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1. 发明专利

TW200720678A 電路基板之檢查裝置及電路基板之檢查方法以及異方導電性連接器审中-公开
简体标题：电路基板之检查设备及电路基板之检查方法以及异方导电性连接器
公开(公告)号：TW200720678A
公开(公告)日：2007-06-01
申请号：TW095131796
申请日：2006-08-29
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2806
摘要：本發明是揭示一種即使針對檢查對象電極之尺寸及間距或是間隔距離小之電路基板,亦可以執行高信賴性之電路基板之電性檢查,並且取得高檢查效率之電路裝置之檢查裝置及電路基板之檢查方法以及異方導電性連接器。上述檢查裝置是經由在測定狀態中被配置成接觸於被檢查電極之異方導電性彈性薄片(以下稱為「導電性薄片」),電性連接檢查對象電路基板(以下稱為「被檢查基板」)之檢查對象電極(以下稱為「被檢查電極」),和被形成對應於被檢查電極的檢查用電極,而執行被檢查基板之檢查者,具備有多數導電性薄片被長條薄膜狀之支撐體支撐的異方導電性連接器,和使該連接器移動之移動機構,使構成該連接器之多數導電性薄片介在於被檢查電極和檢查用電極之間而形成測定狀態。
简体摘要：本发明是揭示一种即使针对检查对象电极之尺寸及间距或是间隔距离小之电路基板,亦可以运行高信赖性之电路基板之电性检查,并且取得高检查效率之电路设备之检查设备及电路基板之检查方法以及异方导电性连接器。上述检查设备是经由在测定状态中被配置成接触于被检查电极之异方导电性弹性薄片(以下称为“导电性薄片”),电性连接检查对象电路基板(以下称为“被检查基板”)之检查对象电极(以下称为“被检查电极”),和被形成对应于被检查电极的检查用电极,而运行被检查基板之检查者,具备有多数导电性薄片被长条薄膜状之支撑体支撑的异方导电性连接器,和使该连接器移动之移动机构,使构成该连接器之多数导电性薄片介在于被检查电极和检查用电极之间而形成测定状态。

2. 发明专利

TW200716994A 電路基板之檢查裝置及電路基板之檢查方法审中-公开
简体标题：电路基板之检查设备及电路基板之检查方法
公开(公告)号：TW200716994A
公开(公告)日：2007-05-01
申请号：TW095132463
申请日：2006-09-01
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R1/07335 , G01R31/2805
摘要：提供一種即使檢查對象之電路基板具有微細間距之電極,亦可執行信賴高之電氣檢查,於連續性檢查電路基板之時,亦可以圓滑執行檢查作業之電路基板之檢查裝置。構成具備以特定間距配置在第1檢查治具之連結器基板焊第2檢查治具之連結器基板之間的多數導電插銷,和支撐導電插銷之一對間隔開之絕緣板,具備有輔助連接電路單元,該輔助連接電路單元是具備有:第1輔助中繼插銷單元,是具有以特定間距配置之多數導電插銷,和支持導電插銷之一對間隔開的絕緣板,被配置在第1檢查治具之連結器基板側;第2輔助中繼插銷單元,是具有以特定間距配置之多數導電插銷,和支持導電插銷之一對間隔開的絕緣板;和輔助向異導電性薄板,是將上述第1輔助中繼插銷單元和第2輔助中繼插銷單元予以互相電性連接,一方測試器側連結器之電極數不足之時,經由上述輔助連接電路單元而予以迂迴,朝向另一方測試器連結器之電極電性連接。
简体摘要：提供一种即使检查对象之电路基板具有微细间距之电极,亦可运行信赖高之电气检查,于连续性检查电路基板之时,亦可以圆滑运行检查作业之电路基板之检查设备。构成具备以特定间距配置在第1检查治具之链接器基板焊第2检查治具之链接器基板之间的多数导电插销,和支撑导电插销之一对间隔开之绝缘板,具备有辅助连接电路单元,该辅助连接电路单元是具备有:第1辅助中继插销单元,是具有以特定间距配置之多数导电插销,和支持导电插销之一对间隔开的绝缘板,被配置在第1检查治具之链接器基板侧;第2辅助中继插销单元,是具有以特定间距配置之多数导电插销,和支持导电插销之一对间隔开的绝缘板;和辅助向异导电性薄板,是将上述第1辅助中继插销单元和第2辅助中继插销单元予以互相电性连接,一方测试器侧链接器之电极数不足之时,经由上述辅助连接电路单元而予以迂回,朝向另一方测试器链接器之电极电性连接。

