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1. 发明专利

TWI257482B 訊號抖動之量測方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING JITTER OF SIGNAL 失效
简体标题：信号抖动之量测方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING JITTER OF SIGNAL
公开(公告)号：TWI257482B
公开(公告)日：2006-07-01
申请号：TW093138891
申请日：2004-12-15
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN , 陳弘斌 CHEN, RAYMOND
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H04L1/205
摘要：一種訊號抖動之量測方法包含下列步驟：首先，提供一第一資料訊號，並將該第一資料訊號視為另一等效之第二資料訊號，其中該第一資料訊號之頻率為該第二資料訊號之頻率的倍數(以奇數倍為佳)，且於同一時間該第二資料訊號之升、降緣係相同於該第一資料訊號之升、降緣。接著，統計該第二資料訊號之高、低準位寬度，藉以產生一預估抖動流，其包含該第二資料訊號於升、降緣之預估抖動值。之後，根據該預估抖動流建立升、降緣之抖動分佈圖，並進而計算一眼開值。
简体摘要：一种信号抖动之量测方法包含下列步骤：首先，提供一第一数据信号，并将该第一数据信号视为另一等效之第二数据信号，其中该第一数据信号之频率为该第二数据信号之频率的倍数(以奇数倍为佳)，且于同一时间该第二数据信号之升、降缘系相同于该第一数据信号之升、降缘。接着，统计该第二数据信号之高、低准位宽度，借以产生一预估抖动流，其包含该第二数据信号于升、降缘之预估抖动值。之后，根据该预估抖动流创建升、降缘之抖动分布图，并进而计算一眼开值。

2. 发明专利

TW200619642A 訊號抖動之量測方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING JITTER OF SIGNAL 失效
简体标题：信号抖动之量测方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING JITTER OF SIGNAL
公开(公告)号：TW200619642A
公开(公告)日：2006-06-16
申请号：TW093138891
申请日：2004-12-15
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN , 陳弘斌 CHEN, RAYMOND
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H04L1/205
摘要：一種訊號抖動之量測方法包含下列步驟：首先，提供一第一資料訊號，並將該第一資料訊號視為另一等效之第二資料訊號，其中該第一資料訊號之頻率為該第二資料訊號之頻率的倍數(以奇數倍為佳)，且於同一時間該第二資料訊號之升、降緣係相同於該第一資料訊號之升、降緣。接著，統計該第二資料訊號之高、低準位寬度，藉以產生一預估抖動流，其包含該第二資料訊號於升、降緣之預估抖動值。之後，根據該預估抖動流建立升、降緣之抖動分佈圖，並進而計算一眼開值。
简体摘要：一种信号抖动之量测方法包含下列步骤：首先，提供一第一数据信号，并将该第一数据信号视为另一等效之第二数据信号，其中该第一数据信号之频率为该第二数据信号之频率的倍数(以奇数倍为佳)，且于同一时间该第二数据信号之升、降缘系相同于该第一数据信号之升、降缘。接着，统计该第二数据信号之高、低准位宽度，借以产生一预估抖动流，其包含该第二数据信号于升、降缘之预估抖动值。之后，根据该预估抖动流创建升、降缘之抖动分布图，并进而计算一眼开值。

3. 发明专利

TW200604549A 數位-類比轉換器之測試裝置及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER 审中-公开
简体标题：数码-模拟转换器之测试设备及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
公开(公告)号：TW200604549A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW093121721
申请日：2004-07-21
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN
IPC分类号： G01R
摘要：一種非建置於晶片上之數位–類比轉換器之測試裝置，其包含一測試圖案產生器、一取樣維持電路及一類比訊號量測儀。該測試圖案產生器係用以產生一包含複數個位元訊號之測試圖案，其中該測試圖案可組合出待測之數位–類比轉換器之各種DA訊號。例如該位元訊號係各DA訊號之相同位元之組合，且於相鄰之DA訊號間等於零。該取樣及維持電路係用以針對該數位–類比轉換器之輸出訊號進行取樣及維持，藉以產生基本上漸增及連續之輸出訊號。該類比訊號量測儀係用以針對該取樣及維持電路之輸出訊號進行量測。
简体摘要：一种非建置于芯片上之数码–模拟转换器之测试设备，其包含一测试图案产生器、一采样维持电路及一模拟信号量测仪。该测试图案产生器系用以产生一包含复数个比特信号之测试图案，其中该测试图案可组合出待测之数码–模拟转换器之各种DA信号。例如该比特信号系各DA信号之相同比特之组合，且于相邻之DA信号间等于零。该采样及维持电路系用以针对该数码–模拟转换器之输出信号进行采样及维持，借以产生基本上渐增及连续之输出信号。该模拟信号量测仪系用以针对该采样及维持电路之输出信号进行量测。

