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1. 发明专利

TW316291B 對存在於樣品中之有意義的分析物進行結合分析之方法、裝置與分析試劑失效
简体标题：对存在于样品中之有意义的分析物进行结合分析之方法、设备与分析试剂
公开(公告)号：TW316291B
公开(公告)日：1997-09-21
申请号：TW081102075
申请日：1992-03-19
申请人：艾根股份有限公司
发明人：加利F.布萊克伯恩 , 哈里斯P.莎 , 約翰H.甘坦 , 約翰K.里蘭 , 理查J.瑪茲 , 傑克E.古德曼 , 喬治E.洛克
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/69 , C07H21/00 , C12Q1/6825 , G01N1/40 , G01N21/66 , G01N21/76 , G01N33/54313 , G01N33/54326 , G01N33/54366 , G01N33/5438 , G01N33/582 , G01N2458/30
摘要：本發明係揭露一對一存在於一樣品中之有意義的分析物進行結合分析之方法，其包含下述步驟：
(a)形成一組成物，其包含有:
(i) 該樣品，
(ii)一分析進行物質，其包含有一與一有能力誘導
發光之標記化合物連接的組成份，和
(iii)多個有能力與該分析物和／或該分析進行用物
質專一結合之顆粒；
(b)溫育該組合物，以形成一含有一顆粒與該標記化
合物之錯合物；
(c)應用下述任一種收集方法，在測量區收集該錯合
物：
(i)藉由重力來收集該錯合物；
(ii)藉由離心力來收集該錯合物；
(iii)藉由過濾方式來收集該錯合物；
(iv)藉由對該顆粒施加一磁場來收集該錯合物；
(d)藉由電化學發光現象而誘發在該錯合物中的標記
化合物發光；以及
(e)測量發射出之光，以測量出該樣品中該分析物之
存在量。
本發明亦揭露供用於進行本發明之方法的裝置與分析試劑。
简体摘要：本发明系揭露一对一存在于一样品中之有意义的分析物进行结合分析之方法，其包含下述步骤： (a)形成一组成物，其包含有: (i) 该样品， (ii)一分析进行物质，其包含有一与一有能力诱导发光之标记化合物连接的组成份，和 (iii)多个有能力与该分析物和／或该分析进行用物质专一结合之颗粒； (b)温育该组合物，以形成一含有一颗粒与该标记化合物之错合物； (c)应用下述任一种收集方法，在测量区收集该错合物： (i)借由重力来收集该错合物； (ii)借由离心力来收集该错合物； (iii)借由过滤方式来收集该错合物； (iv)借由对该颗粒施加一磁场来收集该错合物； (d)借由电化学发光现象而诱发在该错合物中的标记化合物发光；以及 (e)测量发射出之光，以测量出该样品中该分析物之存在量。本发明亦揭露供用于进行本发明之方法的设备与分析试剂。

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