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1. 发明专利

TW201920910A 用於測量光之裝置、系統及方法审中-公开
简体标题：用于测量光之设备、系统及方法
公开(公告)号：TW201920910A
公开(公告)日：2019-06-01
申请号：TW107130776
申请日：2018-09-03
申请人：韓商韓國大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS KOREA CO., LTD.
发明人：金大亨 , KIM, DAI HYUNG , 鄭致雲 , JEONG, CHI WOON , 羅先欽 , NA, SEON HEUM
IPC分类号： G01J1/28 , H04N17/02
摘要：本發明係關於一種用於測量自檢測體接收之光之裝置、系統及方法。在測量自檢測體放出之光而獲得三激值等之經修正之影像的先前之複合系統中，由於利用分束器等光分歧機構，故有測量機之光感度降低、結果導致測量速度變慢之問題點。因而，本發明為了解決上述課題，而設為可使自檢測體發出且入射至光測量裝置之光不經由將光分歧為複數個並使其等指向互不相同之方向之光分歧機構而入射至第1測量機及第2測量機。且，為此本發明之特徵在於以下述之方式配置第1測量機與第2測量機，即：至第1測量機之第1光之光路徑中自共通測量區域內之一地點延長的第1光路徑區間、與至第2測量機之第2光之光路徑中自上述一地點延長的第2光路徑區間不相互重疊，而在大於0ﾟ小於180ﾟ之範圍內形成角。
简体摘要：本发明系关于一种用于测量自检测体接收之光之设备、系统及方法。在测量自检测体放出之光而获得三激值等之经修正之影像的先前之复合系统中，由于利用分束器等光分歧机构，故有测量机之光感度降低、结果导致测量速度变慢之问题点。因而，本发明为了解决上述课题，而设为可使自检测体发出且入射至光测量设备之光不经由将光分歧为复数个并使其等指向互不相同之方向之光分歧机构而入射至第1测量机及第2测量机。且，为此本发明之特征在于以下述之方式配置第1测量机与第2测量机，即：至第1测量机之第1光之光路径中自共通测量区域内之一地点延长的第1光路径区间、与至第2测量机之第2光之光路径中自上述一地点延长的第2光路径区间不相互重叠，而在大于0ﾟ小于180ﾟ之范围内形成角。

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