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1. 发明专利

TWI250287B 開放測試場地品質評量方法失效
简体标题：开放测试场地品质评量方法
公开(公告)号：TWI250287B
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW093136929
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地品質評量方法，係應用於天線之 EMI(Radiated emittion)的測量上，其特徵係在於：測量該天線之NSA數據，並從實測之NSA數據來反推下列運算式： A(db)=-20logfM+48.92+2(20logfM-31.94)-(21.62-20logD)+C...........(23)並推算實測值和理論NSA值之間，在不同的頻率，相差超過+/-4dB的機率。
简体摘要：本案为一种开放测试场地品质评量方法，系应用于天线之 EMI(Radiated emittion)的测量上，其特征系在于：测量该天线之NSA数据，并从实测之NSA数据来反推下列运算式： A(db)=-20logfM+48.92+2(20logfM-31.94)-(21.62-20logD)+C...........(23)并推算实测值和理论NSA值之间，在不同的频率，相差超过+/-4dB的概率。

2. 发明专利

TWI286607B 開放測試場地不確定度計算方法有权
简体标题：开放测试场地不确定度计算方法
公开(公告)号：TWI286607B
公开(公告)日：2007-09-11
申请号：TW093136927
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地不確定度計算方法，係應用於天線之電磁波干擾射頻發射(EMI Radiated emitting)的測量上，其特徵係在於：利用迴歸分析中的均方誤差(MSE)為計算不確定度的基礎，而以均方誤差(MSE)做為推算從一第一頻率到一第二頻率的變異數的不偏推定量，然後再應用全部迴歸直線的信賴區間，以一特定百分比的信賴度，來估算一個(電磁波干擾EMI)輻射干擾測試場的不確定度。
简体摘要：本案为一种开放测试场地不确定度计算方法，系应用于天线之电磁波干扰射频发射(EMI Radiated emitting)的测量上，其特征系在于：利用回归分析中的均方误差(MSE)为计算不确定度的基础，而以均方误差(MSE)做为推算从一第一频率到一第二频率的变异数的不偏推定量，然后再应用全部回归直线的信赖区间，以一特定百分比的信赖度，来估算一个(电磁波干扰EMI)辐射干扰测试场的不确定度。

3. 发明专利

TW200731135A 寬頻天線之天線因子電腦模擬技術审中-公开
简体标题：宽带天线之天线因子电脑仿真技术
公开(公告)号：TW200731135A
公开(公告)日：2007-08-16
申请号：TW095103766
申请日：2006-02-03
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 莊宜璋
IPC分类号： G06F
摘要：本案為一種寬頻天線之天線因子電腦模擬技術,係應用於一寬頻天線之天線因子的測量上,其係利用一電腦計算下列運算式:
095103766-p01.bmp
藉以獲得該天線因子;其中,AFT為天線因子、E為電場强度、d為電場所發射之距離、��為自由空間相位常數、ZA為天線阻抗、Z0為信號產生器之輸出阻抗、VS為信號產生器之輸出電壓、fm為射頻電流之頻率。
简体摘要：本案为一种宽带天线之天线因子电脑仿真技术,系应用于一宽带天线之天线因子的测量上,其系利用一电脑计算下列运算式: 095103766-p01.bmp 借以获得该天线因子;其中,AFT为天线因子、E为电场强度、d为电场所发射之距离、��为自由空间相位常数、ZA为天线阻抗、Z0为信号产生器之输出阻抗、VS为信号产生器之输出电压、fm为射频电流之频率。

4. 发明专利

TW200838034A Wimax基地台天線結構設計失效
简体标题： Wimax基地台天线结构设计
公开(公告)号：TW200838034A
公开(公告)日：2008-09-16
申请号：TW096107786
申请日：2007-03-06
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 李志宏 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種Wimax基地台天線結構設計,包含:一天線本體;複數個偶極與倒F型天線單元,係等距分佈及連接在該天線本體之一面上,藉以傳輸及接收水平方向及垂直方向之輻射信號;二端子,係連接該天線本體之一面上,並電性連接至該複數個偶極與倒F型天線單元,藉以傳輸及接收該天線之信號者。
简体摘要：本案为一种Wimax基地台天线结构设计,包含:一天线本体;复数个偶极与倒F型天线单元,系等距分布及连接在该天线本体之一面上,借以传输及接收水平方向及垂直方向之辐射信号;二端子,系连接该天线本体之一面上,并电性连接至该复数个偶极与倒F型天线单元,借以传输及接收该天线之信号者。

5. 发明专利

TWI282187B 對數週期偶極陣列天線結構設計有权
简体标题：对数周期偶极数组天线结构设计
公开(公告)号：TWI282187B
公开(公告)日：2007-06-01
申请号：TW094109673
申请日：2005-03-28
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 蔡榮鈞 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種對數週期偶極陣列天線(Log-Periodic Dipole Array Antenna, LPDA Antenna)結構設計，係利用該天線之(1)圓型鋁管直徑、(2)方型鋁管寬度、(3)方型鋁管前端距離第一根天線的長度、(4)二方型鋁管間隔的距離及(5)同軸電纜線(Cable)饋入點的方式與位置等五個變數，以一實驗計劃法(DOE)，利用27個實驗來完成一優化程序。
简体摘要：本案为一种对数周期偶极数组天线(Log-Periodic Dipole Array Antenna, LPDA Antenna)结构设计，系利用该天线之(1)圆型铝管直径、(2)方型铝管宽度、(3)方型铝管前端距离第一根天线的长度、(4)二方型铝管间隔的距离及(5)同轴电缆线(Cable)馈入点的方式与位置等五个变量，以一实验计划法(DOE)，利用27个实验来完成一优化进程。

