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    • 4. 发明专利
    • 顯示器變形偵測
    • 显示器变形侦测
    • TW201327311A
    • 2013-07-01
    • TW101136135
    • 2012-09-28
    • 蘋果公司APPLE INC.
    • 渥卓 喬許亞 葛瑞WURZEL, JOSHUA GREY歐 戴爾 阿赫瑪AL-DAHLE, AHMAD畢亞飛BI, YAFEI
    • G06F3/041
    • G06F3/044G06F2203/04112
    • 所揭示實施例係關於一種顯示器變形偵測系統14,其基於電阻及/或電容之改變而偵測顯示器變形。在一實施例中,一種方法包括量測一基線,該基線包含安置於顯示面板12內或上覆於顯示面板12上的一導電網100之一基線電阻或一基線電容或一基線電阻與一基線電容兩者。該方法進一步包括:偵測該基線電阻或該基線電容或該基線電阻與該基線電容兩者之一改變;及計算發生該基線電阻或該基線電容或該基線電阻與該基線電容兩者之該改變的一改變位置。該方法亦包括計算該基線電阻或該基線電容或該基線電阻與該基線電容兩者之該改變的一量值。
    • 所揭示实施例系关于一种显示器变形侦测系统14,其基于电阻及/或电容之改变而侦测显示器变形。在一实施例中,一种方法包括量测一基线,该基线包含安置于显示皮肤12内或上覆于显示皮肤12上的一导电网100之一基线电阻或一基线电容或一基线电阻与一基线电容两者。该方法进一步包括:侦测该基线电阻或该基线电容或该基线电阻与该基线电容两者之一改变;及计算发生该基线电阻或该基线电容或该基线电阻与该基线电容两者之该改变的一改变位置。该方法亦包括计算该基线电阻或该基线电容或该基线电阻与该基线电容两者之该改变的一量值。