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    • 2. 发明专利
    • 定位記憶體錯誤發生位置的方法
    • 定位内存错误发生位置的方法
    • TW202022606A
    • 2020-06-16
    • TW107143030
    • 2018-11-30
    • 英業達股份有限公司INVENTEC CORPORATION
    • 陳金CHEN, JIN鮑凱BAO, KAI
    • G06F11/07G06F12/00
    • 本發明提供定位記憶體錯誤發生位置的方法,能精准地定位出記憶體錯誤發生的記憶體插條位置,包括:獲取記錄有記憶體錯誤的記憶體校正錯誤日誌檔,並從中提取記憶體錯誤對應的記憶體位址、MISC寄存器的值及錯誤類型。若通道上所接記憶體插條的數量大於1,則根據記憶體位址、MISC寄存器的值及錯誤類型計算得到記憶體錯誤對應的記憶體的系統位址。根據記憶體的系統位址計算得到記憶體錯誤對應的CPU位置和位於本地代理中的記憶體控制器位置,根據記憶體錯誤對應的記憶體的系統位址、記憶體錯誤對應的CPU位置和位於本地代理中的記憶體控制器位置計算得到記憶體錯誤對應的通道位置和通道位址,根據記憶體錯誤對應的通道位置和通道位址,計算得到記憶體錯誤對應的記憶體插條位置。
    • 本发明提供定位内存错误发生位置的方法,能精准地定位出内存错误发生的内存插条位置,包括:获取记录有内存错误的内存校正错误日志档,并从中提取内存错误对应的内存位址、MISC寄存器的值及错误类型。若信道上所接内存插条的数量大于1,则根据内存位址、MISC寄存器的值及错误类型计算得到内存错误对应的内存的系统位址。根据内存的系统位址计算得到内存错误对应的CPU位置和位于本地代理中的内存控制器位置,根据内存错误对应的内存的系统位址、内存错误对应的CPU位置和位于本地代理中的内存控制器位置计算得到内存错误对应的信道位置和信道位址,根据内存错误对应的信道位置和信道位址,计算得到内存错误对应的内存插条位置。