二端之一间段系与该第二金属管绝缘,并穿入该第二金属管内部,再与连接至该基板者。

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