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热词
    • 1. 发明专利
    • 資料轉換器之量測裝置及其方法
    • 数据转换器之量测设备及其方法
    • TW595108B
    • 2004-06-21
    • TW092125550
    • 2003-09-17
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI
    • H03M
    • H03M1/109H03M1/1095H03M1/12
    • 一種資料轉換器之量測裝置包含一數位類比轉換器、一多工器、一統計圖分析器及一軟體引擎。該數位類比轉換器用於產生平均隨機分佈訊號,該多工器用於選擇該數位類比轉換器之輸出或一外部類比輸入訊號至一待測資料轉換器。該統計圖分析器電連接至該待測資料轉換器之輸出,用於顯示該待測資料轉換器之各個編碼出現的次數。該軟體引擎電連接至該統計圖分析器之輸出,用於顯示該待測資料轉換器之特性。
    • 一种数据转换器之量测设备包含一数码模拟转换器、一多任务器、一统计图分析器及一软件发动机。该数码模拟转换器用于产生平均随机分布信号,该多任务器用于选择该数码模拟转换器之输出或一外部模拟输入信号至一待测数据转换器。该统计图分析器电连接至该待测数据转换器之输出,用于显示该待测数据转换器之各个编码出现的次数。该软件发动机电连接至该统计图分析器之输出,用于显示该待测数据转换器之特性。
    • 2. 发明专利
    • 類比數位轉換器之內建自我測試裝置及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
    • 模拟数码转换器之内置自我测试设备及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
    • TW200515712A
    • 2005-05-01
    • TW092130118
    • 2003-10-29
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI
    • H03M
    • H03M1/109H03M1/12
    • 本發明揭示一種類比數位轉換器之內建自我測試裝置及方法,其中該內建自我測試裝置包含一數位類比轉換器、一低通濾波器、一統計圖分析器及一軟體引擎。該數位類比轉換器係用於產生第一訊號。該低通濾波器係用以將該第一訊號進行平滑化,以供一類比數位轉換器針對該平滑化後之第一訊號進行取樣,其中該第二訊號之位元數大於等於第一訊號之位元數,且該第二訊號之頻率為該第一訊號之頻率的倍數。該統計圖分析器係電連接至該類比數位轉換器之輸出。該軟體引擎係電連接至該統計圖分析器之輸出,用於顯示該類比數位轉換器之特性。
    • 本发明揭示一种模拟数码转换器之内置自我测试设备及方法,其中该内置自我测试设备包含一数码模拟转换器、一低通滤波器、一统计图分析器及一软件发动机。该数码模拟转换器系用于产生第一信号。该低通滤波器系用以将该第一信号进行平滑化,以供一模拟数码转换器针对该平滑化后之第一信号进行采样,其中该第二信号之比特数大于等于第一信号之比特数,且该第二信号之频率为该第一信号之频率的倍数。该统计图分析器系电连接至该模拟数码转换器之输出。该软件发动机系电连接至该统计图分析器之输出,用于显示该模拟数码转换器之特性。
    • 3. 发明专利
    • 類比數位轉換器之內建自我測試裝置及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
    • 模拟数码转换器之内置自我测试设备及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
    • TWI230514B
    • 2005-04-01
    • TW092130118
    • 2003-10-29
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI
    • H03M
    • H03M1/109H03M1/12
    • 本發明揭示一種類比數位轉換器之內建自我測試裝置及方法,其中該內建自我測試裝置包含一數位類比轉換器、一低通濾波器、一統計圖分析器及一軟體引擎。該數位類比轉換器係用於產生第一訊號。該低通濾波器係用以將該第一訊號進行平滑化,以供一類比數位轉換器針對該平滑化後之第一訊號進行取樣,其中該第二訊號之位元數大於等於第一訊號之位元數,且該第二訊號之頻率為該第一訊號之頻率的倍數。該統計圖分析器係電連接至該類比數位轉換器之輸出。該軟體引擎係電連接至該統計圖分析器之輸出,用於顯示該類比數位轉換器之特性。