3. 发明专利

TW200608034A 電路基板之檢測裝置及電路基板之檢測方法审中-公开
简体标题：电路基板之检测设备及电路基板之检测方法
公开(公告)号：TW200608034A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：TW094117184
申请日：2005-05-25
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07328
摘要：提供一種電路基板之檢測裝置及檢測方法，即使檢測對象亦即被檢測電路基板是具有微細節距的微小電極者，也能夠進行信賴性高的電氣檢測，進而，能夠有效率地進行檢測治具和被檢測電路基板之間的定位。針對電路基板側連接器21和測試器側連接器41之間的中繼銷組件31，利用第1支持銷33來固定第1絕緣板34和中間保持板36，並利用第2支持銷37來固定第2絕緣板35和中間保持板36，且第1支持銷33之對於中間保持板36的第1抵接支持位置、和第2支持銷37之對於中間保持板36的第2抵接支持位置，在往中間保持板36的厚度方向投影而成的中間保持板投影面上，係被配置在相異位置。而且，將CCD照相機91之類的照相裝置配置在中繼銷組件31內，作成可以進行檢測治具11和被檢測電路基板之間的定位。
简体摘要：提供一种电路基板之检测设备及检测方法，即使检测对象亦即被检测电路基板是具有微细节距的微小电极者，也能够进行信赖性高的电气检测，进而，能够有效率地进行检测治具和被检测电路基板之间的定位。针对电路基板侧连接器21和测试器侧连接器41之间的中继销组件31，利用第1支持销33来固定第1绝缘板34和中间保持板36，并利用第2支持销37来固定第2绝缘板35和中间保持板36，且第1支持销33之对于中间保持板36的第1抵接支持位置、和第2支持销37之对于中间保持板36的第2抵接支持位置，在往中间保持板36的厚度方向投影而成的中间保持板投影面上，系被配置在相异位置。而且，将CCD照相机91之类的照相设备配置在中继销组件31内，作成可以进行检测治具11和被检测电路基板之间的定位。

4. 发明专利

TW200619647A 電路基板之檢查裝置及電路基板之檢查方法审中-公开
简体标题：电路基板之检查设备及电路基板之检查方法
公开(公告)号：TW200619647A
公开(公告)日：2006-06-16
申请号：TW094124149
申请日：2005-07-15
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI , 原富士雄 HARA, FUJIO
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07335 , G01R1/06711 , G01R1/07378 , G01R3/00
摘要：本發明是在於提供一種即使檢查對象的電路基板為具有微細間距的電極者，還是可以進行可靠度高的電性檢查之電路基板的檢查裝置及電路基板的檢查方法。中繼插銷元件31具備：中間保持板36、配置於第1絕緣板34與中間保持板36之間的第1支撐插銷33、及配置於第2絕緣板35與中間保持板36之間的第2支撐插銷37，且第1支撐插銷對中間保持板的第1抵接支撐位置、第2支撐插銷對中間保持板的第2抵接支撐位置會在投影於中間保持板的厚度方向的中間保持板投影面中配置於相異的位置。又，由利用雷射加工來形成的導電路形成部及使該等的導電路形成部互相絕緣的絕緣部所構成的第1異方導電性薄板22會在間距變換用基板23側被一體化，而構成間距變換用轉接器體60。或，在形成於基板73的複數個貫通孔中設置形成有絕緣部62及使絕緣部62往厚度方向貫通的導電路形成部61之中繼基板29，供以中繼間距變換用基板23與被檢查電路基板1的電性連接。
简体摘要：本发明是在于提供一种即使检查对象的电路基板为具有微细间距的电极者，还是可以进行可靠度高的电性检查之电路基板的检查设备及电路基板的检查方法。中继插销组件31具备：中间保持板36、配置于第1绝缘板34与中间保持板36之间的第1支撑插销33、及配置于第2绝缘板35与中间保持板36之间的第2支撑插销37，且第1支撑插销对中间保持板的第1抵接支撑位置、第2支撑插销对中间保持板的第2抵接支撑位置会在投影于中间保持板的厚度方向的中间保持板投影面中配置于相异的位置。又，由利用激光加工来形成的导电路形成部及使该等的导电路形成部互相绝缘的绝缘部所构成的第1异方导电性薄板22会在间距变换用基板23侧被一体化，而构成间距变换用转接器体60。或，在形成于基板73的复数个贯通孔中设置形成有绝缘部62及使绝缘部62往厚度方向贯通的导电路形成部61之中继基板29，供以中继间距变换用基板23与被检查电路基板1的电性连接。

