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2. 发明专利

TW201104235A 多層膜箱之洩漏測試 LEAK TESTING A MULTI-MEMBRANE TANK 审中-公开
简体标题：多层膜箱之泄漏测试 LEAK TESTING A MULTI-MEMBRANE TANK
公开(公告)号：TW201104235A
公开(公告)日：2011-02-01
申请号：TW099118277
申请日：2010-06-04
申请人：蓋茲運輸科技公司
发明人：葛洛瑞裘利安 , 奎茲珍馬克
IPC分类号： G01M
CPC分类号： G01M3/002 , G01M3/226
摘要：一種箱之洩漏測試之方法，該箱包括一承載結構(6)；一初級膜(8)，其用以與容納於該箱中之一產品接觸；及一次級膜(7)，其配置於該初級膜與該承載結構之間，其中該初級膜與該次級膜之間的空間稱作初級空間(10)且該次級膜與該承載結構之間的空間稱作次級空間(9)，該方法的特徵為其包括由以下各項組成之步驟：-將一第一氣體注入至該初級空間中，該第一氣體係不可冷凝或具有低於該初級膜之平均溫度的一冷凝溫度，-將一第二氣體注入至該次級空間中，該第二氣體具有高於該初級膜之該平均溫度的一冷凝溫度，-在該次級空間中產生一相對於該初級空間中之壓力係升高的壓力，及-偵測可能出現於該初級膜上之任何熱點(22)。
简体摘要：一种箱之泄漏测试之方法，该箱包括一承载结构(6)；一初级膜(8)，其用以与容纳于该箱中之一产品接触；及一次级膜(7)，其配置于该初级膜与该承载结构之间，其中该初级膜与该次级膜之间的空间称作初级空间(10)且该次级膜与该承载结构之间的空间称作次级空间(9)，该方法的特征为其包括由以下各项组成之步骤：-将一第一气体注入至该初级空间中，该第一气体系不可冷凝或具有低于该初级膜之平均温度的一冷凝温度，-将一第二气体注入至该次级空间中，该第二气体具有高于该初级膜之该平均温度的一冷凝温度，-在该次级空间中产生一相对于该初级空间中之压力系升高的压力，及-侦测可能出现于该初级膜上之任何热点(22)。

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