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1. 发明专利

TWI632576B 可調整按壓手感之按鍵開關有权
简体标题：可调整按压手感之按键开关
公开(公告)号：TWI632576B
公开(公告)日：2018-08-11
申请号：TW106142370
申请日：2017-12-04
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG , 王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 楊宸 , YANG, CHEN
IPC分类号： H01H13/20 , H01H13/14

2. 发明专利

TWI699795B 按鍵有权
简体标题：按键
公开(公告)号：TWI699795B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：TW108103026
申请日：2019-01-28
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 楊宸 , YANG, CHEN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG
IPC分类号： H01H13/70 , H01H13/7057

3. 发明专利

TWI699793B 可調整按壓行程的按鍵及其鍵盤有权
简体标题：可调整按压行程的按键及其键盘
公开(公告)号：TWI699793B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：TW107137650
申请日：2018-10-25
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 楊宸 , YANG, CHEN , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG
IPC分类号： H01H13/20 , H01H13/70

4. 发明专利

TW202008416A 鍵盤审中-公开
简体标题：键盘
公开(公告)号：TW202008416A
公开(公告)日：2020-02-16
申请号：TW108128071
申请日：2019-08-07
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 楊宸 , YANG, CHEN , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 劉家宏 , LIU, JIA-HUNG , 紀智耀 , CHI, CHIH-YAO
IPC分类号： H01H13/78
摘要：一種鍵盤包含複數按鍵結構、調整板、基座及連動機構。各具有手感彈性件；調整板設置於複數按鍵結構下方，調整板包含板本體及複數調整桿，複數調整桿自板本體朝複數按鍵結構突出，以分別對應複數按鍵結構的手感彈性件；基座設置於調整板下方；連動機構可活動地設置於基座並連接調整板，其中當連動機構於基座活動時，連動機構帶動調整板移動，以使複數調整桿帶動對應的手感彈性件移動，以改變複數按鍵結構的按壓手感。
简体摘要：一种键盘包含复数按键结构、调整板、基座及连动机构。各具有手感弹性件；调整板设置于复数按键结构下方，调整板包含板本体及复数调整杆，复数调整杆自板本体朝复数按键结构突出，以分别对应复数按键结构的手感弹性件；基座设置于调整板下方；连动机构可活动地设置于基座并连接调整板，其中当连动机构于基座活动时，连动机构带动调整板移动，以使复数调整杆带动对应的手感弹性件移动，以改变复数按键结构的按压手感。

5. 发明专利

TWI667676B 按鍵結構有权
简体标题：按键结构
公开(公告)号：TWI667676B
公开(公告)日：2019-08-01
申请号：TW107117136
申请日：2018-05-18
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：林彥孝 , LIN, YEN-HSIAO , 王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 楊宸 , YANG, CHEN , 葉亮達 , YEH, LIANG-TA
IPC分类号： H01H13/705 , H01H13/7065 , G06F3/02

6. 发明专利

TWI700613B 鍵盤有权
简体标题：键盘
公开(公告)号：TWI700613B
公开(公告)日：2020-08-01
申请号：TW108110685
申请日：2019-03-27
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：楊宸 , YANG, CHEN , 謝銘元 , HSIEH, MING-YUAN , 江治湘 , CHIANG, CHIH-HSIANG , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN
IPC分类号： G06F3/02 , G06F3/038 , H01H13/807

7. 发明专利

TW202008411A 按鍵审中-公开
简体标题：按键
公开(公告)号：TW202008411A
公开(公告)日：2020-02-16
申请号：TW107125811
申请日：2018-07-26
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 楊宸 , YANG, CHEN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG
IPC分类号： H01H13/705
摘要：一種按鍵包含具有觸發開關之電路板、設置於電路板上之底板、設置於底板上方之鍵帽、支撐裝置、設置於電路板上之底座、連接於底座之上蓋、彈簧及彈性結構體。支撐裝置設置於底板及鍵帽之間且包含第一及第二支撐件，第一及第二支撐件可活動地連接鍵帽及底板且彼此交叉樞接，以使鍵帽隨第一及第二支撐件之交叉樞轉在按壓位置與未按壓位置之間上下移動。彈簧穿設於第一及第二支撐件中且抵接鍵帽，用來驅動鍵帽回位至未按壓位置。彈性結構體設置於對應觸發開關之位置，用來於鍵帽被按壓至按壓位置時下壓觸發開關。
简体摘要：一种按键包含具有触发开关之电路板、设置于电路板上之底板、设置于底板上方之键帽、支撑设备、设置于电路板上之底座、连接于底座之上盖、弹簧及弹性结构体。支撑设备设置于底板及键帽之间且包含第一及第二支撑件，第一及第二支撑件可活动地连接键帽及底板且彼此交叉枢接，以使键帽随第一及第二支撑件之交叉枢转在按压位置与未按压位置之间上下移动。弹簧穿设于第一及第二支撑件中且抵接键帽，用来驱动键帽回位至未按压位置。弹性结构体设置于对应触发开关之位置，用来于键帽被按压至按压位置时下压触发开关。

8. 发明专利

TWI674608B 可調整按壓觸發點的光學式按鍵及其光學式鍵盤有权
简体标题：可调整按压触发点的光学式按键及其光学式键盘
公开(公告)号：TWI674608B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：TW107137649
申请日：2018-10-25
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 楊宸 , YANG, CHEN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG
IPC分类号： H01H13/7065 , H01H13/85

9. 发明专利

TWI665701B 按鍵有权
简体标题：按键
公开(公告)号：TWI665701B
公开(公告)日：2019-07-11
申请号：TW107125811
申请日：2018-07-26
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 楊宸 , YANG, CHEN , 劉家宏 , LIU, CHIA-HUNG
IPC分类号： H01H13/705

10. 发明专利

TW202004804A 按鍵結構审中-公开
简体标题：按键结构
公开(公告)号：TW202004804A
公开(公告)日：2020-01-16
申请号：TW107117136
申请日：2018-05-18
申请人：達方電子股份有限公司 , DARFON ELECTRONICS CORP.
发明人：林彥孝 , LIN, YEN-HSIAO , 王勇智 , WANG, YUNG-CHIH , 謝育群 , HSIEH, YU-CHUN , 楊宸 , YANG, CHEN , 葉亮達 , YEH, LIANG-TA
IPC分类号： H01H13/705 , H01H13/7065 , G06F3/02
摘要：一種按鍵結構具有抵接塊與彈性體，抵接塊係設置於鍵帽或剪刀腳結構上，可隨著鍵帽移動而移動以抵觸彈性體進而發出聲響或產生觸覺手感，故可應用於未裝設機械軸開關的非機械式鍵盤，使非機械式鍵盤在操作時能夠提供類似機械軸開關按壓時的按壓聲響 (click sound) 或觸覺手感 (tactile feedback)，使較低成本的非機械式鍵盤，也能讓使用者感受到類似較昂貴具有機械軸開關的鍵盤的操作體驗。
简体摘要：一种按键结构具有抵接块与弹性体，抵接块系设置于键帽或剪刀脚结构上，可随着键帽移动而移动以抵触弹性体进而发出声响或产生触觉手感，故可应用于未装设机械轴开关的非机械式键盘，使非机械式键盘在操作时能够提供类似机械轴开关按压时的按压声响 (click sound) 或触觉手感 (tactile feedback)，使较低成本的非机械式键盘，也能让用户感受到类似较昂贵具有机械轴开关的键盘的操作体验。

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