    • 本发明揭示一种模拟数码转换器之内置自我测试设备及方法,其中该内置自我测试设备包含一数码模拟转换器、一低通滤波器、一统计图分析器及一软件发动机。该数码模拟转换器系用于产生第一信号。该低通滤波器系用以将该第一信号进行平滑化,以供一模拟数码转换器针对该平滑化后之第一信号进行采样,其中该第二信号之比特数大于等于第一信号之比特数,且该第二信号之频率为该第一信号之频率的倍数。该统计图分析器系电连接至该模拟数码转换器之输出。该软件发动机系电连接至该统计图分析器之输出,用于显示该模拟数码转换器之特性。
    • 5. 发明专利
    • 時間數位轉換裝置和方法及運用該轉換裝置之訊號抖動量測裝置及分析方法 APPARATUS AND METHOD FOR TIME-TO-DIGITAL CONVERSION AND JITTER MEASURING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME
    • 时间数码转换设备和方法及运用该转换设备之信号抖动量测设备及分析方法 APPARATUS AND METHOD FOR TIME-TO-DIGITAL CONVERSION AND JITTER MEASURING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME
    • TWI282860B
    • 2007-06-21
    • TW094145495
    • 2005-12-21
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI
    • G01RH03K
    • 本發明之時間數位轉換裝置係利用複數個縮寬胞串接而非電容器充放電的方式,使具一脈寬之待測訊號經該等縮寬胞處理後,將其脈寬逐次減縮直到該脈寬長度無法驅動下一級縮寬胞為止,藉此獲得一組可代表二進位數字之數位輸出碼。該轉換裝置係配合一時脈訊號運作,主要包含一縮寬胞群,用以將該待測訊號轉換成複數個第一數位輸出碼;以及一縮寬問鎖胞群,用以接收該第一數位輸出碼並產生可轉換成一二進位數字之複數個第二數位輸出碼。該時間數位轉換裝置可應用於一訊號抖動量測裝置,將一待測訊號之抖動由連續訊號量化成一組數位訊號,該組數位訊號係表示該待測訊號之循環抖動之時間寬度。
    • 本发明之时间数码转换设备系利用复数个缩宽胞串接而非电容器充放电的方式,使具一脉宽之待测信号经该等缩宽胞处理后,将其脉宽逐次减缩直到该脉宽长度无法驱动下一级缩宽胞为止,借此获得一组可代表二进制数字之数码输出码。该转换设备系配合一时脉信号运作,主要包含一缩宽胞群,用以将该待测信号转换成复数个第一数码输出码;以及一缩宽问锁胞群,用以接收该第一数码输出码并产生可转换成一二进制数字之复数个第二数码输出码。该时间数码转换设备可应用于一信号抖动量测设备,将一待测信号之抖动由连续信号量化成一组数码信号,该组数码信号系表示该待测信号之循环抖动之时间宽度。
    • 8. 发明专利
    • 數位-類比轉換器之測試裝置及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
    • 数码-模拟转换器之测试设备及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
    • TW200604549A
    • 2006-02-01
    • TW093121721
    • 2004-07-21
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI陳穫溫 CHEN, HUO WEN
    • G01R
    • 一種非建置於晶片上之數位–類比轉換器之測試裝置,其包含一測試圖案產生器、一取樣維持電路及一類比訊號量測儀。該測試圖案產生器係用以產生一包含複數個位元訊號之測試圖案,其中該測試圖案可組合出待測之數位–類比轉換器之各種DA訊號。例如該位元訊號係各DA訊號之相同位元之組合,且於相鄰之DA訊號間等於零。該取樣及維持電路係用以針對該數位–類比轉換器之輸出訊號進行取樣及維持,藉以產生基本上漸增及連續之輸出訊號。該類比訊號量測儀係用以針對該取樣及維持電路之輸出訊號進行量測。
