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1. 发明专利

TWI490780B 嵌入式系統及其存取資料方法有权
简体标题：嵌入式系统及其存取数据方法
公开(公告)号：TWI490780B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW099103586
申请日：2010-02-05
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATOIRES
发明人：陳建宏 , CHEN, CHIEN HUNG , 許家偉 , HSU, CHIA WEI , 林育全 , LIN, YU CHUAN , 林群富 , LIN, CHUN FU , 黃泰綸 , HUANG, TAI LUN , 周世傑 , CHOU, SHIH JIE , 蔡和霖 , TSAY, HO LIN , 廖泰杉 , LIAO, TAI SHAN , 黃吉宏 , HUANG, CHI HUNG
IPC分类号： G06F7/38 , G06F12/00

2. 发明专利

TWI471117B 可用於行動裝置之人臉膚質評估演算介面裝置有权
简体标题：可用于行动设备之人脸肤质评估演算界面设备
公开(公告)号：TWI471117B
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW100115016
申请日：2011-04-29
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATOIRES
发明人：周世傑 , CHOU, SHIH JIE , 吳至傑 , WU, CHIH CHIEH , 廖泰杉 , LIAO, TAI SHAN , 黃吉宏 , HWANG, CHI HUNG , 蔡定平 , TSAI, DIN PING
IPC分类号： A61B5/00 , G06F3/048 , G06K9/60
CPC分类号： A61B5/441 , A61B5/7405 , A61B5/742 , A61B2560/0487 , G06T7/0012 , G06T2207/10016 , G06T2207/10024 , G06T2207/20104 , G06T2207/30088 , G06T2207/30201

3. 发明专利

TW201629490A 陣列式近場光學高散射材料檢測方法审中-公开
简体标题：数组式近场光学高散射材料检测方法
公开(公告)号：TW201629490A
公开(公告)日：2016-08-16
申请号：TW104104158
申请日：2015-02-06
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES
发明人：黃鴻基 , HUANG, HUNG JI , 黃吉宏 , HUANG, CHI HUNG , 曾盛豪 , TSENG, SHENG HAO , 周世傑 , CHOU, SHIH JIE , 翁睿謙 , WENG, RUI CIAN , 曾士育 , TZENG, SHIH YU
IPC分类号： G01Q90/00 , G01N21/47 , G01N33/48
摘要：一種陣列式近場光學高散射材料檢測方法，其包含下列步驟：照射一輸入光至該高散射材料上，以讓該照射光在該高散射材料中產生一漫反射、擴散與傳遞; 讀取該高散射材料上之不同位置之光學能量;根據該等光學能量，形成一二維光強度分佈數據影像; 並根據該二維光強度分佈數據影像，分析該高散射材料之一組成結構變化，並因此得到該高散射材料之一組成結構。本方法被運用於生醫工程、化學工程、環境工程、與水產養殖應用等綠色科技之檢測技術上。
简体摘要：一种数组式近场光学高散射材料检测方法，其包含下列步骤：照射一输入光至该高散射材料上，以让该照射光在该高散射材料中产生一漫反射、扩散与传递; 读取该高散射材料上之不同位置之光学能量;根据该等光学能量，形成一二维光强度分布数据影像; 并根据该二维光强度分布数据影像，分析该高散射材料之一组成结构变化，并因此得到该高散射材料之一组成结构。本方法被运用于生医工程、化学工程、环境工程、与水产养殖应用等绿色科技之检测技术上。

4. 发明专利

TWI668413B 可撓性光學測距裝置有权
简体标题：可挠性光学测距设备
公开(公告)号：TWI668413B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW106136210
申请日：2017-10-20
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES
发明人：廖泰杉 , LIAO, TAI SHAN , 黃吉宏 , HUANG, CHI HUNG , 張君勵 , CHANG, CHUN LI , 周世傑 , CHOU, SHIH JIE
IPC分类号： G01C3/02 , G02B6/43 , G01B11/00

5. 发明专利

TWI498539B 影像式度量折光度系統有权
简体标题：影像式度量折光度系统
公开(公告)号：TWI498539B
公开(公告)日：2015-09-01
申请号：TW102100988
申请日：2013-01-10
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES
发明人：廖泰杉 , LIAO, TAI SHAN , 黃吉宏 , HUANG, CHI HUNG , 吳至傑 , WU, CHIH CHIEH , 蔡定平 , TSAI, DIN PING , 周世傑 , CHOU, SHIH JIE , 何承舫 , HO, CHENG FANG
IPC分类号： G01N21/41 , G01D5/26
CPC分类号： G01N21/43

6. 发明专利

TW201428261A 影像式度量折光度系統审中-公开
简体标题：影像式度量折光度系统
公开(公告)号：TW201428261A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：TW102100988
申请日：2013-01-10
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES
发明人：廖泰杉 , LIAO, TAI SHAN , 黃吉宏 , HUANG, CHI HUNG , 吳至傑 , WU, CHIH CHIEH , 蔡定平 , TSAI, DIN PING , 周世傑 , CHOU, SHIH JIE , 何承舫 , HO, CHENG FANG
IPC分类号： G01N21/41 , G01D5/26
CPC分类号： G01N21/43
摘要：一種影像式折光度度量系統，其包含光學裝置及電子裝置。光學裝置係匯集通過待測物之外部光源；電子裝置包含影像擷取模組、影像分析模組及顯示模組。影像擷取模組擷取外部光源以產生第一影像；影像分析模組連接於影像擷取模組以接收第一影像，並分析第一影像以產生包含待測物之折光度之分析結果；顯示模組連接於影像分析模組以接收並顯示分析結果。
简体摘要：一种影像式折光度度量系统，其包含光学设备及电子设备。光学设备系汇集通过待测物之外部光源；电子设备包含影像截取模块、影像分析模块及显示模块。影像截取模块截取外部光源以产生第一影像；影像分析模块连接于影像截取模块以接收第一影像，并分析第一影像以产生包含待测物之折光度之分析结果；显示模块连接于影像分析模块以接收并显示分析结果。

