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1. 发明专利

TW200634640A RFID測試系統审中-公开
简体标题： RFID测试系统
公开(公告)号：TW200634640A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094108552
申请日：2005-03-21
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張維 , 余俊德 YU, JUN DE , 王聖弼 , 陳士林 , 陳佩君 , 張素惠
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G06K7/0008
摘要：一種RFID測試系統，包括一待測物、一RFID讀取機以及一測試機，該待測物上係設有一RFID標籤，該測試機係包括一底座、一第一滑軌，其係具有長條外形且固定於該底座上、一第二滑軌，其係具有長條外形且位於該第一滑軌之上，該第二滑軌係垂直於該第一滑軌，且可沿著該第一滑軌做線性移動、一第三滑軌，其係具有長條外形且位於該第二滑軌之上，該第三滑軌係分別垂直於該第一滑軌及該第二滑軌，且可沿著該第二滑軌做線性移動，以及一箝制部，其係與該第三滑軌相連接且可沿著該第三滑軌做線性移動，該箝制部係固定該待測物或該RFID讀取機。
简体摘要：一种RFID测试系统，包括一待测物、一RFID读取机以及一测试机，该待测物上系设有一RFID标签，该测试机系包括一底座、一第一滑轨，其系具有长条外形且固定于该底座上、一第二滑轨，其系具有长条外形且位于该第一滑轨之上，该第二滑轨系垂直于该第一滑轨，且可沿着该第一滑轨做线性移动、一第三滑轨，其系具有长条外形且位于该第二滑轨之上，该第三滑轨系分别垂直于该第一滑轨及该第二滑轨，且可沿着该第二滑轨做线性移动，以及一箝制部，其系与该第三滑轨相连接且可沿着该第三滑轨做线性移动，该箝制部系固定该待测物或该RFID读取机。

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