    • 一种非建置于芯片上之数码–模拟转换器之测试设备,其包含一测试图案产生器、一采样维持电路及一模拟信号量测仪。该测试图案产生器系用以产生一包含复数个比特信号之测试图案,其中该测试图案可组合出待测之数码–模拟转换器之各种DA信号。例如该比特信号系各DA信号之相同比特之组合,且于相邻之DA信号间等于零。该采样及维持电路系用以针对该数码–模拟转换器之输出信号进行采样及维持,借以产生基本上渐增及连续之输出信号。该模拟信号量测仪系用以针对该采样及维持电路之输出信号进行量测。
    • 9. 发明专利
    • 數位-類比轉換器之測試裝置及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
    • 数码-模拟转换器之测试设备及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
    • TWI247125B
    • 2006-01-11
    • TW093121721
    • 2004-07-21
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI陳穫溫 CHEN, HUO WEN
    • G01R
    • 一種非建置於晶片上之數位-類比轉換器之測試裝置,其包含一測試圖案產生器、一取樣維持電路及一類比訊號量測儀。該測試圖案產生器係用以產生一包含複數個位元訊號之測試圖案,其中該測試圖案可組合出待測之數位-類比轉換器之各種DA訊號。例如該位元訊號係各DA訊號之相同位元之組合,且於相鄰之DA訊號間等於零。該取樣及維持電路係用以針對該數位-類比轉換器之輸出訊號進行取樣及維持,藉以產生基本上漸增及連續之輸出訊號。該類比訊號量測儀係用以針對該取樣及維持電路之輸出訊號進行量測。
    • 一种非建置于芯片上之数码-模拟转换器之测试设备,其包含一测试图案产生器、一采样维持电路及一模拟信号量测仪。该测试图案产生器系用以产生一包含复数个比特信号之测试图案,其中该测试图案可组合出待测之数码-模拟转换器之各种DA信号。例如该比特信号系各DA信号之相同比特之组合,且于相邻之DA信号间等于零。该采样及维持电路系用以针对该数码-模拟转换器之输出信号进行采样及维持,借以产生基本上渐增及连续之输出信号。该模拟信号量测仪系用以针对该采样及维持电路之输出信号进行量测。
    • 10. 发明专利
    • 臨界電壓及通道長度調變補償之固定電流源 CONSTANT CURRENT SOURCE WITH THRESHOLD VOLTAGE AND CHANNEL LENGTH MODULATION COMPENSATION
    • 临界电压及信道长度调制补偿之固定电流源 CONSTANT CURRENT SOURCE WITH THRESHOLD VOLTAGE AND CHANNEL LENGTH MODULATION COMPENSATION
    • TW200427232A
    • 2004-12-01
    • TW092123608
    • 2003-08-27
    • 蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
    • 林俊偉 LIN, CHUN WEI
    • H03M
    • 本發明揭示一種臨界電壓及通道長度調變補償之固定電流源,其包含第一MOS電晶體、第二MOS電晶體、第三MOS電晶體、第四MOS電晶體及第五MOS電晶體,其分別具有閘極端、第一端以及第二端。該第二MOS電晶體之第一端耦合至負載阻抗,其第二端耦合至該第一MOS電晶體之第一端。該第三電晶體之閘極端及第一端共耦合至該第二MOS電晶體之MOS閘極端,其第二端耦合至該第四MOS電晶體之第一端。又該第四MOS電晶體之閘極端及第一端共耦合至該第一MOS電晶體之閘極端,其第二端耦合至第一參考電壓。該第五MOS電晶體之閘極端及第二端分別耦合至第二參考電壓及第三參考電壓,其第一端耦合至該第三電晶體之閘極端及第一端。
    • 本发明揭示一种临界电压及信道长度调制补偿之固定电流源,其包含第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第三MOS晶体管、第四MOS晶体管及第五MOS晶体管,其分别具有闸极端、第一端以及第二端。该第二MOS晶体管之第一端耦合至负载阻抗,其第二端耦合至该第一MOS晶体管之第一端。该第三晶体管之闸极端及第一端共耦合至该第二MOS晶体管之MOS闸极端,其第二端耦合至该第四MOS晶体管之第一端。又该第四MOS晶体管之闸极端及第一端共耦合至该第一MOS晶体管之闸极端,其第二端耦合至第一参考电压。该第五MOS晶体管之闸极端及第二端分别耦合至第二参考电压及第三参考电压,其第一端耦合至该第三晶体管之闸极端及第一端。