5. 发明专利

TW200604548A 電路基板之檢查裝置及電路基板之檢查方法审中-公开
简体标题：电路基板之检查设备及电路基板之检查方法
公开(公告)号：TW200604548A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW094121022
申请日：2005-06-23
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07328
摘要：提供一種即使為屬於檢查對象之被檢查電路基板具有微細間距之微小電極，亦可以執行信賴高之電性檢查，且即使於連續性檢查電路基板之時，亦可以流暢執行檢查作業的電路基板之檢查裝置。中繼插銷元件31是具備有中間保持板36；被配置在第1絕緣板34和中間保持板36之間的第1支撐插銷33；和被配置在上述第2絕緣板35和中間保持板36之間的第2支撐插銷37，並且，相對於第1支撐插銷之中間保持板的第1抵接支撐位置，和相對於第2支撐插銷之中間保持板的第2抵接支撐位置，是被配置在投影於中間保持板之厚度方向的中間保持板投影面不同的位置上。再者，依據設置在第1或者第2絕緣板和中間保持板之間的彎曲保持板84將導電插銷32推壓於橫方向，藉此導電插銷32被支撐成可移動在軸方向。
简体摘要：提供一种即使为属于检查对象之被检查电路基板具有微细间距之微小电极，亦可以运行信赖高之电性检查，且即使于连续性检查电路基板之时，亦可以流畅运行检查作业的电路基板之检查设备。中继插销组件31是具备有中间保持板36；被配置在第1绝缘板34和中间保持板36之间的第1支撑插销33；和被配置在上述第2绝缘板35和中间保持板36之间的第2支撑插销37，并且，相对于第1支撑插销之中间保持板的第1抵接支撑位置，和相对于第2支撑插销之中间保持板的第2抵接支撑位置，是被配置在投影于中间保持板之厚度方向的中间保持板投影面不同的位置上。再者，依据设置在第1或者第2绝缘板和中间保持板之间的弯曲保持板84将导电插销32推压于横方向，借此导电插销32被支撑成可移动在轴方向。

