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1. 发明专利

TW201518677A 測量儀器線鐳射測頭測量資料擬合系統及方法审中-公开
简体标题：测量仪器线激光测头测量数据拟合系统及方法
公开(公告)号：TW201518677A
公开(公告)日：2015-05-16
申请号：TW102141140
申请日：2013-11-12
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張滋 , ZHANG, ZI , 徐韋 , XU, WEI , 陳斌 , CHEN, BIN , 屈保鋒 , QU, BAO-FENG
IPC分类号： G01B11/00
摘要：本發明提供一種測量儀器線鐳射測頭測量資料擬合系統及方法，該系統用於：獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量待測物體所得到的輪廓資料；若所述獲取到的待測物體的輪廓資料在待測輪廓範圍內，利用第一線鐳射測頭測量的輪廓資料和第二線鐳射測頭測量的輪廓資料，計算兩個鐳射測頭之間的傾角值；根據所述兩個鐳射測頭測量的輪廓資料，計算兩個鐳射測頭的位差值和間距值；按照兩個鐳射測頭的傾角、位差值和間距值建立兩個鐳射測頭測量的輪廓資料的擬合關係；根據上述擬合關係利用兩個鐳射測頭測量的輪廓資料來產生待測物體的量測結果。
简体摘要：本发明提供一种测量仪器线激光测头测量数据拟合系统及方法，该系统用于：获取第一线激光测头和第二线激光测头测量待测物体所得到的轮廓数据；若所述获取到的待测物体的轮廓数据在待测轮廓范围内，利用第一线激光测头测量的轮廓数据和第二线激光测头测量的轮廓数据，计算两个激光测头之间的倾角值；根据所述两个激光测头测量的轮廓数据，计算两个激光测头的位差值和间距值；按照两个激光测头的倾角、位差值和间距值创建两个激光测头测量的轮廓数据的拟合关系；根据上述拟合关系利用两个激光测头测量的轮廓数据来产生待测物体的量测结果。

2. 发明专利

TW201514441A 測量儀器線鐳射測頭校準系統及方法审中-公开
简体标题：测量仪器线激光测头校准系统及方法
公开(公告)号：TW201514441A
公开(公告)日：2015-04-16
申请号：TW102131124
申请日：2013-08-29
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張滋 , ZHANG, ZI , 徐韋 , XU, WEI , 陳斌 , CHEN, BIN , 屈保鋒 , QU, BAO-FENG
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/24
摘要：一種測量儀器線鐳射測頭校準系統，包括：第一測量模組，用於獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測得第一標準件的輪廓資料；第一計算模組，用於計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭之間的傾角值；第二測量模組，用於獲取第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭測量第二標準件的輪廓資料；第二計算模組，用於計算第一線鐳射測頭和第二線鐳射測頭的位差值和間距值；獲取模組，用於根據傾角值、位差值及間距值校準第二線鐳射測頭測量第一標準件的輪廓資料得到測量值；第三計算模組，用於根據第一標準件的測量值與標準值計算精度補償值。
简体摘要：一种测量仪器线激光测头校准系统，包括：第一测量模块，用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测得第一标准件的轮廓数据；第一计算模块，用于计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值；第二测量模块，用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件的轮廓数据；第二计算模块，用于计算第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取模块，用于根据倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据得到测量值；第三计算模块，用于根据第一标准件的测量值与标准值计算精度补偿值。

3. 发明专利

TWI593954B 雷射測量裝置及其校準機構有权
简体标题：激光测量设备及其校准机构
公开(公告)号：TWI593954B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW102122505
申请日：2013-06-25
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：林桂央 , LIN, KUEI YANG , 操明山 , CAO, MING-SHAN , 曾凡建 , ZENG, FAN-JIAN , 陳斌 , CHEN, BIN
IPC分类号： G01N21/84

4. 发明专利

TW201500730A 激光測量裝置及其校準機構审中-公开
简体标题：激光测量设备及其校准机构
公开(公告)号：TW201500730A
公开(公告)日：2015-01-01
申请号：TW102122505
申请日：2013-06-25
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：林桂央 , LIN, KUEI YANG , 操明山 , CAO, MING-SHAN , 曾凡建 , ZENG, FAN-JIAN , 陳斌 , CHEN, BIN
IPC分类号： G01N21/84
摘要：一種校準機構，其安裝在固定組件上，該固定組件上相對間隔安裝第一激光測頭及第二激光測頭。該校準機構包括安裝板、調節件及柱體，該安裝板安裝於該固定組件上。該調節件包括一體設置之調節段、固定段及校準塊，該調節段活動地安裝在該安裝板上，該柱體容置於該固定段內，該校準塊凸設在該固定段一側，該調節件在該安裝板上滑動，使得該第一激光測頭及該第二激光測頭對準該柱體或該校準塊。本發明還提供一種應用該校準機構之激光測量裝置，該激光測量裝置包括固定組件、校準機構、第一激光測頭及第二激光測頭。使用該校準機構時，校準過程自動化，校位準確。
简体摘要：一种校准机构，其安装在固定组件上，该固定组件上相对间隔安装第一激光测头及第二激光测头。该校准机构包括安装板、调节件及柱体，该安装板安装于该固定组件上。该调节件包括一体设置之调节段、固定段及校准块，该调节段活动地安装在该安装板上，该柱体容置于该固定段内，该校准块凸设在该固定段一侧，该调节件在该安装板上滑动，使得该第一激光测头及该第二激光测头对准该柱体或该校准块。本发明还提供一种应用该校准机构之激光测量设备，该激光测量设备包括固定组件、校准机构、第一激光测头及第二激光测头。使用该校准机构时，校准过程自动化，校位准确。

5. 外观设计

TWD156766S 鐳射量測設備有权
简体标题：激光量测设备
公开(公告)号：TWD156766S
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：TW102302087
申请日：2013-03-22
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
设计人：林桂央 , LIN, KUEI YANG , 操明山 , CAO, MING-SHAN , 曾凡建 , ZENG, FAN-JIAN , 陳斌 , CHEN, BIN

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