6. 发明专利

TW200617402A 開放測試場地不確定度計算方法审中-公开
简体标题：开放测试场地不确定度计算方法
公开(公告)号：TW200617402A
公开(公告)日：2006-06-01
申请号：TW093136927
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地不確定度計算方法，係應用於天線之EMI(Radiated emittion)的測量上，其特徵係在於：利用迴歸分析中的MSE為計算不確定度的基礎，而以MSE做為推算從一第一頻率到一第二頻率的變異數的不偏推定量，然後再應用然後再應用全部迴歸直線的信賴區間，以一特定百分比的信賴度，來估算一個EMI輻射干擾測試場的不確定度。
简体摘要：本案为一种开放测试场地不确定度计算方法，系应用于天线之EMI(Radiated emittion)的测量上，其特征系在于：利用回归分析中的MSE为计算不确定度的基础，而以MSE做为推算从一第一频率到一第二频率的变异数的不偏推定量，然后再应用然后再应用全部回归直线的信赖区间，以一特定百分比的信赖度，来估算一个EMI辐射干扰测试场的不确定度。

7. 发明专利

TW200835051A 偶極與倒F型天線(PIFA)結構設計失效
简体标题：偶极与倒F型天线(PIFA)结构设计
公开(公告)号：TW200835051A
公开(公告)日：2008-08-16
申请号：TW096106588
申请日：2007-02-15
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種偶極與倒F型天線結構設計,包含:一基板;一第一金屬管,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該基板上;一第二金屬管,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該基板上,該第二金屬管係與該第一金屬管並立;一第一金屬柱,具一第一端及一第二端,該第一端係連接至該第一金屬管之該第二端;一第二金屬柱,具一第一端及一第二端,該第一端係連接至該第二金屬管之該第二端;一金屬導線,具一第一端及一第二端,該第一端係連接於該第一金屬管之該第二端,該金屬導線之該第二端之一間段係與該第二金屬管絕緣,並穿入該第二金屬管內部,再與連接至該基板者。
简体摘要：本案为一种偶极与倒F型天线结构设计,包含:一基板;一第一金属管,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该基板上;一第二金属管,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该基板上,该第二金属管系与该第一金属管并立;一第一金属柱,具一第一端及一第二端,该第一端系连接至该第一金属管之该第二端;一第二金属柱,具一第一端及一第二端,该第一端系连接至该第二金属管之该第二端;一金属导线,具一第一端及一第二端,该第一端系连接于该第一金属管之该第二端,该金属导线之该第二端之一间段系与该第二金属管绝缘,并穿入该第二金属管内部,再与连接至该基板者。

8. 发明专利

TW200635128A 對數週期偶極陣列天線結構設計审中-公开
简体标题：对数周期偶极数组天线结构设计
公开(公告)号：TW200635128A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094109673
申请日：2005-03-28
申请人：財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 李郡漢 , 蔡榮鈞 , 莊宜璋
IPC分类号： H01Q
摘要：本案為一種對數週期偶極陣列天線(Log–Periodic Dipole Array Antenna, LPDA Antenna)結構設計，係利用該天線之(1)圓型鋁管直徑、(2)方型鋁管寬度、(3)方型鋁管前端距離第一根天線的長度、(4)二方型鋁管間隔的距離及(5)同軸電纜線(Cable)饋入點的方式與位置等五個變數，以一實驗計劃法(DOE)，利用27個實驗來完成一優化程序。
简体摘要：本案为一种对数周期偶极数组天线(Log–Periodic Dipole Array Antenna, LPDA Antenna)结构设计，系利用该天线之(1)圆型铝管直径、(2)方型铝管宽度、(3)方型铝管前端距离第一根天线的长度、(4)二方型铝管间隔的距离及(5)同轴电缆线(Cable)馈入点的方式与位置等五个变量，以一实验计划法(DOE)，利用27个实验来完成一优化进程。

9. 发明专利

TW200617403A 開放測試場地品質評量方法失效
简体标题：开放测试场地品质评量方法
公开(公告)号：TW200617403A
公开(公告)日：2006-06-01
申请号：TW093136929
申请日：2004-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 財團法人台灣電子檢驗中心 ELECTRONICS TESTING CENTER, TAIWAN
发明人：王裕惠 , 姚啓元
IPC分类号： G01R
摘要：本案為一種開放測試場地品質評量方法，係應用於天線之EMI(Radiated emittion)的測量上，其特徵係在於：測量該天線之NSA數據，並從實測之NSA數據來反推下列運算式： A(dB)＝–201ogfM＋48.92＋2(201ogfM–31.94)–(21.62–201ogD)＋C ………‥ (23)並推算實測值和理論NSA值之間，在不同的頻率，相差超過＋／–4dB的機率。
简体摘要：本案为一种开放测试场地品质评量方法，系应用于天线之EMI(Radiated emittion)的测量上，其特征系在于：测量该天线之NSA数据，并从实测之NSA数据来反推下列运算式： A(dB)＝–201ogfM＋48.92＋2(201ogfM–31.94)–(21.62–201ogD)＋C ………‥ (23)并推算实测值和理论NSA值之间，在不同的频率，相差超过＋／–4dB的概率。

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