6. 发明专利

TW200613736A 電路基板的檢查裝置及電路基板的檢查方法失效
简体标题：电路基板的检查设备及电路基板的检查方法
公开(公告)号：TW200613736A
公开(公告)日：2006-05-01
申请号：TW094123932
申请日：2005-07-14
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI , 原富士雄 HARA, FUJIO
IPC分类号： G01R , H05K
CPC分类号： G01R1/07335
摘要：本發明是在於提供一種可良好地吸收被檢查電路基板的被檢查電極的高度不均，即使被檢查電極為微細間距，還是可以確保接的檢查電極間的絕緣性之電路基板的檢查裝置及電路基板的檢查方法。在中繼插銷單元31設置中間保持板36，而使配置於第1絕緣板34與中間保持板36之間的第1支撐插銷33對中間保持板的第1抵接支撐位置38A、及配置於第2絕緣板35與中間保持板36之間的第2支撐插銷37對中間保持板36的第2抵接支撐位置38B，在投影於中間保持板36的厚度方向之中間保持板投影面中配置於相異的位置。並且，在間距變換用基板23的被檢查電路基板側配置一貫通基板的複數個剛性導體電極可移動保持於該基板的厚度方向之中繼基板29，且於其兩面側配置薄薄的分散型異方導電性薄板22，22，經由分散型異方導電性薄板22，22以中繼基板29來中繼間距變換用基板23與被檢查電路基板1的電性連接。
简体摘要：本发明是在于提供一种可良好地吸收被检查电路基板的被检查电极的高度不均，即使被检查电极为微细间距，还是可以确保接的检查电极间的绝缘性之电路基板的检查设备及电路基板的检查方法。在中继插销单元31设置中间保持板36，而使配置于第1绝缘板34与中间保持板36之间的第1支撑插销33对中间保持板的第1抵接支撑位置38A、及配置于第2绝缘板35与中间保持板36之间的第2支撑插销37对中间保持板36的第2抵接支撑位置38B，在投影于中间保持板36的厚度方向之中间保持板投影面中配置于相异的位置。并且，在间距变换用基板23的被检查电路基板侧配置一贯通基板的复数个刚性导体电极可移动保持于该基板的厚度方向之中继基板29，且于其两面侧配置薄薄的分散型异方导电性薄板22，22，经由分散型异方导电性薄板22，22以中继基板29来中继间距变换用基板23与被检查电路基板1的电性连接。

7. 发明专利

TW200530602A 電路基板之檢查裝置及電路基板之檢查方法审中-公开
简体标题：电路基板之检查设备及电路基板之检查方法
公开(公告)号：TW200530602A
公开(公告)日：2005-09-16
申请号：TW094106302
申请日：2005-03-02
申请人： JSR股份有限公司 JSR CORPORATION
发明人：木村潔 KIMURA, KIYOSHI , 下田杉郎 SHIMODA, SUGIRO , 鈴木聰 SUZUKI, SATOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07335
摘要：提供一種即使為屬於檢查對象之被檢查電路基板具有微細間距之微小電極，亦可以執行信賴高之電路基板之電氣性檢查的電路基板之檢查裝置。屬於藉由一對第1檢查治具和第2檢查治具，在兩檢查治具之間夾壓為檢查對象之被檢查電路基板之兩面而執行電氣檢查的電路基板之檢查裝置，使用導電性粒子配列於厚度方向，並且被均勻分散在面方向之異方導電性薄膜，來作為被配置於卷變換用基板之被檢查電路基板側之第1異方導電性薄膜。再者，由相對於被檢查電路基板之各被檢查電極而被電氣性連接之一對電流用端子電極和電壓用端子電極，構成間距變換用基板之連接電極，在連接器基板上配置各電氣性連接於間距變換用基板之電流用端子電極和電壓用端子電極的電流用插銷側電極和電壓用插銷側電極。再者，在中繼插銷元件中之第1絕緣板和第2絕緣板之間配置中間保持板，並在該些之間，配置支撐插銷於表背面之抵接支撐位置為互相不同之位置上。
简体摘要：提供一种即使为属于检查对象之被检查电路基板具有微细间距之微小电极，亦可以运行信赖高之电路基板之电气性检查的电路基板之检查设备。属于借由一对第1检查治具和第2检查治具，在两检查治具之间夹压为检查对象之被检查电路基板之两面而运行电气检查的电路基板之检查设备，使用导电性粒子配列于厚度方向，并且被均匀分散在面方向之异方导电性薄膜，来作为被配置于卷变换用基板之被检查电路基板侧之第1异方导电性薄膜。再者，由相对于被检查电路基板之各被检查电极而被电气性连接之一对电流用端子电极和电压用端子电极，构成间距变换用基板之连接电极，在连接器基板上配置各电气性连接于间距变换用基板之电流用端子电极和电压用端子电极的电流用插销侧电极和电压用插销侧电极。再者，在中继插销组件中之第1绝缘板和第2绝缘板之间配置中间保持板，并在该些之间，配置支撑插销于表背面之抵接支撑位置为互相不同之位置上。

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