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    • 9. 发明专利
    • 具有金屬閘極之半導體元件之製造方法
    • 具有金属闸极之半导体组件之制造方法
    • TW201347044A
    • 2013-11-16
    • TW101116571
    • 2012-05-09
    • 聯華電子股份有限公司UNITED MICROELECTRONICS CORP.
    • 賴建銘LAI, CHIEN MING黃瑞民HUANG, RAI MIN黃同雋HUANG, TONG JYUN許哲華HSU, CHE HUA陳奕文CHEN, YI WEN
    • H01L21/336H01L29/78
    • 一種具有金屬閘極之半導體元件之製造方法。於第一與第二半導體元件中分別形成第一與第二閘極溝渠。於第一與第二閘極溝渠中形成第一功函數金屬層。於基底上形成第一遮蔽層。進行第一次移除部分第一遮蔽層之步驟,使留下的第一遮蔽層位於第二閘極溝渠的底部並且填滿第一閘極溝渠。進行第二次移除部分第一遮蔽層之步驟,留下位於第一閘極溝渠底部的第一遮蔽層,使第二閘極溝渠以及第一閘極溝渠側壁的第一功函數金屬層裸露出來。移除未被第一遮蔽層覆蓋的第一功函數金屬層,只留下第一閘極溝渠底部的第一功函數金屬層。移除第一遮蔽層。
    • 一种具有金属闸极之半导体组件之制造方法。于第一与第二半导体组件中分别形成第一与第二闸极沟渠。于第一与第二闸极沟渠中形成第一功函数金属层。于基底上形成第一屏蔽层。进行第一次移除部分第一屏蔽层之步骤,使留下的第一屏蔽层位于第二闸极沟渠的底部并且填满第一闸极沟渠。进行第二次移除部分第一屏蔽层之步骤,留下位于第一闸极沟渠底部的第一屏蔽层,使第二闸极沟渠以及第一闸极沟渠侧壁的第一功函数金属层裸露出来。移除未被第一屏蔽层覆盖的第一功函数金属层,只留下第一闸极沟渠底部的第一功函数金属层。移除第一屏蔽层。