4. 发明专利

TWI247125B 數位-類比轉換器之測試裝置及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER 有权
简体标题：数码-模拟转换器之测试设备及方法 TESTING APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
公开(公告)号：TWI247125B
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：TW093121721
申请日：2004-07-21
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN
IPC分类号： G01R
摘要：一種非建置於晶片上之數位-類比轉換器之測試裝置，其包含一測試圖案產生器、一取樣維持電路及一類比訊號量測儀。該測試圖案產生器係用以產生一包含複數個位元訊號之測試圖案，其中該測試圖案可組合出待測之數位-類比轉換器之各種DA訊號。例如該位元訊號係各DA訊號之相同位元之組合，且於相鄰之DA訊號間等於零。該取樣及維持電路係用以針對該數位-類比轉換器之輸出訊號進行取樣及維持，藉以產生基本上漸增及連續之輸出訊號。該類比訊號量測儀係用以針對該取樣及維持電路之輸出訊號進行量測。
简体摘要：一种非建置于芯片上之数码-模拟转换器之测试设备，其包含一测试图案产生器、一采样维持电路及一模拟信号量测仪。该测试图案产生器系用以产生一包含复数个比特信号之测试图案，其中该测试图案可组合出待测之数码-模拟转换器之各种DA信号。例如该比特信号系各DA信号之相同比特之组合，且于相邻之DA信号间等于零。该采样及维持电路系用以针对该数码-模拟转换器之输出信号进行采样及维持，借以产生基本上渐增及连续之输出信号。该模拟信号量测仪系用以针对该采样及维持电路之输出信号进行量测。

5. 发明专利

TW200605513A 數位-類比轉換器之內建自我測試裝置及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER 失效
简体标题：数码-模拟转换器之内置自我测试设备及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
公开(公告)号：TW200605513A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW093121723
申请日：2004-07-21
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN
IPC分类号： H03M
摘要：本發明揭示一種數位–類比轉換器之內建自我測試裝置及方法，其主要利用一微分單元將數位轉類比之訊號進行微分，以取得該類比訊號各脈衝間之差異，並利用一施密特觸發單元將該類比訊號根據一臨界電壓轉換為數位訊號。之後，利用一責任週期擷取器計算該數位訊號的責任週期，並送入一簽入分析器計算微分非線性度，以進行誤差分析。至於高速DA訊號之處理，上述之微分單元之前置電路可採用一包含一測試圖案單元、一取樣及維持(sample–and–hold)電路及一邏輯電路之組合電路，用以降低DA訊號之速度。
简体摘要：本发明揭示一种数码–模拟转换器之内置自我测试设备及方法，其主要利用一微分单元将数码转模拟之信号进行微分，以取得该模拟信号各脉冲间之差异，并利用一施密特触发单元将该模拟信号根据一临界电压转换为数码信号。之后，利用一责任周期截取器计算该数码信号的责任周期，并送入一签入分析器计算微分非线性度，以进行误差分析。至于高速DA信号之处理，上述之微分单元之前置电路可采用一包含一测试图案单元、一采样及维持(sample–and–hold)电路及一逻辑电路之组合电路，用以降低DA信号之速度。

6. 发明专利

TWI237949B 數位-類比轉換器之內建自我測試裝置及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER 失效
简体标题：数码-模拟转换器之内置自我测试设备及方法 BIST APPARATUS AND METHOD FOR DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTER
公开(公告)号：TWI237949B
公开(公告)日：2005-08-11
申请号：TW093121723
申请日：2004-07-21
申请人：蔚華科技股份有限公司 SPIROX CORPORATION
发明人：林俊偉 LIN, CHUN WEI , 陳穫溫 CHEN, HUO WEN
IPC分类号： H03M
摘要：本發明揭示一種數位-類比轉換器之內建自我測試裝置及方法，其主要利用一微分單元將數位轉類比之訊號進行微分，以取得該類比訊號各脈衝間之差異，並利用一施密特觸發單元將該類比訊號根據一臨界電壓轉換為數位訊號。之後，利用一責任週期擷取器計算該數位訊號的責任週期，並送入一簽入分析器計算微分非線性度，以進行誤差分析。至於高速DA訊號之處理，上述之微分單元之前置電路可採用一包含一測試圖案單元、一取樣及維持(sample-and-hold)電路及一邏輯電路之組合電路，用以降低 DA訊號之速度。
简体摘要：本发明揭示一种数码-模拟转换器之内置自我测试设备及方法，其主要利用一微分单元将数码转模拟之信号进行微分，以取得该模拟信号各脉冲间之差异，并利用一施密特触发单元将该模拟信号根据一临界电压转换为数码信号。之后，利用一责任周期截取器计算该数码信号的责任周期，并送入一签入分析器计算微分非线性度，以进行误差分析。至于高速DA信号之处理，上述之微分单元之前置电路可采用一包含一测试图案单元、一采样及维持(sample-and-hold)电路及一逻辑电路之组合电路，用以降低 DA信号之速度。

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