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1. 发明专利

TW282514B 測量相位差之電路配置失效
简体标题：测量相位差之电路配置
公开(公告)号：TW282514B
公开(公告)日：1996-08-01
申请号：TW084113932
申请日：1995-12-27
申请人：西門斯股份有限公司
发明人：羅納夫克萊馬
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R25/00 , G01R31/3185
摘要：一種測量相位差之電路配置，係用以測量參考信號(Ｒ)和時脈信號(Ｔ)間之相位差，此電路配置具有：
第一移位暫存器(１)，參考信號(Ｒ)位於其輪入端，且此第一移位暫存器受時脈信號(Ｔ)驅動，
數位微分器(２)，其連接於第一移位暫存器(１)之後，
計數器(３)，時脈信號(Ｔ)位於其輸入端且此計數器會產生多位元之二進位字元(Ｚ)，
中間記憶器(４)，其和計數器(３)及數位微分器(２)相連接，且在數位微分器(２)產生對應之輸出信號(Ｓ１)時，此中間記憶器可儲存計數器(３)輸出端之二進位字元(Ｚ)，
第二移位暫存器(５)，參考信號(Ｒ)位於其輸入端，且此第二移位暫存器受時脈信號(Ｔ)反相驅動，
類比微分器(６)，其輸入和數位微分器(２)之輸出相連接，
Ｄ型正反器(７)，其資料輸入(Ｄ)和第二移位暫存器(５)之輸出相連接且其時脈輸入(Ｃ)和類比微分器(６)之輸出相連接，Ｄ型正反器之輸出信號構成輸出二進位字元(Ｂ)之最低位元(ＬＳＢ)，其中輸出二進位字元(Ｂ)之較高位元(ＭＳＢs)由位於中間記憶器(４)輸出端之二進位字元而來。
简体摘要：一种测量相位差之电路配置，系用以测量参考信号(Ｒ)和时脉信号(Ｔ)间之相位差，此电路配置具有：第一移位寄存器(１)，参考信号(Ｒ)位于其轮入端，且此第一移位寄存器受时脉信号(Ｔ)驱动，数码微分器(２)，其连接于第一移位寄存器(１)之后，计数器(３)，时脉信号(Ｔ)位于其输入端且此计数器会产生多比特之二进制字符(Ｚ)，中间记忆器(４)，其和计数器(３)及数码微分器(２)相连接，且在数码微分器(２)产生对应之输出信号(Ｓ１)时，此中间记忆器可存储计数器(３)输出端之二进制字符(Ｚ)，第二移位寄存器(５)，参考信号(Ｒ)位于其输入端，且此第二移位寄存器受时脉信号(Ｔ)反相驱动，模拟微分器(６)，其输入和数码微分器(２)之输出相连接，Ｄ型正反器(７)，其数据输入(Ｄ)和第二移位寄存器(５)之输出相连接且其时脉输入(Ｃ)和模拟微分器(６)之输出相连接，Ｄ型正反器之输出信号构成输出二进制字符(Ｂ)之最低比特(ＬＳＢ)，其中输出二进制字符(Ｂ)之较高比特(ＭＳＢs)由位于中间记忆器(４)输出端之二进制字符而来。

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