7. 发明专利

TWI346893B 即時式並列資料排序轉換裝置與方法 DEVICE FOR IMMEDIATELY TRANSFERRING THE PARALLEL DATA SORT AND METHOD THEREOF 失效
简体标题：实时式并列数据排序转换设备与方法 DEVICE FOR IMMEDIATELY TRANSFERRING THE PARALLEL DATA SORT AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TWI346893B
公开(公告)日：2011-08-11
申请号：TW096134598
申请日：2007-09-14
申请人：財團法人國家實驗研究院
发明人：廖泰杉 , 陳佑杰 , 黃泰綸 , 周世傑
IPC分类号： G06F
摘要：本發明提供一種在做資料數位放大時有效節省時間的裝置與方法，其包含複數CMOS模擬開關，用以根據一增益倍數擷取該資料的一序列位元並放大該序列位元以獲得一放大資料。
简体摘要：本发明提供一种在做数据数码放大时有效节省时间的设备与方法，其包含复数CMOS仿真开关，用以根据一增益倍数截取该数据的一串行比特并放大该串行比特以获得一放大数据。

8. 实用新型

TWM366672U 不可見光之發光元件其輸出光束之檢測裝置失效
简体标题：不可见光之发光组件其输出光束之检测设备
公开(公告)号：TWM366672U
公开(公告)日：2009-10-11
申请号：TW098206489
申请日：2009-04-17
申请人：財團法人國家實驗研究院
发明人：廖泰杉 , 周世傑 , 陳永祥 , 林群富 , 黃泰綸 , 陳念祖 , 陳俊成 , 黃鼎名 , 魏子軒 , 林育全 , 陳建宏 , 翁睿謙 , 黃柏翔
IPC分类号： G01J
摘要：本創作係揭露一種不可見光之發光元件其輸出光束之檢測裝置，其包含一密閉殼體、一攝像器及一處理系統。密閉殼體內部係具有一反射層，反射層為一螢光材質。攝像器係連接密閉殼體一端，攝像器具有一鏡頭及一光感測元件。處理系統係連接攝像器。當不可見光之發光元件置於密閉殼體之一端時，藉由不可見光之發光元件其輸出之光束至反射層，使反射層將不可見光轉換為可見光，可見光再經由鏡頭聚焦至光感測元件，使光學之可見光轉換為數位訊號以輸入於處理系統中加以處理，以檢測不可見光之發光元件，其輸出光束外型之良窳。
简体摘要：本创作系揭露一种不可见光之发光组件其输出光束之检测设备，其包含一密闭壳体、一摄像器及一处理系统。密闭壳体内部系具有一反射层，反射层为一萤光材质。摄像器系连接密闭壳体一端，摄像器具有一镜头及一光传感组件。处理系统系连接摄像器。当不可见光之发光组件置于密闭壳体之一端时，借由不可见光之发光组件其输出之光束至反射层，使反射层将不可见光转换为可见光，可见光再经由镜头聚焦至光传感组件，使光学之可见光转换为数码信号以输入于处理系统中加以处理，以检测不可见光之发光组件，其输出光束外型之良窳。

9. 发明专利

TWI701454B 雷射測距與影像整合裝置有权
简体标题：激光测距与影像集成设备
公开(公告)号：TWI701454B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：TW108135157
申请日：2019-09-27
申请人：財團法人國家實驗研究院 , NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES
发明人：廖泰杉 , LIAO, TAI-SHAN , 李龍正 , LEE, LONG-JENG , 周世傑 , CHOU, SHIH-JIE , 翁俊仁 , WENG, CHUN-JEN
IPC分类号： G01S17/88

10. 发明专利

TW201128523A 嵌入式系統及其存取資料方法 EMBEDDED SYSTEM AND ACCESSING DATA METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：嵌入式系统及其存取数据方法 EMBEDDED SYSTEM AND ACCESSING DATA METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201128523A
公开(公告)日：2011-08-16
申请号：TW099103586
申请日：2010-02-05
申请人：財團法人國家實驗研究院
发明人：陳建宏 , 許家偉 , 林育全 , 林群富 , 黃泰綸 , 周世傑 , 蔡和霖 , 廖泰杉 , 黃吉宏
IPC分类号： G06F
摘要：本發明係揭露一種嵌入式系統，其中包含一記憶模組及一控制模組，該記憶模組包含一內嵌式記憶模組及一外接式記憶模組，其外接式記憶模組，用以擴充嵌入式系統之記憶體容量；該控制模組以16進制轉換法將資料儲存於記憶模組中，並以2進制轉換法從記憶模組中擷取資料並讀取，可大大節省控制模組存取資料時間。
简体摘要：本发明系揭露一种嵌入式系统，其中包含一记忆模块及一控制模块，该记忆模块包含一内嵌式记忆模块及一外置式记忆模块，其外置式记忆模块，用以扩充嵌入式系统之内存容量；该控制模块以16进制转换法将数据存储于记忆模块中，并以2进制转换法从记忆模块中截取数据并读取，可大大节省控制模块存取数据时间。

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